MS7000 常用语句

1、1 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testing 上海宏测半导体科技有限公司上海宏测半导体科技有限公司 MacroTest Semiconductor, Inc.MacroTest Semiconductor, Inc. MS7000 MS7000 常用语句常用语句 作者：王 骏 2 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Bette

2、r Choice for Your Testing l 加电压测加电压测电流电流（FVMFVMI I） l 加电流测电压（加电流测电压（FIMVFIMV） l 测量频率（测量频率（FoscFosc） l AWGAWG的的使用使用 l DCBLDCBL的的使用使用 l 扫描扫描 l 多级扫描多级扫描 l 断电断电(Poweroff)(Poweroff) l 良品分良品分BINBIN l 测量漏电流测量漏电流 3 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for You

3、r Testing void _stdcall FVMI_fun() double adresult10;/定义数组adresult10 OVI.OVISet(Bin,OVI_ForceV,1,OVI_2V,OVI_5mA,-5,5);/给“Bin”脚施加1V电压， 电压档位为2V，电流档位为5mA，电流范围限制为-55mA OVI.OVIAdcSet(Bin,OVI_Adc_I,10,10,FALSE);/在“Bin”脚采样，采样次数为10， 采样间隔为10，不开启Digitizer功能 delay(5);/延时5ms OVI.OVIMeasure(Bin,OVI_MeasureI,adre

4、sult,OVI_2V,OVI_5mA);/在“Bin”脚测量 电流，结果存到adresult数组中，电压档位为2V，电流档位为5mA OVI.OVISet(Bin,OVI_ForceOff);/关闭“Bin”脚OVI通道 AddTestResult(SITE_1,FVMV,adresult0);/在工位1上将adresult0中的数值显 示出来，显示名为FVMI 加电压测电流（FVMI） 4 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testin

5、g l 加电压测加电压测电流电流（FVMFVMI I） l 加电流测电压（加电流测电压（FIMVFIMV） l 测量频率（测量频率（FoscFosc） l AWGAWG的的使用使用 l DCBLDCBL的的使用使用 l 扫描扫描 l 多级扫描多级扫描 l 断电断电(Poweroff)(Poweroff) l 良品分良品分BINBIN l 测量漏电流测量漏电流 5 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testing void _stdcall

6、FIMV_fun() double adresult10;/定义数组adresult10 OVI.OVISet(Bin,OVI_ForceI,1,OVI_30V,OVI_5mA,-50,50);/给“Bin”脚施加1mA电 流，电压档位为30V，电流档位为5mA，电压范围限制为-5050V OVI.OVIAdcSet(Bin,OVI_Adc_V,10,10,FALSE);/在“Bin”脚采样，采样次数为10， 采样间隔为10，不开启Digitizer功能 delay(5);/延时5ms OVI.OVIMeasure(Bin,OVI_MeasureV,adresult,OVI_30V,OVI_5

7、mA);/在“Bin”脚测 量电压，结果存到adresult数组中，电压档位为30V，电流档位为5mA OVI.OVISet(Bin,OVI_ForceOff);/关闭“Bin”脚OVI通道 AddTestResult(SITE_1,FIMV,adresult0);/在工位1上将adresult0中的数值显 示出来，显示名为FIMV 加电流测电压（FIMV） 6 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testing l 加电压测加电压测电流电流

8、（FVMFVMI I） l 加电流测电压（加电流测电压（FIMVFIMV） l 测量频率（测量频率（FoscFosc） l AWGAWG的的使用使用 l DCBLDCBL的的使用使用 l 扫描扫描 l 多级扫描多级扫描 l 断电断电(Poweroff)(Poweroff) l 良品分良品分BINBIN l 测量漏电流测量漏电流 7 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testing void _stdcall Fosc() TMU.TMU_S

9、ET(Bin,TMU_FREQAN,10,1,TMU_10V,TMU_100K,TMU_FNONE);/设定TMU测量模式为测量 频率、采样次数为10、timeout时间为1ms、测量档位为100kHz、不用滤波 TMU.TMU_START(Bin,TMU_SLOP_NEG,0.5,0);/在“Bin”脚测量波形，下降沿0.5V位置开始触发 TMU.TMU_STOP(Bin,TMU_SLOP_NEG,0.5,0); /在“Bin”脚测量波形，下降沿0.5V位置结束触发 TMU.TMU_ARM(Bin);/“Bin”脚启动测量 delay(10);/延时10ms TMU.TMU_MTA(Bin,

10、TMU_FREQAN,1);/测量“Bin”脚测试频率数据，测量模式为1 AddTestResult(SITE_1,Fosc,TMU.GetPinResult(Bin);/在工位1上将“Bin”脚中的数值显 示出来，显示名为Fosc“ TMU.TMU_SET(“Bin”,TMU_OFF,10,1,TMU_10V,TMU_100K,TMU_FNONE);/关闭“Bin”脚TMU通道 测量频率（Fosc） 8 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your

11、Testing l 加电压测加电压测电流电流（FVMFVMI I） l 加电流测电压（加电流测电压（FIMVFIMV） l 测量频率（测量频率（FoscFosc） l AWGAWG的的使用使用 l DCBLDCBL的的使用使用 l 扫描扫描 l 多级扫描多级扫描 l 断电断电(Poweroff)(Poweroff) l 良品分良品分BINBIN l 测量漏电流测量漏电流 9 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testing void _st

12、dcall UserInit()/在UserInit()中下载波表文件 double mcode4096;/定义数组mcode4096 double pi2=8*atan(double)1); AWG.ChnInit(AWG);/在“AWG”脚初始化AWG通道 for (int i=0;i=1;i=i-0.02)/从i=1.5开始递减，每次递减0.02，直到为i=1 OVI.OVISet(Bin1,OVI_ForceV,i,OVI_2V,OVI_5mA,-5,5);/在Bin1脚输出i的电压 delay(5);/延时5ms DVI.DVIMeasureA(Bin2,DVI_MeasureV,D

13、VI_8V,DVI_50mA);/在Bin2脚测量 result1=DVI.GetPinResult(Bin2);/将Bin2脚测量结果赋给result1 if(result1=1;i1=i1-0.1)/从i1=1.5开始递减，每次递减0.02，直到为i1=1 OVI.OVISet(Bin1,OVI_ForceV,i1,OVI_2V,OVI_5mA,-5,5);/在Bin1脚输出i1的电压 delay(5);/延时5ms DVI.DVIMeasureA(Bin2,DVI_MeasureV,DVI_8V,DVI_50mA);/在Bin2脚测量 result1=DVI.GetPinResult(B

14、in2);/将Bin2脚测量结果赋给result1 if(result1=1;i2=i2-0.02)/从i2=result0+0.1开始递减，每次递减0.0 2，直到为i2=1 OVI.OVISet(Bin1,OVI_ForceV,i2,OVI_2V,OVI_5mA,-5,5);/在Bin1脚输出i2的电压 delay(5);/延时5ms DVI.DVIMeasureA(Bin2,DVI_MeasureV,DVI_8V,DVI_50mA);/在Bin2脚测量 result3=DVI.GetPinResult(Bin2);/将Bin2脚测量结果赋给result1 if(result3=10/re

15、sult0在30到40范围内分在软件BIN3 /result0在超出范围不写，默认分在函数失效设置的软件BIN中 23 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testing l 加电压测加电压测电流电流（FVMFVMI I） l 加电流测电压（加电流测电压（FIMVFIMV） l 测量频率（测量频率（FoscFosc） l AWGAWG的的使用使用 l DCBLDCBL的的使用使用 l 扫描扫描 l 多级扫描多级扫描 l 断电断电(Powero

16、ff)(Poweroff) l 良品分良品分BINBIN l 测量漏电流测量漏电流 24 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testing 测量漏电流 void Ileak_fun() FHVI.FHVISet(FHVI,FHVI_ForceV,800,FHVI_1000V,FHVI_3P2uA,-0.003,-0.003);/在FHVI脚输 出800V的电压 FHVI.FHVIAdcSet(FHVI,FHVI_Adc_I,100,10);/在FHVI脚采样设置 delay(5);/延时5ms FHVI.FHVIMeasure(FHVI,FHVI_MeasureI,adResult,FHVI_1000V,FHVI_3P2uA);/将FHVI脚测量 结果赋给数组adResult FHVI.FHVISe