对PLD进行边界扫描JTAG故障诊断

1、对 PLD 进行边界扫描（ JTAG）故障诊断摘要： 结合自适应算法、 CX-TB 导通测试算法以及二进制计数测试序列，给出了用软件控制 EPM9320LC84边界扫描链路，以输出图形并采集引脚对图形的响应，然后通过比较输出测试图形 与采集测试图形的差异实现芯片I O引脚印刷电路板故障的诊断方法。该测试图形便于实现，测试方法快捷、通用性强，诊断结果准确，故障覆盖率高。 文中在以机作为边界扫描测试向 量生成和故障诊断的基础上，对单芯片EPM9320LC84的印刷电路板故障诊断进行了一些讨论。关键词： 边界扫描；故障诊断；测试图形IEEE 1149.1 标准规定的边界扫描技术是针对复杂数字电路而制

2、定的。标准中的自治测试技术现 已成为数字系统可测性设计的主流。 在利用边界扫描技术对芯片印刷电路板进行测试时， 单芯片 与多芯片电路板虽有相同点， 但也有不同点。 因为多芯片的电路板可以将几个芯片分别作为测试 向量进行发送和接收， 而单芯片电路板则只需要一个集发送、 接收于一体的芯片。 本文在以 机作为边界扫描测试向量生成和故障诊断的基础上， 对单芯片的印刷电 路板故障诊断进行了讨论。 的结构和性能 主要性能是公司生产的器件，它的主要性能如下： 内含边界扫描测试电路。在电源条件下，接口可编程。所有的均可在或电源下工作，并且在引脚处都有输入输出寄存器。 开发系统可提供软件设计支持， 该开发系统可

3、工作在 机、 奔腾机、 工作站、 系列工作站、 系统或 工作站上。利用、 、和其它软件可通过工具（如 ）提供仿真支持。 管脚说明图是的引脚图，其功能如下：、：芯片电源端。 : 芯片地端：输入输出引脚。 : 专用输入引脚。，：分别为时钟测试和测试模式选择端。：测试模式选择端。， 分别为测试数据输入、输出端其中，、为边界扫描接口，它们和芯片内部的边界扫描 寄存器 个数据捕获寄存器， 个数据更新寄存器， 一个指令捕获寄存器， 一个指令 更新寄存器 链形成的边界扫描结构一起可用于芯片内部和外部测试。 测试系统配置把 下载电缆连到机的打印并口可实现机并口与接口 的互连。机可用软件来控制边界扫描接口以完成

4、边界扫描测试任务。利用语言可编写应用程序 （内容主要包括： 控制类、 测试向量生成、 发送、 采集类、故障诊断类等） 以达到人机交互、故障诊断、数据管理三个方面的要求。 数据发送与数据采集 数据发送通过模式发送数据时。 可在移位阶段将捕获寄存器的数据移出， 同时将测试图形移 入。而在更新阶段， 测试图形从捕获寄存器传送到更新寄存器， 再由更新寄存器驱动测试信号并 将其输出至引脚。 对于单芯片电路板来说， 无论是输入引脚， 还是在引脚发送测试图形时， 其控制三态均应为输出状态，即令更新寄存器为。 数据采集数据采集的目的是得到引脚对测试图形的响应。 如果引脚正确， 输出的测试图形就等于采集到的 测

5、试图形，如果引脚出现故障，两者必有差异。由于采集到的测试数据就是故障诊断的依据， 所 以能否正确、 合理地采集到数据是数据采集的关键。 单芯片电路板不像多芯片那样利用 模式采集数据，而是仍旧利用模式来采集数据。图是利用模式采集数据的原理图。 门状态， 以使电路板上三态输入引脚为高阻状态， 引脚的实际状态， 而不是引脚对输出测试图形的响应， 试图形以用于故障诊断。在捕获阶段， 由和来控制三态 三态输出引脚为输出状态。 由于采集的数据是 故用模式不能正确地采集测图是利用模式在捕获阶段进行数据采集的示意图，更新寄存器控制， 而这两个寄存器的数值是发送测试图形时的值， 的数据即为引脚对测试图形的响应，

6、可以满足采集要求。图中的三态门受、 三态有效。 所以它所采集 测试算法电路板常见故障模型有呆滞型故障、 固定开路故障和短路故障。 为了消除误判和混淆故障及提高 诊断速度，可在算法上结合电路结构对自适应算法和导通测试算法以及二进制计数测 试序列进行改进，以对引脚全部的短路故障、呆滞故障进行完备诊断。具体步骤如下：（）引脚分类电路图中的引脚可分为输入、输出、输入输出、空闲、专用输入、地电源、几类。由于 专用输入引脚边界扫描结构没有更新寄存器， 所以测试图形无法输出到引脚 因此不能用此方法 测试。而地电源引脚、引脚不带有边界扫描结构所以也不能测试。 故此， 真正能进行测试 的引脚只有前四类。可令等于

7、前四类引脚数目的总和。（）生成测试向量按照引脚号对前四类引脚进行从小到大排序， 序号为： 到， 然后计算 （ ） 的值， 再根据有余进一的原则算出并行测试向量个数。 为避免出现误判， 可从开 始进行二进制计数，以形成测试向量，其行数为，列数为。）发送测试向量）采集测试结果 （） 添加测试图形 比较测试序列与采集到的结果，确定异常行（总数）。为避免混淆和误判故障，可进一步添加个为全或全码的测试图形。（）故障诊断 该算法具有故障定位准确，测试周期短，测试效率高等特点。 故障诊断由于芯片采用工艺制作， 因此， 它的引脚与地、 电源短路分别 归为呆滞于和呆滞于；器件引脚悬空也归为呆滞于。其引脚互连测试

8、图形是“与”逻辑。 具体诊断时，可比较输出测试图形与采集测试图形的差异，相同即为正常行，不同则为异常行。诊断过程如下： 若异常行和正常行的测试向量相同， 则添加测试图形令异常行并行测试向量为全， 其余行测 试向量为全，而对于发送、采集添加的测试向量， 若正常行采集结果为全， 则正常行与异常 行对应引脚互连。否则必有其它脚与异常行对应脚互连。如果异常行向量是全，判断异常行对应引脚呆滞于 如果异常行向量为全， 则可添加测试图形令所有测试向量为全， 同时发送、 采集添加的测 试向量， 此时若异常行测试结果为全， 则异常行对应引脚呆滞于。 否则必有其它脚与该异常 行对应引脚互连。如果两个异常行测试向量相同且为全， 则可添加测试图形以令所有测试向量为全， 同时发 送、采集添加的测试向量，如果异常行为全，则异常行对应引脚呆滞于； 如果测试结果是两 行都为全， 则添加测试图形令两个异常行测试向量分别为全和全， 其余向量为全， 再一 次发送、采集添加的测试向量，如果采样结果是两个异常行为全，则两异常行对应引脚互连； 否则两异常行对应引脚无关，必有其它引脚与异常行对应引脚互连。如果两个异常行测试向量相同，且既非全又非全，则两异常行对应引脚互连。 结束语利用芯片边界扫描结构， 采用