Genie2000培训教程LYNX1111学习教案

1、会计学1Genie2000培训教程培训教程LYNX11111、Genie 2000软件安装软件安装2、Genie 2000定义和装载硬件定义和装载硬件3、Genie 2000核素库编辑功能核素库编辑功能4、Genie 2000证书文件编辑功能证书文件编辑功能5、Genie 2000谱获取和分析基本操作谱获取和分析基本操作6、LabSOCS/ISOCS无源效率刻度无源效率刻度7、Genie 2000软件质量保证软件的应用软件质量保证软件的应用第1页/共202页Genie 2000软件安装软件安装第2页/共202页第3页/共202页第4页/共202页第5页/共202页第6页/共202页第7页/共2

2、02页第8页/共202页第9页/共202页第10页/共202页第11页/共202页第12页/共202页第13页/共202页第14页/共202页第15页/共202页第16页/共202页Genie 2000定义和装载硬件定义和装载硬件第17页/共202页第18页/共202页第19页/共202页编辑定义LYNX （2） n选择通讯接口（例如：选择通讯接口（例如：Network MCAs)第20页/共202页n点击点击USB前面的前面的+，得到下图界面，选择其中的，得到下图界面，选择其中的Lynx MCA，点击点击Add和和Done。编辑定义LYNX （3）第21页/共202页n从从Devices下拉

3、菜单中选择下拉菜单中选择MCA编辑定义LYNX （4）第22页/共202页n 在在Device IP Address栏输入仪器的地址，点击栏输入仪器的地址，点击OK编辑定义LYNX （5）第23页/共202页第24页/共202页第25页/共202页第26页/共202页第27页/共202页第28页/共202页第29页/共202页第30页/共202页第31页/共202页第32页/共202页第33页/共202页第34页/共202页Genie 2000核素库编辑功能核素库编辑功能第35页/共202页第36页/共202页第37页/共202页第38页/共202页第39页/共202页第40页/共202页第4

4、1页/共202页第42页/共202页第43页/共202页第44页/共202页第45页/共202页Genie 2000证书文件编辑功能证书文件编辑功能第46页/共202页第47页/共202页第48页/共202页第49页/共202页第50页/共202页第51页/共202页第52页/共202页第53页/共202页第54页/共202页第55页/共202页Genie 2000谱获取和分析基本操作谱获取和分析基本操作第56页/共202页基本操作内容n硬件（硬件（LYNX）的控制）的控制n显示界面调整显示界面调整n参数预置和谱获取参数预置和谱获取n谱仪能量刻度谱仪能量刻度n谱仪效率刻度谱仪效率刻度n谱分析谱

5、分析n谱存储谱存储第57页/共202页第58页/共202页第59页/共202页第60页/共202页硬件(LYNX)的控制（1）n选择选择GAA界面中界面中MCA下拉菜单中的下拉菜单中的Adjust第61页/共202页硬件(LYNX)的控制（2 2）n加载高压，输入高压值加载高压，输入高压值(Voltage)，选择选择On第62页/共202页硬件(LYNX)的控制（3 3）n 选择增益选择增益Gain粗调粗调(Coarse gain) 细调细调(Fine gain) 第63页/共202页硬件(LYNX)的控制（4 4）n选择滤波常数选择滤波常数(Filter)设置设置第64页/共202页n确省设

6、置确省设置GAA界面界面第65页/共202页显示界面调整(2)(2)n选择选择GAA界面中界面中Display下拉菜单中的下拉菜单中的Preferences第66页/共202页显示界面调整(3)(3) n编辑谱显示窗口的颜色编辑谱显示窗口的颜色第67页/共202页显示界面调整显示界面调整(4)(4)n编辑坐标编辑坐标第68页/共202页显示界面调整显示界面调整(5)(5)n编辑谱线显示方式编辑谱线显示方式第69页/共202页显示界面调整显示界面调整(6)(6)n编辑能量单位编辑能量单位第70页/共202页显示界面调整显示界面调整(7)(7)n编辑界面更新速率编辑界面更新速率第71页/共202页

7、显示界面调整显示界面调整( (8)8)n编辑显示峰信息编辑显示峰信息第72页/共202页显示界面调整显示界面调整( (9)9)n编辑编辑MCA信息栏信息栏第73页/共202页显示界面调整显示界面调整(8)(8)n编辑后的显示界面编辑后的显示界面第74页/共202页n选择选择MCA中的中的Acquire Setup第75页/共202页n预置测量时间预置测量时间(Time Preset)和时间单位和时间单位第76页/共202页n或者预置谱计数或者预置谱计数(Computational Preset)参数预置和谱获取（3）第77页/共202页n点击点击Start或者或者Acquire Start工具

8、靶，获取谱工具靶，获取谱参数预置和谱获取（4）第78页/共202页谱仪能量刻度前准备工作（谱仪能量刻度前准备工作（1）n在谱仪能量刻度之前，必须进行以下工作：在谱仪能量刻度之前，必须进行以下工作：n创建标准源证书文件创建标准源证书文件(.ctf)n获取标准源的谱数据获取标准源的谱数据n谱寻峰谱寻峰(Peak Locate)分析分析n峰面积峰面积(Peak Area)分析分析第79页/共202页谱仪能量刻度前准备工作（谱仪能量刻度前准备工作（2）n选择选择Analyze中中Peak Locate的的Unidentified 2nd Diff第80页/共202页谱仪能量刻度前准备工作（谱仪能量刻度

9、前准备工作（3）n谱寻峰谱寻峰(Peak Locate)分析参数设置分析参数设置第81页/共202页谱仪能量刻度前准备工作（谱仪能量刻度前准备工作（4）n选择选择Analyze中中Peak Area的的Sum/Non-Linear LSQ Fit第82页/共202页谱仪能量刻度前准备工作（谱仪能量刻度前准备工作（5）n峰面积峰面积(Peak Area)分析参数设置分析参数设置第83页/共202页谱仪能量刻度前准备工作（谱仪能量刻度前准备工作（5）n峰面积峰面积(Peak Area)分析参数设置分析参数设置第84页/共202页寻峰和峰面积分析后的谱寻峰和峰面积分析后的谱第85页/共202页谱仪能

10、量刻度（谱仪能量刻度（1）n点击点击Calibrate中的参数设置中的参数设置Setup第86页/共202页谱仪能量刻度（谱仪能量刻度（2）n高纯锗高纯锗(HPGe)探测器刻度参数，确认后点击探测器刻度参数，确认后点击OK第87页/共202页谱仪能量刻度（谱仪能量刻度（3）nNaI(Tl)探测器刻度参数，确认后点击探测器刻度参数，确认后点击OK第88页/共202页谱仪能量刻度（谱仪能量刻度（4）n选择选择Calibrate中中Energy Full的的By Certificate File 第89页/共202页谱仪能量刻度（谱仪能量刻度（5）n选择证书文件，点击选择证书文件，点击Open第90

11、页/共202页谱仪能量刻度（谱仪能量刻度（6）n根据谱线对应的峰，点击根据谱线对应的峰，点击Cursor，n相关数据自动输入对话框相关数据自动输入对话框第91页/共202页谱仪能量刻度（谱仪能量刻度（7）n输入输入第一个第一个和和第二个第二个能量峰的数据，点击能量峰的数据，点击Show第92页/共202页谱仪能量刻度（谱仪能量刻度（8）n确认后，点击确认后，点击OK第93页/共202页谱仪能量刻度（谱仪能量刻度（9）n点击点击Auto，其它能量峰数据自动输入其它能量峰数据自动输入n点击点击Show第94页/共202页谱仪能量刻度（谱仪能量刻度（10）n确认后点击确认后点击OK，根据需要可选择根

12、据需要可选择2nd多项式多项式第95页/共202页谱仪能量刻度（谱仪能量刻度（11）n回到回到GAA界面，点击存储靶，即可存储刻度结果界面，点击存储靶，即可存储刻度结果第96页/共202页谱仪效率刻度（谱仪效率刻度（1）n选择选择Calibrate中中Efficiency的的By Certificate File第97页/共202页谱仪效率刻度（谱仪效率刻度（2）n选择刻度文件，点击选择刻度文件，点击Open第98页/共202页谱仪效率刻度（谱仪效率刻度（3）n点击点击Auto第99页/共202页谱仪效率刻度（谱仪效率刻度（4）n点击点击Show第100页/共202页谱仪效率刻度（谱仪效率刻度

13、（5）n确认后，点击确认后，点击OK第101页/共202页谱仪效率刻度（谱仪效率刻度（6）n回到回到GAA界面，点击存储靶，即可存储刻度结果界面，点击存储靶，即可存储刻度结果第102页/共202页谱仪效率刻度（谱仪效率刻度（6）n选择选择Calibrate中中Store,存储刻度文件。存储刻度文件。第103页/共202页谱仪效率刻度（谱仪效率刻度（6）n选择选择Calibrate中中Store,存储刻度文件。方便以后调用。存储刻度文件。方便以后调用。第104页/共202页编辑样品信息（编辑样品信息（1）n在存储谱文件之前，选择在存储谱文件之前，选择Edit中中Sample Info.,编辑样品

14、信息。编辑样品信息。第105页/共202页编辑样品信息（编辑样品信息（2）n输入完样品信息之后，点输入完样品信息之后，点Load Cal,调用合适的效率刻度文件。调用合适的效率刻度文件。第106页/共202页调用效率刻度文件（调用效率刻度文件（1）n输入完样品信息之后，点输入完样品信息之后，点Load Cal,调用合适的效率刻度文件。调用合适的效率刻度文件。第107页/共202页谱存储（谱存储（1）n选择选择File中的中的Save As第108页/共202页谱存储（谱存储（2）n输入文件名和描述，点击输入文件名和描述，点击Save第109页/共202页谱分析（谱分析（1）n谱分析的基本步骤（

15、谱分析的基本步骤（Analyze菜单菜单）：）：n寻峰寻峰(Peak Locate) B1/B5n峰面积峰面积(Peak Area) C1n本底扣除修正本底扣除修正(Area Correction) D1n效率修正效率修正(Efficiency Correction) E1n核素识别核素识别(NID) F2n分析报告分析报告(Report) K1第110页/共202页谱分析（谱分析（2）n寻峰寻峰(Peak Locate)推荐参数推荐参数Unidentified 2nd Diff第111页/共202页谱分析（谱分析（3）n寻峰寻峰(Peak Locate)推荐参数推荐参数Unidentifie

16、d 2nd Diff第112页/共202页谱分析（谱分析（4）n寻峰寻峰(Peak Locate)推荐参数推荐参数library(simple)第113页/共202页谱分析（谱分析（5）n寻峰寻峰(Peak Locate)推荐参数推荐参数library(simple)第114页/共202页谱分析（谱分析（6）n峰面积峰面积(Peak Area)推荐参数推荐参数Sum/Non-Linear Least Squares Fit Peak Area第115页/共202页谱分析（谱分析（7）n峰面积峰面积(Peak Area)推荐参数推荐参数Sum/Non-Linear Least Squares F

17、it Peak Area第116页/共202页n峰面积峰面积(Peak Area)分析参数设置分析参数设置谱分析（谱分析（8）第117页/共202页谱分析（谱分析（9）n本底修正本底修正(Area Correction)，推荐，推荐 Std. Bkg. Substract.。第118页/共202页谱分析（谱分析（10）n本底修正本底修正(Area Correction) ，点击，点击Select，选择本底谱。选择本底谱。第119页/共202页谱分析（谱分析（11）n本底谱的寻峰和峰面积分析方法必须与样品谱一致本底谱的寻峰和峰面积分析方法必须与样品谱一致n何时需要做本底修正？何时需要做本底修正？

18、第120页/共202页谱分析（谱分析（12）n效率修正效率修正(Efficiency Correction)第121页/共202页谱分析（谱分析（13）n效率修正效率修正(Efficiency Correction)推荐参数推荐参数第122页/共202页谱分析（谱分析（14）n核素识别核素识别(NID)推荐推荐 NID w/Interf. corr第123页/共202页谱分析（谱分析（15）n核素识别核素识别(NID)推荐推荐 NID w/Interf. corr第124页/共202页谱分析（谱分析（16）n分析报告推荐包括：分析报告推荐包括：Header和和NID_Intf部分部分第125页

19、/共202页谱分析（谱分析（17）n分析报告推荐包括：分析报告推荐包括：Header和和NID_Intf部分部分第126页/共202页谱分析（谱分析（18）n分析报告推荐包括：分析报告推荐包括：Header和和NID_Intf部分部分第127页/共202页谱分析（谱分析（23）n最小探测限最小探测限(MDA) Currie MDA.第128页/共202页谱分析（谱分析（23）n最小探测限最小探测限(MDA) Currie MDA.第129页/共202页谱分析（谱分析（23）n最小探测限最小探测限(MDA) Currie MDA.第130页/共202页谱分析（谱分析（18）n谱分析批处理编辑谱分

20、析批处理编辑n选择选择Edit中中Analysis Sequence第131页/共202页谱分析（谱分析（19）n插入分析步骤插入分析步骤(Insert Step)n已编辑好的内容已编辑好的内容第132页/共202页谱分析（谱分析（20）n点击点击Store，存储存储第133页/共202页谱分析（谱分析（21）n输入文件名及描述，点击输入文件名及描述，点击OK，存储存储第134页/共202页谱分析（谱分析（22）n从从Analyze的的Execute Sequence中可随时调用中可随时调用Basic_Analysis第135页/共202页第136页/共202页Genie 2000无源效率刻度软件无源效率刻度软件第137页/共202页第138页/共202页LabSOCS无源效率无源效率刻度刻度u针对每个探测器u采用NIST多能量标准源在7个位置刻度u采用MCNP方法计算，并用标准源实际测量确认uMCNP方法计算拓展应用范围：0-500m4立体角45-7000keV第139页/共202页6.0%150400keV4.3% 4007000keV第140页/共202页第141页/共202页