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文档简介

1、成绩：教师评语、实验目的及要求（1）理解ttl集成与非门的逻辑功能。（2）掌握ttl集成逻辑门主要参数的测量方法。（3）掌握集成逻辑电路相互衔接时应遵循的规则和实际衔接方法。二、实验原理与内容实验采用的二输入四与非门74ls00为一块集成块内含有四个相互独立的与非门，每个与非门 有两个输入端。其引脚排列与图形符号如图11所示。74lsoo 匚)&vcc 4b 4a 4y 3b 3x 3y向冋回向冋回囘图1-1 74ls00外引脚排列图1. 与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能为：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输 入端全部为高电平时，输出端才是低电平，即有“0”

2、得“1”，全“1”得“0”。其逻辑表达式为： y=abottl集成与非门的主要参数有输出高电平von、输出低电平v（）l、扇岀系数n（）、电压传输特性 和平均传输延迟时i'可tpd等。（1）ttl i' j电路的输出高电平vohvon是与非门有一个或多个输入端接地或接低电平时的输出电压值，此时与非工作管处于截止 状态。空载时，von的典型值为3.43.6v,接有拉电流负载时，v（*下降。（2）ttl h电路的输出低电平volvol是与非门所有输入端都接高电平时的输出电压值，此时与非工作管处于饱和导通状态。空 载时，它的典型值约为0.2v,接有灌电流负载时，vol将上升。(3)

3、ttl |'1电路的电压传输特性门的输出电压v。随输入电压vi而变化的曲线v尸f (v»称为门的电压传输特性，通过它可读 得门电路的一些重要参数，如输出高电平voh、输出低电平vol、关门电平voff开门电平v°n等值。 测试电路如图12所示，采用逐点测试法，即调节r、v，逐点测得"及v。，然后绘成曲线。图1-2电压传输特性测试电路三、实验软硬件环境1、数字逻辑电路实验箱。2、芯片 74ls00o3、5k, 100q, 200q, 500q, 1k 电阻；ik, 10k 可调电阻。4、数字万用表。四、实验过程(实验步骤、记录、数据、分析)1、在thd-2型

4、实验箱适当位置选取一个14p插座，按定位标记插好74ls00集成块，插座的第 7脚接上实验箱的地(gnd),第14脚接上电源(vcc),与非门逻辑功能测试电路按实验 电路图47接线。注意：接线前先将实验箱左上角的总电源开关断开。门的两个输入端接 逻辑开关输出插口，开关向上提供逻辑电平“1”，开关向下提供逻辑电平“0”。门的输出 端接由led发光二极管组成的逻辑电频显示器的显示插口，led亮为逻辑“1”，不亮为逻 辑 “0”。与非门真值表输入输出anbny|000110112、按照实验原理第一、二部分用万用表测出ttl n电路的输出高电平voh，输出低电平vol。 并记录在表1vohvol3、按图12所示连线，调节电位器rw，使m从0v向高电平变化，逐点测量vi和v。,将结果 记入下表屮。然后根据表屮数据绘成曲线。vi00.20.40.60.80.91.01.11.21.52.0

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