实验一(1)、基本逻辑门及其应用

1、实验一（实验一（1）、基本逻辑门及其应用）、基本逻辑门及其应用一、实验目的一、实验目的1.掌握验证逻辑门电路功能的方法。掌握验证逻辑门电路功能的方法。2.学习基本门电路的应用。学习基本门电路的应用。3.掌握逻辑门多余输入端的处理方法。掌握逻辑门多余输入端的处理方法。二、设计任务与要求二、设计任务与要求 1.基本内容基本内容 （1）测试与非门）测试与非门74LS00的逻辑功能的逻辑功能 （2）用与非门）用与非门74LS00、或非门、或非门74LS02和与或和与或非门非门74LS51各自实现相应的逻辑功能各自实现相应的逻辑功能 2.扩展内容扩展内容 用异或门用异或门74LS86设计一个设计一个4位

2、二进制数取位二进制数取反电路。要求画出逻辑电路，列出功能表，反电路。要求画出逻辑电路，列出功能表，并通过实验验证。并通过实验验证。（1 1）多余输入端与有用的输入端并联使用。多余输入端与有用的输入端并联使用。（2 2）多余输入端接高电平或通过串接限流电阻多余输入端接高电平或通过串接限流电阻 接高电平。接高电平。三、实验原理三、实验原理1.与门、与非门与门、与非门电路电路多余输入端的处理方法多余输入端的处理方法图图1 与门、与非门多余输入端的处理方法与门、与非门多余输入端的处理方法（1 1）多余输入端与有用的输入端并联使用。多余输入端与有用的输入端并联使用。（2 2）多余输入端接低电平或接地。多

3、余输入端接低电平或接地。2.或门、或非门的多余输入端的处理方法或门、或非门的多余输入端的处理方法 三、实验原理三、实验原理图图2 或门、或非门的多余输入端的处理方法或门、或非门的多余输入端的处理方法1. 电子技术综合实验仪电子技术综合实验仪2. 数字万用表数字万用表3. 集成电路：集成电路： 74LS00（与非门）（与非门） 74LS02（或非门）（或非门） 74LS51（与或非门）（与或非门） 四、实验仪器、设备与器件四、实验仪器、设备与器件五、实验内容与步骤五、实验内容与步骤 1.基本内容基本内容 （1）测试与非门）测试与非门74LS00的逻辑功能的逻辑功能 选中一选中一个个逻辑门，将输入

4、端接开关，输出端逻辑门，将输入端接开关，输出端接发光二极管。用数字万用表测试输出端高接发光二极管。用数字万用表测试输出端高低电平电压值。低电平电压值。+5V（2）用与非门实现逻辑函数）用与非门实现逻辑函数 设计出用设计出用74LS00实现表实现表1逻辑功能的逻辑图。逻辑功能的逻辑图。 在实验仪上验证设计出的在实验仪上验证设计出的逻辑功能。逻辑功能。 将输入端接逻辑开关，输将输入端接逻辑开关，输出端接发光二极管，通过出端接发光二极管，通过发光二极管的状态观察输发光二极管的状态观察输出状态。出状态。五、实验内容与步骤五、实验内容与步骤表表1 数据表数据表A B CF0 0 00 0 10 1 00

5、 1 11 0 01 0 11 1 01 1 100010011A010001111000001011BC利用卡若图化简F=AB+BC= AB +BC= AB BC&1 234 569 108FACB（3）用或非门实现逻辑函数）用或非门实现逻辑函数 设计出用设计出用74LS02实现表实现表1逻辑功能的逻辑逻辑功能的逻辑图。注意多余输入端的处理。图。注意多余输入端的处理。 在实验仪上验证逻辑功能。在实验仪上验证逻辑功能。 将输入端接逻辑开关，输出端接发光二将输入端接逻辑开关，输出端接发光二极管，通过发光二极管的状态来观察输出状极管，通过发光二极管的状态来观察输出状态，将实验结果填入表态，

6、将实验结果填入表2中。中。 （4） 用与或非门实现逻辑函数用与或非门实现逻辑函数 画出用画出用74LS51实现表实现表1逻辑功能的逻辑图。逻辑功能的逻辑图。 在实验仪上验证逻辑功能。注意多余输入端在实验仪上验证逻辑功能。注意多余输入端的处理的处理 A B CF0 0 00 0 10 1 00 1 11 0 01 0 11 1 01 1 1表表2 实验结果数据表实验结果数据表A B CF0 0 00 0 10 1 00 1 11 0 01 0 11 1 01 1 1表表3 实验结果数据表实验结果数据表六、实验报告要求六、实验报告要求1. 实验目的。实验目的。2. 简述实验原理。简述实验原理。3. 实验内容和步骤、各实验的逻辑表达式及实验内容和步骤、各实验的逻辑表达式及电路原理图。电路原理图。4. 对实验结果进行分析。对实验结果进行分析。5. 思考题。思考题。七、思考题七、思考