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文档简介
1、对LM-80-08的理解深圳市迈昂科技有限公司陈云明对于IES LM-80-08这一标准,目前国内有很多专家都做过讲解,我也有幸 得以聆听学习,受益非浅。但在学习过程中,也经常发现,不同的专家,对于相 同的概念,相同的测试条件都有不同的理解。 这就给我造成了很多困惑:到底哪 一个才是标准想表达的呢?所以在此,我想把目前我所碰到的几个疑惑点列出来,抛砖引玉,说说我的 看法,供大家参考,不对之处,恳请各位批评指正。1 本标准的适用范围IES LM-80-08标准原文如下:This document provides the methods of the measurementof lumen ma
2、intenance of sources in cludi ng LED packages, arrays and modules only.在3.2节有对光源的定义:LED package, array, or module that is operated via an auxiliary driver.我的理解是该标准只适用于LED器件,LED阵列,或带有驱动器的LED莫块。显 然,这里面不应该包括LED灯具,或带有二次配光的LED产品。但通常我们会在 最后半句话产生分歧:到底什么样的产品才是带有辅助驱动器的LED模块?由于IES LM-80-08对于LED光源做寿命老化时,要求监控其壳
3、温,而且是用热 电偶附着在Ts点测量,即用一点的温度来衡量整颗 LED的热状态,所以我的理 解为:驱动器必须与LED紧紧的结合在一起,并且其热特性与LED致,可以把 驱动器与LED看成是一个独立的产品。这样通过测量 Ts点的温度,即可以得知 整颗LED模块的发热状态,从而得出控制参数和评判依据。有的人认为驱动器是独立于LED模块而存在,即两者分离,我不太同意这一观点。2 壳温TsIES LM-80-08标准原文如下:3.7 Case Temperature, (Ts)Ts is the temperature of the thermocouple attachment point on th
4、e LEDlight source package as defi ned by the manu facturer of the package.字面含义是:壳温Ts为热电偶附着于LED光源某点所测得的温度,而这一点由 生产厂家指定。关键的问题就出在:生产厂家怎么指定某一点?这一点需要符合哪些条件才 能被指定为Ts点呢?我的理解为:这一点相对于整颗 LED必须有足够的热特性代表性,即通过 测量这一点的温度,即可以评估整颗LED的发热情况;同时,测量点一定不能影 响光输出。3 温度及湿度条件IES LM-80-08标准原文如下:442 Temperature and Humidity Oper
5、ation of the LED light sources betwee n photometric measureme nts shall be at a mi nimum of three case temperatures, Ts, using the same drive curre nt. The three case temperatures, Ts, shall be 55°C and 85°C with a third temperature selected by the manu facturer. The case temperature and d
6、rive curre nt selected by the manu facturer should represe nt their expectati on for customers applicati ons and should be with in the recomme nded operati ng temperature ran ge. Case temperatures shall be con trolledto - 2C duri ng life testi ng.The temperature of the surrounding air should be main
7、tained to within -5 C of the case temperature duri ng testi ng. The surro unding air temperature should be monitored within the test chamber. Humidity shall be maintained to less the 65 RH throughout the life test.这段话大致可翻译为:LED光源在两次光度测量之间,至少需要工作于三个不同 壳温,并采用相同的驱动电流。三个壳温Ts分别为55C,85C和由生产厂家选定的另一温度。生产厂家选
8、定的壳温和驱动电流,应能代表其对用户应用条件的期望值,并应在推荐的LED工作温度范围内。在寿命测试时,壳温应控制在-2 C 范围内,而LED周围空气温度应控制在-5 C范围内。周围空气温度为温度试验箱 内的监控温度。在整个寿命试验过程中,湿度应维持小于65%实际上,关于这段话,大家都知道有三个温度。但是我重点想讨论的是“壳温应控制在-2 C”是什么意思?“ LED周围空气温度控制在-5 C”范围内又是什么 意思?按照我的理解,壳温的实际温度波动范围为(Ts-2 C) - Ts);而LED 周围空气温度波动范围为(Ts-5 C) - Ts )。以55C这一组为例,壳温波动 范围为(53C-55
9、C),而周围空气温度波动范围为(50C-55 C)。感觉这里特 别难以理解,所以如果大家有不同意见,恳请告知。4 光度测量温度IES LM-80-08标准原文如下:6.3 Photometry Measureme nt TemperatureThe ambient temperature during lumen and chromaticity measurements shall be set to 25 C +/- 2 C . The ambient temperature throughout the test duratio n shall be provided in the te
10、st report for each photometric measureme nt. The LED light source shall be required to cool to room temperature prior to measureme nt.翻译为:在光度和色度测量时,周围空气温度应设定为25C +/- 2 C。对于每一次光度测量,其整个测试过程中的温度都应该记录在测试报告中。在测量前 LED光源应首先冷却到房间温度。字面的翻译估计问题不大。但上次和一个客户沟通时,他提出了另一个观点:即 在光度测试过程中也应该控制 LED的壳温。理由为要把LED周围空气温度控制在(2
11、5 C +/- 2C)范围内很难,特别是在积分球内部更难,所以需要控制壳温为(25 C +/- 2 C)。而我则认为只要控制房间温度即可,不需要控制LED壳温。我的理由为在进行光度/色度测量时,LED被点亮的时间非常短暂,发热量有限, 控制壳温的意义不大;最主要的是,如果控制LED壳温,显然偏离了 LED的真实 使用条件,在这种条件下,测量结果的参考价值被降低了。但说实话,我也不知 道到底应该怎么测量,恳请大侠指教。我们对IES LM-80-08也进行了翻译,有需要的可以来信索取。LM-80-08设备的实现深圳市迈昂科技有限公司陈云明上周我们提出了对于LM-80-08设备选择的一些基本方法。根
12、据这个方法, 我们可以对设备的主要关注点,主要难点以及与标准的契合程度,都能够进行一 一检验。目前常州国家半导体照明检测中心、美国蓝菲光学仪器公司、深圳市迈昂科技有限公司合作开发了一套设备MLTS128-05,完全实现了 LM-80-08标准的所有关注点,应该是目前全球范围内最为先进的设备。作为实例,下面我就根据前面提到的六个关注点,对该套设备进行一一解析,以供大家参考。1、壳温Ts如何控制?在该设备中,采用大功率、大尺寸电致冷器来实现对每一个型号LED的壳温控制。首先是把同一型号LED进行样品取样。对于每一个试验温度,我们推荐选择 20颗LED(三个温度共60颗LED,并把LED焊接在特制铝
13、基板上,然后把铝 基板装配到电致冷器上。电致冷器的最大制冷功率可以达到 60V,温度范围(-20 C) - 150 C。对于壳温Ts的采样可以采用三点式或多点式。如果 LED 表面积很小,厂家没有给出Ts测试点,则我们只能在铝基板的表面取三个有代 表性的测量点,然后通过定制算法获得温度,用此温度值作为Ts,该法即为三点式测温;如果LED的表面积比较大,厂家给出了 Ts测试点,则我们可以对每 一颗LED的壳温进行采样,即为多点式。图1电致冷器安装于冷热箱之间的隔板上为了很好的控制环境温度,所以必须要有一个温度试验箱。本设备采用了一 个具有专利技术的冷热双区温度试验箱。 即温度箱分为上(冷)下(热
14、)两个区, 在两区的隔板之间开有9个(或16个)圆孔。把LED装配到致冷器上后,再把 致冷器安装到冷热隔板上的圆孔位置。 这样就可以使致冷器装有LED面暴露在 热箱里面,从而实现对LED周围空气温度的控制;而致冷器的散热器暴露在冷箱 里面,通过电致冷器制冷,就可以实现对 LED壳温Ts的控制;如果电致冷器的 制冷功率接近其最大值时,冷箱启动,快速带走电致冷器散热器的热量, 达到对 LED二次致冷的目的。见图1。这个温度控制系统具有如下特点:a)电致冷器的致冷速度快,通常只需要几分钟时间即可达到设定温度值。b) 由于有冷箱二次致冷,所以致冷功率大,适用于多颗大功率LED器件。c)温度控制精度高,
15、可以实现环境温度和壳温的精确长期控制。2、LED如何安装?实际上在第一个问题里面,我们就提到了如何安装LED由于我们采用焊接方式,因而能够做到可靠连接。相反,如果不采用焊接连接,而采用其他夹紧、 压接方式,至少可能出现三个问题:a)连接时,由于压力不同,接触点改变,有可能不能可靠连接。b)连接触点长时间暴露在咼温下容易氧化,造成接触不良。c)多次连接有可能损坏LED器件的接触点,而且对于贴片型 LED非常难于 连接。图2电致冷器装配及 LED安装图3、LED如何供电?在本系统中采用了多通道电流源给每一颗 LED单独供电。每一台电流源有64 个电流通道,最大电压可达400V,最大电流可达0.5A
16、/通道。如果需要更大电流, 则可以多通道并联即可。对于需要更多通道的情况,可以增加电流源。单独给每 一颗LED供电的好处在于:a)当某一颗LED失效或某通道设备故障后,不影响其他 LED的继续试验,b)非常便于检查LED故障,不会造成误判,提高排除故障的速度和准确性。图3 LED独立供电示意图4、老化/失效时间如何监控?由于我们采用每颗LED单独供电,所以对于失效的判断非常简单,故而可以 精确检测失效时间。在这里,我想重点说一下系统的控制备份和数据备份功能, 我们用了一个专利产品来实现此功能。在正常工作情况下,系统配置有两台工控机。主计算机用于对外设控制,并 采集温度、电压、电流、时间等参数。
17、此时,从计算机做三件事情:一是对主机 发出的每一个控制指令都进行备份, 这样当主机故障时,从机可以清楚的知道外 设的工作状态,从而可以无缝接管控制权,继续对外设进行控制;另外,对于外 设传回的测试数据进行同步备份, 以防主机故障造成数据丢失;第三,从机也运 行一个监控程序,单独监控主机的工作状态是否正常,如果不正常则立即接管系 统。从机接过系统控制权后立即报警,请求人工干预。此时从机变成了主机,等 到原来的主机排除故障再次投入运行时,自动变为从机,而且会自动对其中断这段时间的数据进行同步,并准备好条件,一旦现在的主机故障后,其会再次接过 控制权,变为主机。图4主从监控系统示意图5、如何进行光度
18、/色度测试?根据前面的讨论,我们认为光度/色度测试必须在积分球内进行。否则我们 想象不出,还有什么更合适的方法可以满足标准要求。如何既能方便进行老化, 又能方便进行光度/色度测试,是整个标准实现的难点。所以我认为这也是这套 系统的设计精华所在。前面我们提到了电致冷器可以直接安装在温度箱内进行老化。实际上系统还做了特殊设计,使该致冷器可以直接安装于积分球上进行光度 /色度测试。这样 整个系统进行寿命试验时,只需要焊接一次LED就可以完成整个寿命试验过程, 把对LED的人为损坏降到最低。另外,在对 LED进行光度/色度测试时,由于是 多颗LED同时暴露在积分球内部,所以系统还设计了一个开关矩阵电路
19、, 用于分 别点亮每一颗LED实现对单颗LED的单独测量。图6电致冷器安装于积分球&如何进行价格比较?对于价格部分,大家如果感兴趣,我们可以单独沟通。从目前的情况来看, 假设按240个通道计算,MLTS128-05的(每通道/价格)和国内产品价格大致相 当。如果增加通道数至540个通道,则MLTS128-05的(每通道/价格)比国内产 品价格便宜20流右。以上价格还是在包括了一套光色电测量系统的情况下。也即不但有一套寿命 系统,而且还有一套Labsphere的高精度光色电测量系统(50cm积分球)。如果不包括这套系统,价格将会便宜 20%左右。从而可以看出,这套系统的性价比 非常高。期
20、待您的垂询!图7监控系统LM-80-08实现难点深圳市迈昂科技有限公司 陈云明坦率地说,以我个人的观点来看,要实现LM-80-08标准,非常困难。也可以换句话说,LM-80-08这个标准的可操作性很低。但鉴于目前还没有更好标准 来对LED器件的寿命进行评估,所以大家都采取保守策略,还是在努力实现 LM-80-08标准的各种苛刻条件。LM-80-08到底其实现难点在哪里?下面我也想根据我对该标准的理解,谈谈看法,供大家参考。1、老化时间至少6000小时标准原文如下:7.1 Lume n Maintenance Testi ng Durati on and In tervalAt the spec
21、ified ambie nt temperature no ted in secti on 4.4 the unit shall be driven for at least 6,000 hours with data collection at a minimum of every 1000 hours. 10,000 hours are preferred for the purposes of improved predictive modeli ng标准大致可翻译为:在4.4节中提及的环境温度条件下,LED组件至少需要 进行6000小时的测试,每隔1000小时至少需要测量收集一次数据。
22、 如果想改进 预测模型,则推荐测试10000小时。这是本标准里面最难以实现的一点。为什么这么说,因为随着时间的延长, 很多其他的问题都会凸显出来,成为一个潜在新难点。a)6000小时为250天,测试时间太长。对于现代快速发展的企业,员工流动性也比较大,所以有可能出现试验还没有做完,但是操作人员已经更换。新的操作人员接手工作,可能会丢失掉很多试验信息。b) 250天对于一个产品的试验时间太长。目前产品的更新换代都很快,有可 能产品还在试验阶段,但是更新的产品已经上市。这样对企业形成非常大的压力, 甚至不愿意投入资源来做寿命测试。c)时间太长,对于测试设备本身也是一个严峻考验。标准要求设备至少要能
23、够连续工、作1000小时,而通常大多数LM-80-08试验设备产品都为新产品, 都没有经过严格的测试就上市,所以其可靠性就是一个很大的不确定性。从目前来看,由设备本身的故障而导致的试验中断,比LED本身失效而造成的试验中断要多得多。d)每隔1000小时需要做一次光度测试,采集 LED光度、色度数据信息。由 于LED的封装形式多样,尺寸规格各不相同,而为了准确测量 LED的光衰情况, 则需要把LED放置于积分球内进行测试。这样就带来了一个问题,多次重复安装、 老化、拆卸、安装、测量、拆卸,工作量太大!如何减少安装和测试的工作量就成了首要问题。e) 如果采取以上的拆卸、安装方式,每一颗 LED经过
24、11次的安装/拆卸后, 基本上也会被机械损伤,或者透镜部分会有污物粘附。这样LED的光输出特性发 生改变,从而不能达到试验目的。2、样品选择 标准原文如下:4.3 Sample Selectio nSample selection of the LED light sources is important since the value of the test will depe nd upon the method of sampli ng, size of the sample, conditions of testing and other factors. Sample sources
25、 shall be selected to be sufficientlyrepresentative of the overall population being tested.In most cases, this sampli ng shall be specified by an appropriate sta ndards committee docume nt. The sampli ng method and sample size used shall be reported.上文可以翻译为:LED光源的样品选择非常重要,因为测量结果将取决于取 样方法、样品规模、测试条件及其
26、他因素。样品光源对于总体测试产品而言,需 要具有足够的代表性。在大多数情况下,取样方法需要由一个合适的标准委员会 文档指定。取样方法和样品规模都需要在报告中列出。这里的难点在于样品规模,即到底多少样品才是具有“足够代表性”?通常 业界说法为每种型号LED在每个温度条件下至少需要20颗LED三个温度条件 就至少需要60颗LED这样带来的一个问题就是工作量倍增。举一个例子:假设我们同时做5个型号的LED测试,每个型号60颗LED则总的需要300颗LED; 每一组LED寿命试验按6000小时试验时间,每一组测试11次计算(0时、24 小时、48小时、96小时、200小时、1000小时、2000小时、
27、3000小时、4000 小时、5000小时、6000小时),则总的测试次数为3300次;按照目前大多数寿 命试验设备操作情况,做一次光色度测试需要安装一次(到温度箱),(从温度箱)拆卸一次,安装一次(到积分球),光色电测量,(从积分球)拆卸一次。 假设按照每颗LED安装一次需要6分钟,拆卸一次需要2分钟计算,则测试完 3300次需要时间13200分钟,或220小时,或31天。很难想象检测单位安排一 个人每天都在做这一重复性工作。3、如何安装LED由前面两点说明可知,进行 LM-80-08试验,需要对大量LED进行重复性安 装老化测试工作,这样就带来几个问题:a) 如何解决LED导热性?由于LE
28、D在老化测试时需要控制其温度,所以LED 的安装一定要求其与热沉之间紧密接触且导热良好。业界通常的做法是在LED 与热沉之间涂敷上导热硅胶以增强其导热性。但一旦涂敷导热硅胶,则在多次拆 卸、安装过程中,就非常容易玷污 LED的透镜,从而影响光输出。b)如何解决LED安装的方便性?由于LED需要多次拆卸、安装,所以如何方便省时的安装就成为必须解决的问题。有的说用夹子夹,有的说焊接,众说纷纭,莫衷一是。但无论何种方法,好像都没有解决方便性的问题,而且带来了新 问题。比如如果采用夹子夹的方式,则夹子连接是否可靠?在长时间老化过程中 是否会造成触点氧化,从而接触不良,导致LED温度升高?如何给LED施
29、加足够 压力,使其与热沉紧密接触?如果采用焊接方式,则经过多次焊接,LED透镜是否会熔化变形,从而影响光输出?由于多次安装时,既要考虑其电特性不能受到 影响,又要考虑其导热性,以便保证其散热恒温条件。所以这就给设备制造商出 了一个难题:如果考虑了方便性,采用夹紧或插拔的方式,则经过长时间的高温 氧化,电气连接的可靠性成疑;而且LED封装外壳与热沉之间的导热性也不能得 到很好保证。如果过分考虑电气连接的可靠性和LED的可散热性,则会牺牲连接的方便性,这样就会极大的增加安装连接的工作量,而且非常容易损伤LED或者玷污LED透镜。c)相同的问题是,如何把LED安装进积分球进行测试?因为在前面的老化
30、过程中,LED后表面已经涂敷有导热材料,所以安装进积分球测试时,一定要小 心,不能玷污积分球表面或夹具,否则会影响其他测试。4、如何实现LED的试验温度条件IES LM-80-08标准原文如下:C and 85°C with a third temperature selected by the manu facturer. The case temperature and drive curre nt selected by the manu facturer should represe nt their expectati on for customers applicati
31、ons and should be with in the recomme nded operati ng temperature ran ge. Case temperatures shall be con trolled to - 2C duri ng life testi ng.The temperature of the surrounding air should be maintained to within -5 °C of the case temperature duri ng testi ng. The surro unding air temperature s
32、hould be monitored within the test chamber. Humidity shall be maintained to less the 65 RH throughout the life test.这段话大致可翻译为:LED光源在两次光度测量之间,至少需要工作于三个 不同壳温,并采用相同的驱动电流。三个壳温Ts分别为55C, 85C和由生产厂家选定的另一温度。生产厂家选定的壳温和驱动电流,应能代表其对用户应用条 件的期望值,并应在推荐的LED工作温度范围内。在寿命测试时,壳温应控制在 -2 C范围内,而LED周围空气温度应控制在-5 C范围内。周围空气温度为温
33、度试 验箱内的监控温度。在整个寿命试验过程中,湿度应维持小于65%由于LED点亮后,其温度会升高,具体升高的数值与LED的光效、功率、散热条件等相关。但在标准中要求把壳温 Ts控制在和环境温度相当的范围内,所 以我们必须采取制冷措施来稳定温度,这就是一个非常大的难点。其难点除了上面提到的如何安装的问题外,还有三个方面:a) 如何对LED制冷?标准规定了 LED在三个温度条件下Ts的工作范围,显 然在通常情况下,LED通电后,Ts会升高,这就要求必须有致冷机制,迅速带走 LED热量,以恒定其温度。由于受到封装形式的不同,安装方法的不同,对 LED 制冷也变得非常复杂。目前有的使用硅油冷却制冷,有
34、的是把LED安装在金属导 热条上制冷。我们认为,这都不是非常有效的制冷方法。因为显然,这样的制冷 方法,其热响应特性非常慢,无法快速响应LED的热变化;更致命的是,对于安装在同一个致冷板但功率不同的LED其无法提供不同的制冷功率。b) LED供电?这一难点通常被绝大部分设备制造商忽略了, 因为目前还没有 一个很好的解决方案。如果从试验可靠性出发,给每一颗LED单独配备一个直流 源供电,则成本太高,很多企业无力购买;如果采用串联方式给 LED供电,则串 联回路的某一颗LED发生故障后,就会影响整个回路的试验条件,从而给试验带 来非常大的不确定度。从标准本身来看,我认为尽管成本高昂,但采用单独给每
35、 颗LED供电的方式应该是一个首选项。c)控LED的壳温Ts? Ts是整个标准的核心概念,但如何监测却是业界的一个难题。因为绝大部分LED的封装尺寸都很小,要找到Ts这一个热特性代表点, 生产厂家不好找,检测用户不好测,主要是热电偶无法方便的固定在Ts点。所以如何寻找Ts点的替代温度就成为设备制造商需要考虑的头等大事。5、如何计算老化时间标准原文如下:6.1 In strume ntati onIn life testing,accurate recording of elapsed operating time is critical.If used, an elapsed time met
36、er shall be connected to the particular test positi ons and shall accumulate time only whe n the in stalled LED light sources are en ergized. In the eve nt of a power failure to a positi on, monitoring devices shall not accumulate time. Video monitoring, current monitoring, or other means shall be u
37、sed to determine elapsed operating time if desig ned to provide sufficie nt temporal accuracy. All equipme ntcalibrati on shall be in accorda nee with manu facturer specificati ons. Total elapsed time un certa inty should be within± 0.5%.翻译如下:在寿命试验中,精确记录运行时间是关键。如果采用计时器,则 应连接在指定的测量点,而且只有LED被通电后才
38、能累计时间。当监控点发生电 源故障时,监控设备不能累计时间。如果设计提供了足够的时间精度,则视频监 控、电流监控,或其他方法都可以用于确定运行时间。所有设备的校准,都应按 制造商的规格要求进行。总的运行时间不确定度应在土0.5%以内。这里的难点在于最后一句话:时间总不确定度应控制在土0.5%以内。为什么这是一个难点?因为一套系统运行 6000小时,其不出现故障的概率非常低。标 准本身是允许出现故障的,关键是准确的记录故障时间点。而记录故障时间,对于串联LED有可能会造成很大失误。比如10颗LED串联,其中一颗LED短路, 其他9颗LED正常,如果我们对于故障的监控方法为测量电流,显然无法发现这
39、一故障。如果难于确定故障,显然精确计算故障时间就无从谈起,从而造成总时间确定度不可控。举一个例子:假如一颗LED在运行过程中,员工于晚6: 00下班,恰巧供电电源于6: 01故障;第二天早9: 00员工上班,发现电源故障, 迅速排除,并继续老化。但由于其无法确定昨晚具体的故障时间,所以总的不确定时间为晚6: 00-早9: 00,共计15小时,相对于6000小时,则总时间不确定 度为0.25%。如果出现两次这样的情况,则总时间不确定即为0.5%。这样几个月 的辛苦就会白费,此批试验结果无效。标准里面只说了 LED的供电电源故障,实际上故障原因远远不止这一点。比 如LED本身失效、计时器失效、电网
40、断电、程序故障、控制故障、LED安装混乱等等。每一种故障,其检测手段都不相同,所以也就可能造成检测失误,增加时 间不确定度。总之,由于试验时间的增加,样品的增加,就把整个试验的可执行度大大降 低,从而给设备制造商、产品生产商、产品用户带来了极大的困难。如何有效的 克服困难,给业界提供高质量的解决方案,就理所当然的成为了我们的努力方向。如何选择LM-80-08测试设备深圳市迈昂科技有限公司陈云明我们在前面提出了对LM-80-08这个标准的看法和疑惑之处,这一次,我想 来说说对于选择相应设备的看法,希望对大家有所帮助。我想,对于试验设备的选择,肯定应该根据LM-80-08标准的要求来进行。LM-8
41、0-08标准对设备的要求可以从以下几个方面来考察:1、壳温Ts如何控制?对于温度试验条件,可能大家都知道需要三个温度:55C, 85C,生产厂家指定的另一温度。但实际上确切的说,应该是三组温度。对于每一组温度有两个 温度值需要考察,一是壳温Ts,变化范围为Ts (Ts-2 C);二是温度试验箱 的温度(即环境温度),设定温度变化范围为Ts(Ts-5 C)。这两者息息相关:壳温Ts会受环境温度的影响,同时通入电流后温度会继续升高,实际值远 远高于55 °C /85 °C及指定温度。对于设备制造商而言,环境温度非常容易实现。但如何实现壳温Ts的控制却是一个难点。所以在购买设备时
42、,需要反复询问制造商的一个问题是: 如何对 LED制冷,控制其壳温Ts?如果壳温控制不好,整个试验的有效性就会遭受到巨 大的破坏。为什么把这个问题摆在首位?因为在 IES LM-80-08里面,实际上只有两个 核心概念,一个是壳温Ts, 个就是流明维持率。前者说明了整个试验的过程 控制,后者说明了寿命评价方法。可见 Ts是最重要的一个概念。目前绝大多数 设备对于这个参数都并没有真正实现可控。2、LED如何安装?LED如何安装关系到两个重要问题。一是关系到测试工作量的大小,如果每测量一次LED都需要去拆装一次LED显然这样的方法会带来极大的工作量; 二是关系到测试过程中对失效分析的正确判断。 如
43、果采用多次拆装的方法进行测 量、老化,则在这个过程中非常容易造成人为损坏 LED或LED安装不当、连接 不良而老化中断。如果发生这样的情况,对于判断 LED的失效就变得非常困难, 到底是人为操作原因、设备原因,还是 LED本身质量问题造成的失效呢?所以在通常情况下,LED最好采取焊接的方式比较可靠,这样在老化过程中 不会发生触点氧化的问题;另外一个要求就是在测试时不需要取下LED,可以直接带着夹具进行测试,这样就可以极大的减小工作量和人为因素的影响,提高寿命试验的成功率。3、LED如何供电?LED是单颗独立供电,还是多颗串并联供电,这个问题也关系到LED失效判断的问题。严格意义上讲,为了试验的
44、可靠性,每一颗LED都必须有一个独立的 电流源供电,这样每一颗LED的失效都能得到有效监控。而且当一颗LED失效后, 不会影响其他LED的寿命试验。反之,如果采用LED串联方式供电,当一颗LED 短路时,或者采用并联方式供电,当一颗 LED断路时,失效的LED很难被发现。 但如果采用独立电源供电,所有这些问题都不存在,通过简单的电流、电压检测 就能发现失效LED从而精确计算老化时间及失效时间。由于受到预算限制的原因,通常有不少厂家还是会选择LED串并联的方式来 构建LED老化通路。但这时,我们可以考察其串联或并联 LED的数量,理论上, 肯定是越少越好。如果采用串并联,当取出LED进行光度/色
45、度测试时,无法单颗点亮LED所以 无法单颗测量。这就意味着需要拆装 LED所以第二个问题马上就凸显出来了。4、老化/失效时间如何监控?时间的监控本来是一个非常简单的问题,但由于试验时间的超长要求,失效 状态不易判断,失效监控条件不易设置,所以失效时间点非常难以确定。随着测试运行时间的延长,电脑硬件和软件的可靠性本身是一个薄弱环节, 谁到无法保证在长达6000个小时的测试过程中不会出现死机等故障。而一旦死 机,后果将是灾难性的:有可能数据丢失,有可能运行时间监控数据错误,也有 可能试验中断。所有这些,都对最终试验结果造成永久性破坏。针对长时间运行监控的这一特殊要求,系统是否有监控备份软件就是一个值 得考核的地方。对于一个监控系统,至少这几个方面的功能需要具备
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