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文档简介

1、GB/T 6394-2002金属平均晶粒度测定法适应范围和级别 主要适用于金属单相晶粒组织，也适用于晶粒形状和本标准系列评级图相似的非金属材料。 本标准的测量方法仅适用平面晶粒度的测量。也就是试样截面显试出的二维晶粒。 依照标准分 I,II,III,IV 个系列，平均晶粒度的平均尺寸分16个级别。术语定义和测量方法 显微晶粒度级别数： 100倍下，645.16mm2 (80mm*80mm) 面积内的晶粒个数。 宏观晶粒度级别数： 1 倍下，645.16mm2(80mm*80mm) 面积内的晶粒个数。 共有三种 比较法，面积法，截点法比较法 比较法不需要计算任何晶粒，截点，截距。与标准评级图（标

2、准挂图，目镜插片）进行比较。 比较法 偏差 +- 0.5 级，RR +- 1级。比较法 当晶粒形貌与标准评级图的形貌完全相似时，评级误差最小，因此，本标准有下列四个系列的评级图A 系列图片I : 无孪晶晶粒（浅腐蚀）100倍B 系列图片II : 有孪晶晶粒（浅腐蚀）100倍C 系列图片III : 有孪晶晶粒（深腐蚀）75倍D 系列图片IV : 钢中奥氏体晶粒（渗碳法）100倍比较法面积法 面积法是计算已知面积内的晶粒个数，利用单位面积内晶粒数来确定晶粒度级别。 精确度 +-0.25级 ， R&R +- 0.5 级截点法 截点法是计算已知长度的试验线段（或网格）与晶粒界面相交截部分的截点数。 截点法精确度 +-0.25级， R&R +-0.5 级 对于非均匀等轴晶粒的各种

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