LED芯片进料检验实用标准

1、实用标准文案精彩文档修订记录日期版次修订条款修订容简述修订人备注编制/日期：审核/日期：批准/日期：会签财务中心市场部米购仓库总经办营销中心研发资材中心体系课项目办人力资源行政事业部品保工程设备处OJT运营中心照明（SMD）灯丝插件COB工程设备E实用标准文案精彩文档本资料为源磊科技之所有财产，未经书面许可一一不准透露或使用本资料，亦不准复印、复制或转变成其它形式使用。实用标准文案精彩文档1.目的规公司LED正装芯片检验判定标准。避免不合格原材料流入产线，提高生产良率。2.围适用于公司LED正装芯片类产品3.定义CR:功能不正常、严重影响信赖性或严重影响成品规格或严重影响客户作业等。MA:成品

2、质量有明显性或潜在性的影响而不能正常使用。Ml:使用上有一定的影响，但不是功能上的影响。4.权责品保部：品质标准的建立、修改、执行及相关品质记录。5.容5.1抽样依据：依照MIL-STD-105E并结合实际情况。5.2必须是合格供应商，承认书和环保资料齐全，才可进行下一步，否则拒绝检验。5.3检验标准：检验项目检验容及标准不良图示及说明抽样水准检验方法、工具缺陷资料检查1.型号、数量、参数与送货单据一致无全检目视送货单CR包装标识1.包装完好，纸盒整齐、 芯片静电袋、蓝膜完好无 破损，无受潮现象2.可使用期限必须在保 质期一半及以上无包装全检，蓝膜抽10检查目视CR实用标准文案精彩文档电极变色

3、观检电极测色差探针痕迹检验项目切割不良电极刮花芯片正负极氧化变色允收标准：不可有10蓝膜/批显微镜*20MA同一片中不同芯片间和一颗芯片正负电极间颜色差异大允收标准：不可有电极上探针痕迹不得超过电极面积的1/3，不可露底材，不可偏移超过电极围检验容及标准芯片破损、增生、形状大小不规则、裂纹,允收标准:芯片破损（增生）面积W1/5芯片面积,裂纹不可有。芯片表面的电极区域有刮伤的痕迹允收标准:伤面积v该电极面积的1/5不良图示及说明电极区：芯片任一电极刮10蓝膜/批10蓝膜/批抽样水准10蓝膜/批10蓝膜/批显微镜*20显微镜*20检验方法、工具显微镜*20显微镜*20MAMA缺陷MAMA实用标准

4、文案精彩文档芯片表面脏污掉电极排列方向错误检验项目非电极区：非电极区刮伤 面积v该芯片面积的1/4且不可损伤到PN结。芯片表面有污染痕迹允收标准：电极区：污染面积v该电极面积的1/5非电极区：污染面积v该芯片面积的1/41.电极脱落，有缺口允收标准：不可有2.金手指脱落允收标准：距离电极1/2以脱落不可接受芯片中有一排 （列） 或几 排 （列）与其他多数材料 排列方向相反，排列不整 齐检验容及标准10蓝膜/批10蓝膜/批10-蓝膜 / 批不良图示及说明抽样水准显微镜*20显微镜*20显微镜*20检验方法、工具MACRCR缺陷实用标准文案精彩文档表面外多金观外表漏洞芯片表面任何地方有多出的残金允

5、收标准：不可有10蓝膜/批显微镜*20CR芯片任何部位有漏洞、烧黑或其他疑似击穿现象允收标准：不可有10蓝膜/批显微镜*45CR尺寸检测-H- LJL.心片尺寸每批抽10PCS检验芯片的长、宽，及电极正负极尺寸是否在规格围10PCS二次元CR校正过的厂商芯片每批抽0.5K测试DVF,VFM11和VFM12设置DVF性能检测1uA,DVF1设置为规格电流，时间设置为5ms, 未校正的厂商芯片暂无 法测试。允收标准：-O.1WDVFvO.1V0.5K裸晶测试仪CR校正过的厂商芯片每批进料抽0.5K测试VFD2,闸流体未校正的厂商芯片暂无无0.5K裸晶测试仪CR法测试允收标准：电流5mA时实用标准文

6、案精彩文档3V档芯片VFD20.05V9V档芯片VFD2vO.1V18V档芯片VFD20.15V正向电压校正过的厂商芯片每批 进料抽0.5K测试；未校 正的厂商芯片每批进料抽10PCS测试。允收标准：标签电压士0.1V，且平均值在标签围；无0.5K/10PCS裸晶测试仪/积分球/IS机CR检验项目检验容及标准不良图示及说明抽样水准检验方法、工具缺陷反向电流校正过的厂商芯片每批 进料抽0.5K测试；未校 正的厂商芯片每批进料抽10PCS测试， 测试条 件和判定按规格书标准。无0.5K/10PCS裸晶测试仪/积分球/IS机CR实用标准文案精彩文档波长校正过的厂商芯片每批 进料抽0.5K测试；未校

7、正的厂商芯片每批进料抽10PCS测试。允收标准：标签波长士1 nm，且平均值在标签 围无0.5K/10PCS裸晶测试仪/积分球/IS机CR实用标准文案精彩文档亮度检测正装双电极芯片每批进料抽0.5K测试PO值（mw），其它类型的芯 片暂无法测试允收标准：实测平均值在 标签围，最小值不低于芯 片标签下限的5%，且低 于标签下限的数量占测 试数量比例不得超过10%，不管控上限。无0.5K裸晶测试仪MA静电检测每批进料抽10PCS用反向2000V击打，然后测 试IR允收标准：按承认书标准判定IR2，通过率不低于80%无10PCS静电测试仪裸晶测试仪/启动电压静电检测后的芯片用小电流再测试启动电压；其中3V档、6V档和9V档 芯片用1uA测试VF5，18V档和24V档芯片用10uA测试VF4允收标准：3V档芯片：VF5 :2-2.8V无10PCS裸晶测试仪CR实用标准文案精彩文档6V档芯片：VF5 :4-5.5V9V档芯片:VF5:6-8V18V档芯片:VF4:12-16V24V档芯片:VF