ICP光谱仪分析试题

1、C、3D、4ICP光谱仪分析试题2、ICP仪炬管的外管进）,内管进（C ）。 分钟）（90a、等离B、冷却气，载气，等离子气C、冷却气，等离题号一二四五总分得分子气, 子气,）,中管进（冷却气，载气 载气3、通入1CP炬管的（）起冷却保护炬管的作用（提供电离气体（等）用于输送样品,（离子体）。B、冷却气，载气，等离子气A、等离子气，冷却气，载气得分评卷人分）20、填空题（共计C、冷却气，等离子气，载气4、ICP焰炬的（C ）具有适宜的激发温度及较充分的原子化，背景发射光谱强度乂较低，一般悄况 原子发射光谱根据原子的特征发射光谱来研究物质的结构和测定物质的化学 成分的方法称为B、下多用此区进行光

2、谱分析。:C分析名 A、预热区初始辐射区C、正常分析区姓、分光、检测2、原子发射光谱分析过程主要分三步：激发 5、ICP光源所用的工作气体是（ B线性范发射光谱技术具有3、ICP灵敏度高基体干扰少精确度咼、A、氮气B、氮气 C、氢气可以多元素同时分析、6、王水的溶解能力强，主要是在于（D ）。4、凹面光栅、中阶梯光栅、ICP光谱仪中釆用的分光系统主要有平面光栅焰炬通常分成三区：即5、ICP预热A、反应中产生了初生态的氧 正常分析区.初始辐射区B、酸的强度增大6、ICP光谱仪的进样装置通常是由和、雾室相应的供气管路组成。雾 化器C、提高了溶样时的温度电离干扰光谱干扰CP-AES.7法存在的主要干

3、扰有物理干扰可直接使用文献资料中的干扰系数。干扰系数与光谱仪的分辨能力无关，用ICP-AES法测定时，17、评卷人得分X ）（分）三、判断题：20 （共计 法测定时，分析过程中沾污造成的空白值，可作 为干扰进行校正。（X 18、用ICP-AES,是以电感耦合等离子矩为激发光源 的一类AES） -1、电感耦合等离子体原子发射光谱法（简称ICP ）否则标准曲 线不通过原点。（J ICP-AES19.分析中，如存在连续背景干扰，必须要扣除光 谱背景）7 光谱分析方法。（L法进行测定时，配制分析用的单元素标准 贮备液和中间标准溶液的酸度应保持在20、用ICP-AES.、电感耦合等离子体焰炬自下而上温度

4、逐渐升高。2（ X）以上。（JX ICP3、进样装置的性能对光谱仪的分析性能影响不大。（得分评卷人分）四.简答题：（共计25 ） J 光源。光谱仪进样系统的作用是把试样雾化 成气溶胶导入、4ICPICP（5 J光谱仪分光装置的作用是把复合光按照不同波长展开而获得光谱clCP（）、 什么是等离子体）（3ICP-AES6、法一般把元素检出限的倍作为方法定量浓 度的下限。X电子和激发态原子、离子、等离子体是物质在高温条件下，处于高度电离的一种状态。山原子、答：）X法测定时，混合标准溶液的酸度不必与待测样品洛液的酸度一致7ICP-AES （气体状态之外的第四状态。为 物质在常温下的固体、液体、总体呈电

5、学中性和化学中性。离子组成，应将测定 结果乘以或除以一个相8、测定之前如果对试样进行了富集或稀释，法测定时, 用 ICP-AES应的倍数。）X （、披和神为剧毒致癌物质，对其水样进行监测和配制标准洛液时，应防止与皮 肤直接接触，并保9光谱仪的组成。2、简述ICP （持室内有良好的排风系 统。V ）答案:ICP光谱仪主要山两大部分组成，即ICP发生器和光谱仪。ICP 发生器包括高频电源、进样装法测定中，如果质控样品的测定值超出允许范 需要用标准溶液巫新调整仪器，ICP-AES、用10置及等离子体炬管，光谱仪包括 分光器、检测器及相关的电子数据系统，它的辅助装置是稳压电源）V （然后 再继续测定。

6、及供气统 不易点燃八用111CPICP-AES法测定时，点燃炬管之前应先以氮气将进 样系统中的空气赶尽，否则 或点燃后很快熄灭。）J < ICP-AES.用12）X （法测定中，在不同观测高度进行测定时，其灵敬度没有差异。法测定时, 化学富集分离法用于校正元素间干扰，效果明显并可提高元素的检出能ICP-AES、 用13.3、ICP在性能优化时主要从哪儿个方面考虑、进入雾化器的气体流速；答: 1 RF功率；2、； 3、样品进入雾化器的流速(蠕动泵转速)4、积分时间。2、.用c(NaOH) =2 mol/L的溶液稀释配制c(NaOH) = mol/L的溶液1L,需原溶液 多少21VcV 根据 C二解：2211)c(2NaOHiV"NaOH)(cb.50 汕25心 V:需原溶液升。答评卷人得分15分)五.计算题：(共计3、讣算下列一组测量值的平均 值，算术平均偏差和相对平均偏差，平均值=+/5=:解、长碘量法测定铜精矿中的铜量，称取克样品分析，滴 定时消耗硫代硫酸钠标准溶液，硫代硫酸1算术平均偏差= ，计算样品钠 标准溶液浓度为Ug/mLlOOmLL，滤液进容量瓶用原子吸收光谱仪测定，测定浓 度为X 100%/=%=相对平均偏差M) Cu (=moi)(已