数字电路测试系统的介绍

1、 德律TR-6010 逻辑器件测试机 概述：·专为10MHz逻辑IC测试机, 具有Function Pattern测试,   Dc参数量测等功能硬件结构：特性：·2M的向量存储器深度·可4组并行测试·完整的功能Pattwen和DC参数测试·驱动电压：+-8V，比较电压：6V·具有Shmoo Plot工具, 用于器件特性分析·测试程序调试工具·完善的测试诊断报告和柱状图·TTL和GPIB接口, 可直接连接至prober和handler·紧凑小型，易安装 资源配置：&#

2、183;测试控制器：奔腾III以上PC·系统软件：MS-DOS ·电源要求：（1）单相交流，AC 110V 10A /50-60Hz          （2）单相交流，AC 220V 6A /50-60Hz性能参数：·测试频率： 10MHz·周期速率： 100nS-1.31mS·周期分辨率： 20nS·测试通道： 最大128个·多组测试： 2/4组并行测试·定时器： 4Pins/TG·定时器分辨率： 10nS

3、83;闸门模式： 边沿式·测试向量深度： 2M·驱动器： VIH： +-8V 分辨率：5mV·VIL： +-8V 分辨率：5mV·比较器：VOH： +-8V 分辨率：5mV·VOL： +-8V 分辨率：5mV PMU：1组/板卡，最大8组施加电压/ 测量电流围：级别 电压 精确度分辨率0 10V+%+-5mV2.5mV1 10V+%+-5mV 2.5mV210V+%+-5mV2.5mV310V+%+-5mV2.5mV施加电流/ 测量电压围：HVPMU：2组/板卡，最大16组施加电压/ 测量电流围：施加电流/ 测量电压围： 日本VTT公司V777

4、大规模集成电路逻辑测试系统（一）  概  述                                              ·10MHz的

5、测试频率，128个测试通道，   4M字节向量深度的大规模LSI测试系统  系统尺寸 ·主框架 ：580(W),750(D),1200(H)或1850(H)毫米  ·测试头 ：580(W),340(D),250(H)毫米  ·电缆长度 ：4 米 测试器控制器                        &#

6、160;  ·处理器 AMD-K6-500 ·操作系统 MS/DOSV ·存 32MB ·硬盘 4.0GB ·软盘 3.5英寸 1.44MB  接口板 ·标准接口板 针 对探针机和机械手·GPIB 接口板 选项PIN电子性能·标准 64 PIN ·全系统 128 PIN 或 64PIN*2DUTS 软件包                     

7、              ·语言 C (库: TURBO C) ·工具软件  SCHMOO              HISTOGRAM              WAFERMAP · 测试程序转换器    ANDO-SUMMIT 至 V7100 (主程序和波形程序)

8、    SENTRY 至 V7100 (波形程序)    CREDENCE-SC212 至 V7100 (波形程序)    ADVANTEST-MOSPL 至 V-7100 (波形程序) 驱动器                                ·

9、输出电压 VIH 0V 至 +11V   VIL -2V 至 +8V ·电压摆幅 100mVp-p 至 11Vp-p ·精度 0.5% + 5mV ·分辨率 2.7mV ·最大 DC 电流输出="H"±20mA 输出 = "L"±20mA ·阻抗 50 ± 5%ohm ·升 / 降 时间   驱动器模式 < 5ns/5Vp-p   (20% 至 80%)   I/O 模式 < 5ns/

10、5Vp-p · 总时钟精度 (NRZ 格式 ) ±5ns ( 最大 ) · 时滞  (NRZ 格式 ) 有关 PINS ±5ns ( 最大 ) · 有关 TGS ±4ns ( 最大 ) · 上突波 / 下突波 3%+50mV · VIH/VIL 级别 4 级别 · 驱动器模式 FIX-HI, FIX-LO, NRZ, /NRZ,     RZ, /RZ, R1, EXOR, /EXOR, · 无调制 · 时钟的限制 参照图 1  

11、60; 条件: 10Mohm 和 15pF 载荷安捷伦 83000 数字电路测试系统 描述：特性和用途：·用于Credence的Electra MSR 100MHz机台上，根据客户器件封装尺寸设计制作专用的定制型测试接口板，有效解决高速信号干扰之问题。规格： 长（L） * 宽 （W） * 厚 （H）   安捷伦 93000 SOC 测试系统  概述                 

12、60;                      ·测试系统具有数字、模拟、存储器、射频（RF）模块（可 选件）的功能测试和参数测试·支持扫描测试·支持IDDQ测试·测试系统具有可升级性和可扩展性参数: （1）系统控制平台  ·HP C3750 UNIX工作站  ·存 2GB  ·硬盘 3

13、6GB  ·HP p1130 21”高分辨率纯平彩色显示器  ·配备DVD光盘驱动器  ·配备磁带机  ·配备10M100M Ethernet接口  ·操作系统 HP-UX B11.11（2）数字功能指标  ·数字通道 : 256  ·数据速率 ：660Mb/s  ·向量存储深度 ：14M  ·扫描存储器深度 ：56M  ·边沿定位精度 土150 ps（3）模拟部分  ·任意波

14、形发生器（AWG），精度12-bit, 频率：500MHz采样/s；  ·数字化仪，精度：12-bit, 采样速率：320MHz采样/s；  ·时间间隔分析仪（TIA），输入频率：400MHz。（4）DC测试性能  ·通用器件电源，参数：±7V/8A  ·低噪声电源，参数：±8V/4A  ·精密测量单元，最大电压量程: -5V +8V，电压分辨率: 250uV，最大电流量程: ±200mA，电流分辨率: 250pA  ·参数测量单元 PMU，量程

15、: -2V +7V, 40mA  ·IDDQ电流测量，精度100nA，分辨率10nA5）测试软件  ·SmarTest Rev. 4.1.6/4.2.5  ·SmarTest Program Generator Rev. 1.2.0  ·VCDTO93K Edition 2.0 安捷伦93000 SOC系列模块配置表 模块描述数量位置主要指标详情数字通道P600660Mbit/s数字通道161010110116最高数据速率：660Mbit/s最大时钟频率：625MHz? 扫描深度：56MC400400Mbit/s数字通道2401020111616最高数据速率：400Mbit/s最大时钟频率：400MHz? 扫描深度：14M模拟模块WGD500M任意波形发生器1230分辨率：12bit采样速率：8ksps到500MspsWDD1GHz数