产品寿命可靠性试验MTBF计算规范标准_第1页
产品寿命可靠性试验MTBF计算规范标准_第2页
产品寿命可靠性试验MTBF计算规范标准_第3页
产品寿命可靠性试验MTBF计算规范标准_第4页
产品寿命可靠性试验MTBF计算规范标准_第5页
免费预览已结束,剩余2页可下载查看

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

1、产品寿命可靠性试验 MTBF 计算规范一、目的: 明确元器件及产品在进行可靠性寿命试验时选用标准的试验条件、测 试方法 二、范围: 适用于公司内所有的元器件在进行样品承认、产品开发设计成熟度/产品成熟度(DMT/PMT)验证期间的可靠性测试及风险评估、常规性 ORT 例行试验 三、职责: DQA 部门为本文件之权责单位,责权主管负责本档之管制,协同开 发、实验室进行试验,并确保供应商提交的元器件、开发设计产品满足本文件之条件并提供相关的报告。 四、内容: MTBF:平均无故障时间 英文全称:MeanTimeBetweenFailure 定义:衡量一个产品(尤其是电器产品)的可靠性指标,单位为“

2、小时”它反映了产品的时间质量,是体现产品在规定时间内保持功能的一种能力.具体来说, 是指相邻两次故障之间的平均工作时间, 也称为平均故障间隔,它仅适用于可维修产品,同时也规定产品在总的使用阶段累计工作时间与故障次数的比值为 MTBFMTBF 测试原理 1 .加速寿命试验(AcceleratedLifeTesting) 1.1 执行寿命试验的目的在于评估产品在既定环境下之使用寿命. 1.2 常规试验耗日寺较长,且需投入大量的金钱,而产品可靠性资讯又不能及时获得并加以改善. 1.3 可在实验室时以加速寿命试验的方法,在可接受的试验时间里评估产品的使用寿命. 1.4 是在物理与时间基础上,加速产品的

3、劣化肇因,以较短的时间试验来推定产品在正常使用状态的寿命或失效率.但基本条件是不能破坏原有设计特性. 1.5 一般情况下,加速寿命试验考虑的三个要素是环境应力,试验样 本数和试验时间. 1.6 一般电子和工控业的零件可靠性模式及加速模式几乎都可以从美窜规范或相关标准查得,也可自行试验分析,获得其数学经验公式. 1.7 如果温度是产品唯一的加速因素则可采用阿氏模型(ArrheniusModel),此模式最为常用. 1.8 引进温度以外的应力,如湿度,电压,机械应力等,即为爱玲模型(EyringModel),此种模式适用的产品包括电灯,液晶显示元件,电容器等. 1.9 反乘幕法郎(InverseP

4、owerLaw)适用于金属和非金属材料,如轴承和电子装备等.1.10 复合模式(CombinationModel)适用于同日寺考虑温度与电压 做为环境应力的电子材料(如电容如下式为电解电容器寿命计算公式) 1.11 一般情况下,主动电子零件完全适用阿氏模型,而电子和工控 类成品也可适用阿氏模型,原因是成品灯的失效模式是由大部分主动式电子零件所构成.因此,阿氏模型广泛应用于电子,工控产品行业 2 .加速因子 2.1 阿氏模型起源于瑞典物理化学家 SvandteArrhenius1887 年提出的阿氏反应方程式. R:反应速度 speedofreaction A:温度常数 aunknownnon-

5、thermalconstant EA:活化能 activationenergy(eV) K:Boltzmann 常数,等地 8.623*10-5eV/0K. T:为绝对温度(Kelvin) 2.2 加速因子原理:加速因子即为产品在使用条件下的寿命(Luse) 和高测试应力条件下(Laccelerated)的寿命的比值. 如果产品寿命适用于阿氏模型,则其加速因子悬: AF=e4依X(1/Ts-1/Tu) Ts:室温+常数 273 Tu:高温+常数 273 K:Boltzmann 常数,等地 8.623*10-5eV/0K. 3 .加速因子中活化能 Ea 的计算 3.1 一般电子产品在早天期失效之

6、 Ea 为 0.20.6Ev,正常有用期失 效之 Ea 趋近于 1.0Ev;衰老期失效之 Ea 大于 1.0Ev. 3.2 根据 HP 可靠度工程部(CRE)的测试规范,Ea 是机台所有零件 Ea 的平均值.如果新机种的 Ea 无法计算,可以符 Ea 设为 0.67Ev,做常数处理. 3.3 如按机台所有零件 Ea 的平均值来计算,则可按以下例证参考 Component Number EV TotalEV TrarLsformer量屋器) 5 0.5 25 Resistor 300 056 U8 Inductor建感) 8 0.56 4.48 Capacitor浦容器j 138 0.6 82.

7、8 LinearModule骑腰器) 16 0.7 11,2 Diode(二极飕) 90 1 如 BridgeRectifier 1 1 1 Tran虱st(x寇晶膻) 55 1 55 OpticalIy括13t光甯耦合管) 31 1 31 644 445.98 EA=445.98/644= 0.69252 4 .MTBF 推算方法 4.1 由 MTBF 定义可知,规定产品在总的使用阶段累计工作时间与故障次数的比值为 MTBF,指数(Exponential)分布是可靠度统计分析中使用最普遍的机率分布.指数分布之 MTBF 数值为失效率入的倒数,故一旦知道入值,即可由可靠度函数估算产品的可靠度.

8、 MTBF=总运行时间 TotalOperating(Hrs)/总失效次数 Total Failures MTBF 的估直符合卡方分配原理,其言吾法悬: CHIINV(probability,degrees_freedom)X2(probability,degrees_freedom) 故有以下公式: MTBFupper 2(2r,) T=总时间TotalHours r=失效总数Numberoffailures 二信用等级Confidenceinterval 5 .DMTBF算 DMTBF:平均无故障时间验证 英文全称:DemonstrationMeantimeBetweenfailures

9、计算方法:以温度为加速寿命试验且采用阿氏加速寿命模式 计算公式:(实际使用中,如需要可在分子上乘上 24Hrs 以方便计算时 数) size*Afpowr*AF) Duration:持续测试时间 MTBFspec:平均无故障时间 GEMfactor:GeneralExponentialModel 综合指数 DC:Dutycycle 占空比 Samplesize:样本数 Afpower:加速系数 AF:加速因子 5.1 Duration:持续测试时间, 即一个单位或几个单位的样品在进行寿命试验时总的需要的时间 5.2 GEMfactor:GeneralExponentialModel 粽合指数,

10、此指数一般取常数,其取值标准为按照ConfidenceLevel信心水准进行取值, 常用的值为80%信心水准取3.22;而 90%信心水准日寺取 2.3026. 5.3 DC:Dutycycle 占空比, 即在试验进行开关运行过程中, 运行时间占总时间的百分比.(如 45minON/15minOFF 即其 DC 值即:45min/(45min+15min)=0.75 Samplesize:样本数,根据实际状况确认的做寿命试验的样品数 MTBFSpec:平均无故障时间,实验品规格书上描述的 MTBF 时间数 AFpower:加速系数,即在实验品进行开关运行遇程中,1 小日寺日寺ON 和 OFF时间之和的比值,

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论