按键寿命测试

1、VTech Telecommunications LtdWORK INSTRUCTIONSTITLE按鍵寿命试验1. 目的1.1 制定规范的操作指引,提供试验人员进行按鍵寿命试验.1.2 模拟用户日常使用电话的情形,试验在不同部位的按鍵寿命情況.2. 范围适用于所有电话机成品（除客户特殊要求外）以及物料.3. 参考文件3.1 WQA9151- Reliability Test Items for North American Vtech and AT&T Brand Products.3.2 WQA9152- Reliability Test Items for Vtech Europ

2、e Products.4. 定义无.5. 责任5.1 试验申请者提供试验功能正常的样品，并填写试验申请单.5.2 实验室负责人负责完成所有的可靠性测试,并以E - Mail形式将试验结果 通知Project Leader和申请者，试验完毕后发出的正式的报告，并将样品退 还申请人.5.3 对于Failure的项目，实验室负责人要在當天内通知相关负责人员,并协助 分析Fail的原因.5.4 相关部门在必要时提供改善行动，并且送改善后的Sample到实验室，重做 测试，以确认改善行动是否有效.6. 程序6.1 冲头的调校及安装（按鍵壽命測試）REF. NO.WQA9022PAGE REV.10.0P

3、AGE2 of 4WORK INSTRUCTIONSTITLE|按鍵寿命试验6.1.1 逐一调校冲头上的弹簧行程，用弹力计测量，使之符合按压距离3.0±).2mm 时 压力为 450600g.6.1.3弹力计调校螺丝屮3mmIl ur6.1.2 将调校好的冲头正确地安装在冲压机上測試頻率:5070次/ 1分鐘6.2 检查样品机的所有按键外观装配应良好和功能正常撚后将样品机正确 地安装在冲压机的支架上.6.3 做按鍵寿命试验,VTECH标准要求如下:6.3.1 机械寿命次数种類具体例子要求次數美洲机歐洲机數字按鍵“0 9數字鍵100,000 200,000每次使用開/關机鍵；Menu鍵

4、75,000 10(),000經常使用免提按鍵;音量按鍵；“*及“# 鍵;ITAD 鍵；Delete 鍵50,000 50000經常使用Radio 鍵30,000 30000偶然使用PAGE, Memory dial, Mute, Hold, Redial, Flash, Conferen ce,In tercom"鍵10,00010,000較少使用“PROGRAM 鍵5,000 5,0()06.3.2 试验过程中需每一万次停下來檢查一次，如有问题需详细记录.REF. NO.WQA9022PAGE REV.10.0PAGE3 of 4WORK INSTRUCTIONSTITLE按鍵寿命试验6.3.3 试验过程 中试验项目检查细节Keypad功能,卡鍵，触点导电层烂或脱落,Keypad烂或裂等.7. 试验要求7.1 試驗中和試驗后按鍵功能正常.7