CMMI_管理_指南_阶段缺陷清除率指南

1、银行阶段缺陷去除率指南文档信息：版本：V1.0.0类别：指南密级：内部状态：非受控修订记录:日期版本修订描述作者修订内容:版本修订内容V0.1.0根据内部评审意见对指南进行了修改V1.0.0对文档内的内容及相关文档之间的内容进彳L致性、完整性的检查和修改；对文档参照命名标准和模板要求进行标准性方面的检查和修改目录1 .引言11.1. 目的11.2. 预期读者11.3. 术语表11.4. 参考资料12 .阶段缺陷去除率DRE模型根本数学定义13 .阶段缺陷去除率DRE应用例如21 .引言1.1. 目的本文档目的是为理解阶段缺陷去除率的数学定义及计算提供指引.1.2. 预期读者1、软件开发中央及总

2、行相关部门领导和主管2、EPG全体成员3、工程组全体成员1.3. 术语表无1.4. 参考资料无2 .阶段缺陷去除率DRE模型根本数学定义缺陷注入活动或阶段活动1活动2活动3活动i活动m合计缺活动1D11D*1陷活动2D12D22D*2清活动3D13D23D33D*3除D*j-1活活动jD1jD2jDijD*j动活动nDinD2nDinDmnD*n合计Di*D2*D3*Di*Dm*Dmn计算阶段缺陷去除率(PhaseDRE)的步骤：考察开发过程中哪些活动会为产品注入缺陷考察开发过程中哪些活动会从产品中去除缺陷一般的,注入缺陷的活动执行结束后,会相应地发起缺陷去除活动.如果活动与生命周期阶段一致,

3、可以认为是阶段的缺陷注入和去除.当考察阶段缺陷注入和去除率时,需要注意一个阶段可能包含多个缺陷注入活动和多个缺陷去除活动.执行完缺陷去除活动j之后,分析发现的缺陷,根据这些缺陷的注入原因分别统计缺陷数,并填入上表中相应的位置如上表：去除活动j一共发现了D*j个缺陷,注入活动1到i分别注入了Dij、D2j、一-Dij个缺陷.工程执行完成时,注入和去除活动都被执行,上表就被填写完毕可计算缺陷去除活动j的去除率：解释：分子很显然,是这个去除活动j发现的缺陷总数分母实际上是在进入去除活动j的入口处产品中还遗留的缺陷数,它是：去除活动j之前执行的所有注入活动注入的缺陷总数去除活动j之前执行的所有去除活动

4、发现的缺陷总数两者之间的差值.注意：理论上,产品中的缺陷个数是无法得知的,因此缺陷去除率模型有个假设前提：忽略产品中那些没有被发现的缺陷3 .阶段缺陷去除率(DRE应用例如假定一个工程有4个主要的活动能够注入缺陷,分别是：需求定义概要设计详细设计编码工程生命周期也有同名的4个阶段.同时,开发过程有6个主要的活动能够去除缺陷,分别是：需求评审(需求定义之后、概要设计之前)概要设计评审(概要设计之后、详细设计之前)详细设计评审(详细设计之后、编码之前)单元测试(编码之后)代码评审(编码之后)系统测试(编码之后)并且工程在交付后进行缺陷对应期间也记录、统计了交付后发现的缺陷.工程执行完毕后统计到的缺

5、陷数根据注入和去除活动划分,得下表：缺陷注入活动(或阶段)需求定义概要设计详细设计编码合计需求评审3535缺概要设计评审46468陷详细设计评审61282100清单元测试1025256124415除代码评审0458168230活系统测试12188679195动交付后缺陷对应26182248合计691295003931091日.于7:详细设计评审的DRE=100/(69+129+500)-(35+68)*100%=17%系统测试的DRE=195/(69+129+500+393)-(35+68+100+415+230)*100%=80%考察编码阶段的缺陷去除率时,这个阶段包含了两个缺陷去除活动：单元测试和代码评审.于是,单独考察其中一个活动的缺陷去除率就意义不大了,由于我们认为只要两个活动合起来能够尽可能多的去除缺陷就可以了,单一活动去除率的上下并不重要.因此将单元测试和代码评审合起来作为对编码阶段结束的一个检查点,那么编码阶段的缺陷去除率应该是：(415+230)/(69+129+500+393)-(35+68+100)*100%=73%当然,单独考察一个活动的缺陷去除率也可以.还可以计算某个缺陷去除活动之前所有去除活动总的缺陷去除率,例如：