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文档简介
1、12n检测对象和内容：检测对象和内容：物相定性定量分析，材料合成中的物相确定，药物制备中的晶型测定等；材料结构测定，晶胞参数测定；纳米材料晶粒大小测定；半导体薄膜及多孔材料（粉末、平整的固体平面）的小角衍射(2在0.6-6)。n主要应用领域：主要应用领域：多孔材料、半导体材料、矿物、文物、电池填充材料、药物等结晶物质均可用多晶衍射（XRD）作材料性能及材料结构表征工作。34567892On the interfaceIn the paste10111213141516171802040608010002004006008001000120014001600Y-(Fe,Ni) (220)Ni (
2、220) Intensity/arb.unitY-(Fe,Ni) (111)Ni (111)Y-(Fe,Ni) (200)Ni (200)Ni44Fe56 as-deposit Y-(Fe,Ni) (311)Ni (311)Ni (222)2 /degree204060801000100020003000400050006000 2 /degreeIntensity/arb.unitNi44Fe56 as-deposit 400oC 1h annealingY-(Fe,Ni) (111)Ni (111)Y-(Fe,Ni) (200)Ni (200)Y-(Fe,Ni) (311)Ni (311)Ni (222)191020304050
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