关于碳化硅SiC的知识点_第1页
关于碳化硅SiC的知识点_第2页
关于碳化硅SiC的知识点_第3页
关于碳化硅SiC的知识点_第4页
关于碳化硅SiC的知识点_第5页
免费预览已结束,剩余1页可下载查看

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

1、碳化硅(SiC)是由硅(Si)和碳(C)组成的半导体化合物,属于宽带隙(WBG)系列材料。它的物理键非常牢固,使半导体具有很高的机械,化学和热稳定性。宽带隙和高热稳定性使SiC器件可以在比硅更高的结温下使用,甚至超过200。Co碳化硅在电力应用中提供的主要优势是其低漂移区电阻,这是高压电力设备的关键因素。凭借出色的物理和电子特性的结合,基于SiC的功率器件正在推动功率电子学的根本变革。尽管这种材料已为人们所知很长时间,但由于可提供大而高质量的晶片,在很大程度上将其用作半导体是相对较新的。近几十年来,努力集中在开发特定且独特的高温晶体生长工艺上。尽管SiC具有不同的多晶型晶体结构(也称为多型晶体

2、),但4H-SiC多型六方晶体结构最适合于高功率应用。六英寸的SiC晶圆如图1所示。SiC的主要特性是什么?硅与碳的结合为这种材料提供了出色的机械,化学和热学性能,包括: 高导热率 低热膨胀性和优异的抗热震性 低功耗和开关损耗 高能源效率 高工作频率和温度(在最高200。C的结温下工作) 小芯片尺寸(具有相同的击穿电压) 本征二极管(MOSFET器件) 出色的热管理,降低了冷却要求 寿命长问SiC在电子领域有哪些应用?碳化硅是一种非常适合于电源应用的半导体,这首先要归功于其承受高压的能力,该能力是硅所能承受的高压的十倍之多。基于碳化硅的半导体具有更高的热导率,更高的电子迁移率和更低的功率损耗。

3、SiC二极管和晶体管还可以在更高的频率和温度下工作,而不会影响可靠性。SiC器件(例如肖特基二极管和FET/MOSFET晶体管)的主要应用包括转换器,逆变器,电源,电池充电器和电机控制系统。问为什么在功率应用中SiC能够胜过Si?尽管硅是电子领域中使用最广泛的半导体,但硅开始显示出一些局限性,尤其是在大功率应用中。这些应用中的一个相关因素是半导体提供的带隙或能隙。当带隙较高时,它使用的电子设备可以更小,运行更快,更可靠。它也可以在比其他半导体更高的温度,电压和频率下工作。硅的带隙约为L12eV,而碳化硅的带隙约为3.26eV,几乎是其三倍。为什么SiC可以承受如此高的电压?功率器件,尤其是MO

4、SFET,必须能够承受极高的电压。由于电场的介电击穿强度大约是硅的十倍,所以SiC可以达到非常高的击穿电压,从600V到几千伏。SiC可以使用比硅更高的掺杂浓度,并且可以使漂移层非常薄。漂移层越薄,其电阻越低。理论上,给定高电压,可以将漂移层的每单位面积的电阻减小到硅电阻的l/300o为什么碳化硅在高频下可以胜过IGBT?在大功率应用中,过去主要使用IGBT和双极晶体管,目的是降低在高击穿电压下出现的导通电阻。但是,这些器件具有很大的开关损耗,从而导致产生热量的问题,从而限制了它们在高频下的使用。使用SiC,可以制造诸如肖特基势垒二极管和MOSFET的器件,这些器件可实现高电压,低导通电阻和快

5、速操作。问哪些杂质用于掺杂SiC材料?在其纯净形式中,碳化硅的行为就像电绝缘体。通过控制杂质或掺杂剂的添加,SiC可以表现得像半导体。P型半导体可以通过用铝,硼或钱掺杂而获得,而氮和磷的杂质会产生N型半导体。基于诸如红外线辐射的电压或强度,可见光和紫外线的因素,碳化硅具有在某些条件下而不在其他条件下导电的能力。与其他材料不同,碳化硅能够在很宽的范围内控制器件制造所需的P型和N型区域。由于这些原因,SiC是一种适用于功率器件的材料,并且能够克服硅提供的限制。问SiC如何实现比硅更好的热管理?另一个重要参数是导热系数,它是半导体如何消散其产生的热量的指标。如果半导体不能有效地散热,则会对器件可以承

6、受的最大工作电压和温度产生限制。这是碳化硅优于硅的另一个领域:碳化硅的导热系数为1490W/mK,而硅的导热系数为150W/mKo问与Si-MOSFET相比,SiC反向恢复时间如何?SiCMOSFET和硅MOSFET一样,都有一个内部二极管。体二极管提供的主要限制之一是不希望的反向恢复行为,当二极管在承载正向正向电流时关闭时,就会发生反向恢复行为。因此,反向恢复时间(trr)成为定义MOSFET特性的重要指标。图2显示了1000VSi基MOSFET和SiC基MOSFET的trr之间的比较。可以看出,SiCMOSFET的体二极管非常快:trr和Irr的值很小,可以忽略不计,并且能量损失Err大大

7、降低了。Err=41.0uJErr=O.3uJ问为什么软关断对于短路保护很重要?SiCMOSFET的另一个重要参数是短路耐受时间(SCWT)o由于SiCMOSFET占据芯片的很小区域并具有高电流密度,因此它们承受可能导致热破坏的短路的能力往往低于硅基器件。例如,在采用TO247封装的1.2kVMOSFET的情况下,Vdd=700V和Vgs=18V时的短路耐受时间约为8-10uso随着Vgs的减小,饱和电流减小,并且耐受时间增加。随着Vdd的降低,产生的热量更少,并且承受时间更长。由于关断SiCMOSFET所需的时间非常短,因此,当关断速率Vgs高时,高di/dt可能会导致严重的电压尖峰。因此,应使用软关断来逐渐降低栅极电压,避免出现过电压峰值。问为什么隔离式栅极驱动器是更好的选择?许多电子设备都是低压电路和高压电路,它们彼此互连以执行控制和电源功能。例如,牵引逆变器通常包括低压初级侧(电源,通信和控制电路)和次级侧(高压电路,电动机,功率级和辅助电路)。位于初

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论