关于介质损耗测试

1、关于介质损耗的一些基本概念1、介质损耗什么是介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。2、介质损耗角S在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角）的余角（6）。简称介损角3、介质损耗正切值tgS又称介质损耗因数，是指介质损耗角正切值，简称介损角正切。介质损耗因数的定义如下如果取得试品的电流相量,和电压相量仃，则可以得到如下相量图:介质损耗因数侬5尸被测试品的有功功率P被测试品的无功功率QKIO。%IR士Ic触电阻R,纯电容。总电流可以分解为电容电流Ic和电阻电流IR合成，因此:介质损耗因数（t

2、g6）=上工100%X100H=-K100%UlrIr这正是损失角6=（90。-）的正切值。因此现在的数字化仪器从本质上讲，是通过测量6或者得到介损因数。测量介损对判断电气设备的绝缘状况是一种传统的、十分有效的方法。绝缘能力的下降直接反映为介损增大。进一步就可以分析绝缘下降的原因，如：绝缘受潮、绝缘油受污染、老化变质等等。测量介损的同时，也能得到试品的电容量。如果多个电容屏中的一个或几个发生短路、断路，电容量就有明显的变化，因此电容量也是一个重要参数。4、功率因数cos功率因数是功率因数角的余弦值，意义为被测试品的总视在功率S中有功功率P所占的比重功率因数的定义如下：有的介损测试仪习惯显示功率

3、因数（PF:cos），而不是介质损耗因数（DF:tg6）。一般cos=tg-1=5.573*V=+Ba=1334A这刚好是低频部分的相位和幅度，干扰被完全抑制。变频测量时，仪器需要知道的唯一信息是干扰频率。因为仪器供电频率就是干扰频率，整个电网的频率是一样的。仪器在测量中可以动态实时跟踪干扰频率，将数字滤波器的吸收点时刻调整到干扰频率上。而干扰信号的幅值和相位变化对这种测量是没有影响的。枭用55E工测量时的数字滤波特性用 AI-6000D 做不拆高压引线的 CVT 自激法测量试验及电位(泛华电子)测C2时，高压线芯线和屏蔽、CX线芯线和屏蔽都是低压。三、为什么先测量C13,再测量C2大家知道，

4、C13电容量较小，约2万pF;C2电容量较大，至少4万pF;CN为50pF标准电容器。测量C13时，C2和内CN串连用AI-6000D做CVT自激法测量非常方便，可按下图接线。如果C1是单节电容，母线不能接地；如果C1是多节电容，高压引线可不拆，母线也可接地,C11和C12可用常规正反接线测量,C13和C2用自激法测量。、接线方法如下图:母线Ak6000D0-芯线和屏蔽高压线I内Cn桥体Cx、测量过程及电位接地低压CVT自激法测量中，仪器先测量C13,然后自动倒线测量C2,并自动校准分压影响测C13时，高压线芯线和屏蔽带高压,CX线芯线和屏蔽都是低压当作标准电容器，根据电容串联公式C串=(C2CN)/(C2+CN),由于C2CN,C串CN,这样C2对测量结果影响较小，可忽略不计。反之，如果先测C13,因C13容量较小，和内CN串连后，会把C13的介损加进去，造成标准臂介损增大，引起C2介损减小，造成测量误差四、自激法时高压线拖地会引起介损增大自激法时高压线应悬空不能接触地面，否则其对地附加介损会引起介损增大，可用细电缆连接高压插座与RC串联模型，使6点的电压UN超前变成UN,相应的IN变成IN,Ix相位不变，造成6