ENVI下的统计分析功能

1、ENVI下的统计分析功能(2011-05-11 14:15:13)转载标签： 分类：ENVIenvi统计功能感兴趣区统计背景itENVI下的统计分析功能图像统计是计算表征图像像元值数理统计特征、空间分布特征和空间结构特征的各种参量。ENVI的统计可对整个图像进行 ，也可以对某个感兴趣区或某一类地物分布区进行统计， 统计结果以数字报表或文件形式给出。图像像素统计统计单波段影像的最大、最小值、均值、标准差、协方差和直方图；多波段之间波段间 的统计特征包括协方差矩阵、相关系数矩阵、本征向量和散点分布图等直接统计快速统计快速统计可以快速的统计图像的最大值、最小值、均值、标准差和直方图分布。在Avail

2、able Band List下相应的文件或波段列表上点击右键菜单，点击QuickStatics即可弹出统计界面。0 Available Ban. I =40File Options- TM Bant 1 TM Bant口 TM Ean(口 TM-j TM Bam i -口 TF BantOpen File in ENVI ZoomOpen File in ArcMapAdd Selected File to MemoryClose Selected FileEdit Header.,Quick Stats口 Gray SoleLoad True Color to SelecteTM Band

3、1 (0. Load CIR to Load True Cotor to currentLoad CIR to Fold All File5Unfold All FilesDLms 640 x 400 (Byte) ESQLd Band Display 11*基本统计界面见图，可设置不同的绘图显示、统计信息查看等操作。Suit t$Tfecs ftewtts: cMitiTif ImgFile OptbonsSelect Plot* Clear Flc-tSelect StaiFj l*nas; C ;TGgrtt f litiMTTSI DLMDLQy|roducitsxv- iiug Di

4、m: Full Sreszift ODD poiJits)色#d d d d4 an n m 届 口 *93-|白白四 品&BI4BiK o o o D 00000 1B 1 1 1nu Hu Q c Ta- i-iITpKQW2号打皿 明与M3篝3S . !CI tu4 1 二3”邛 Zl P59 325-13ttj*rV *7方九4 S.3S2Z7S 9,617175 1Q.G2SU17 ?,53D104 7.?i33674Bond 1Ppts r&to 1 Ferceat ； PctQ U 门 Q.0W20H08选择绘图函数:?Statist cs Results: cnJmrjTTig

5、File OptionsSelect Plot， Clear Fl心tMin/Max/MenStandard DeviationHitogfam: Band 1Hktogram: Band 2Histogram: Band 3Histogram: Band 4Histogram: Band 5Histogram Band 6左键的曲线信息查看Hi加M： AH Bands ,( Sidlistics Resuts; can.tmrJmgFile OplionsSHect F】Qt4|中键（滚轮）按下拉框放大) Suustics Results; cariJtinrjmgFilm OptionsS

6、sleet PIql Cleii Pitt之22 0* -2.01 04h1,6101.2k10+P右键弹出图像绘制参数设置功能菜单可绘制图例、曲线紧凑、恢复原始显示、打开文件、绘图参数和设置绘图函数等功用 Sististirs RpsiJts canjrrr ifng File Optrcris select flot T Licar l latXKXX 总,64 z t 1 1LL-二：二二-r二一尸二一二-一二-1一5Plot Ke/Stack Plots Ser Slack Offset .Auto 常v AxisPrevious R”辨(1)Reset RangeCksr PlotA

7、te设置绘图显示参数查看统计报表Edit Option Pici_FunnHelp。因口t p ifmerff-5十二:-TFile InkSk Stji(HI2O 1Hisrogrrirn- Hard IHistogram, florid 2HiitogidrTi. Bdnd 3Hisiogid ii; ajrid 4HiEogf-n; Bmnd 5Hi5：oqrdnnr iMnci 5ITTIDLMDLSC pruWucmaui Mat6曾口_5. imgStdff/17.D50JS9t,73731bZJi56760ZBEEW开.984332(3,01717535.10 IM 110.02

8、Mi725.24&17fi 33040422.593257.9S3474TotolFe手#mtAGC PGt210.00420 aDOB2790.03570-0301345a.10390.1348nt*完整统计选择菜单Basic Tools-Statistics-Compute Statistics ,选择文件后弹出统计界面。守 Compute Statistics Parameters3鼻I统计类型包括Basic Stats（基本统计：最大值、最小值、均值和标准差）Histograms :直方图；Covariance :协方差矩阵、相关系数矩阵和本征向量；Covariance Image :

9、生成协方差、相关系数和本征向量文件；Output to a Statistics File:生成.sta 文件，可通过主菜单Basic-Statics-View Statics File查看；Output to a Text Report File :统计结果输出为文本文件；Report Precision :设置统计精度（浮点数小数点个数）；2） 去除背景值很多时候，实际统计只需要统计部分区域，ENVI可通过感兴趣区或掩膜的方式来实现。（1）感兴趣区统计ENVI的感兴趣区工具启动点击image窗口的Overlay-Region OfInterest。对已有的ROI进行统计可直接点击ROI工具

10、上的Statics 按钮。Band 52,.T. W.-, 理需要注意，点击Basic Too1sHstatistics-ComputeStatistics 功能选择文件时，若选择 ROI,则统at的是ROI的最小外包矩形范围内的图像。fllt； .ankmi no i wotorrpulieInptrl FileS-ih ec! Csine l”flic J RHFE非Cux3eiSufrjL? &ibE L-nagc by BDJytW? Eaten*ill(2)掩膜统计统计时可以通过掩膜的方式将不想统计的区域“掩掉”。,选择显示窗体掩膜创建方式:Basic Too1s-Masking-B

11、ui1d Mask后弹出掩膜定义界面。掩膜创建可选择菜单Options下的选项，可以选择数据范围、注记、ROI、ROI交集、矢量文件等多种创建方式。功能选择文件点击Basic Tools-Statistics-Compute Statistics时，选择掩膜文件即可。统计扩展补丁如需要单独忽略特定值的统计，可以使用统计扩展补丁。Baiic Tools CkEfication Tiandofm F三工 filJa/Guu3aILl有F片!等与 4fi445” 支 HlvH Mlif 1.l日D.r-lOJ VI&-l-.rT用IT悍一krT第3:s:;s:s!. 由R屿片甥 z不本，率fi&c-

12、Do-s 的 mMMM-M88 黑V :造虹W岫岂心:工长3忆一心 什；m门.p石1- ! 0cg 且更M ；19W0 SpO ；?l（K9Qr-Q-w-，或Jr万-S-多波段统计多波段影像的波段间统计可以点击主菜单Basic Tools-Statistics-Sum DataBands,弹出操作界面。可选择波段间的计算函数，有Sum（求和）、Sum，（平方和）、Mean （波段平均值）、Standard Deviation （标准差）、Variance （方差）、Skewness （偏斜度）、 Kurtosis （峰（平均绝对偏差）。度）和 Mean Absolute DeviationResize Data (Spat i al