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文档简介
1、电子产品可靠性预计报告1前言XXX产品名称是XXX系统的组成部分之一,主要是XXXX、XXXX、XXX的 作用和功能。本报告以可靠性模型为基础,根据现有的可靠性数据信息,采用应力 分析方法,预计XXX产品名称可靠性水平。进一步通过分析得到产品的薄弱环节, 并给出相应的改进措施和建议,以期提高产品的可靠性水平。2引用文件GJB 450A-2004装备可靠性通用要求GJB 813-1990可靠性模型的建立和可靠性预计GJB/Z 299C-2006电子设备可靠性预计手册GJB 451A-2005装备可靠性维修性保障性术语技术协议书技术方案3可靠性指标要求XXX型XXXX技术协议书中规定的可靠性定量指
2、标如下。MTBF目标值:XXXXX小时MTBF最低可接收值:XXXX小时4系统定义系统功能与组成XXX产品名称的具体功能如下:(略)XXX产品名称由主板、显卡、时统板、网卡、背板、和两个电源组成。其中, 两个电源模块在实际使用中同时工作,并联使用互为备份,只有在两个电源同时故 障时才会导致XXX产品名称功能失效。任务剖面XXX产品名称全程参与XXX系统的工作。5可靠性建模和预计假设条件XXX产品名称主要由电子产品组成,另外包括少量结构件。由于结构件属于机 械产品,不直接参与任务执行,且结构件设计强度较高,可靠性可视为1。因此XXX 产品名称的可靠性可视作服从指数分布。预计方法XXX产品名称的可
3、靠性预计分为三个步骤:a)考虑到XXX产品名称所采用的元器件种类、型号和工作环境条件均已基本确 定,可参照GJB/Z 299C-2006电子产品可靠性预计手册中的应力方法,预计给 出XXX产品名称各型号元器件的工作失效率指标。b)依据XXX产品名称的工作原理和可靠性关系分析结果,参照GJB 813-1990 建立XXX产品名称各板卡及整机的基本可靠性模型和任务可靠性模型。c)综合利用a)和b)得到的数据和模型,预计给出各板卡和整机的基本可靠 性和任务可靠性(失效率和MTBF)。可靠性模型依据GJB813-1990可靠性模型的建立与可靠性预计中规定的程序和方法建 立XXX产品名称的基本可靠性模型
4、和任务可靠性模型。对于基本可靠性模型,将组 成XXX产品名称各板卡/模块间的可靠性视为串联关系;对于任务可靠性模型,要考 虑实际工作中的串并联和冗余关系。以下为XXX产品名称的基本可靠性和任务可靠 性建模过程。整机基本可靠性模型XXX产品名称的基本可靠性模型为串联模型,依据GJB 813-1990,可靠性数学 模型如下(公式1):九基本 九主板+.y- +九电源十九电源公式中:九其本:XXX产品名称失效率;九主板:主板失效率;J.:卡1失效率;九电源:电源失效率。XXX产品名称的基本可靠性框图如图1:图1 XXX产品名称基本可靠性框图整机任务可靠性模型XXX产品名称的电源是双备份冗余工作,其他
5、模块任何一个故障,系统就会失 效。故XXX产品名称的任务可靠性数学模型为(公式2):入s任务=%板+=一+仆源+ %源/(1+1/2)公式中:九S任务:XXX产品名称失效率;九主板:主板失效率;.,;.:卡1失效率;九电源:电源失效率。XXX产品名称的任务可靠性框图如图2:图2 XXX产品名称任务可靠性框图板卡/模块的可靠性模型通过对各板卡电路功能原理分析可知,各板卡中的元器件的可靠性关系为串联 关系,即任何一个元器件的失效都会导致该板卡故障。因此,板卡中各元器件之间 的可靠性关系为串联关系,板卡失效率为板块中所由元器件失效率之和。同时,板 卡的基本可靠性模型与任务可靠性模型相同。如果某板卡中
6、的元器件数量为n,用九n表示第1n个元器件的工作失 效率,则该板卡的可靠性框图和数学模型为: 元器件 1 元器件 2 元器件 3 元器件 n 图3板卡可靠性框图板卡的可靠性数学模型为(公式3):九板卡=+九2 +九3+九4+九元器件失效率预计用于预计元器件可靠性的相关信息分为两大类:a)元器件基本信息:包括质量等级、类型和参数及工艺特性信息:此类信息参 考元器件使用规格说明书;b)元器件实际使用信息:包括工作温度、工作电应力等,来自于主板电路设计, 和实际加电工作中的测量数据。利用上述两类信息,查GJB/Z 299C即可得到所有元器件的失效率值。6可靠性预计结果元器件失效率预计利用5.3.4节
7、的方法获取各板卡中元器件的相关信息,并通过查询GJB/Z 299C, 获取得到所有元器件的失效率值,预计过程详见附表2。板卡可靠性预计在元器件失效率预计结果的基础上,结合公式3,计算得到各板卡的失效率值。具体如下表所示:表1XXX产品名称板卡可靠性预计结果序号模块数量入值(10-6/ h)备注1主板124.97032显卡113.514734电源模块211.27092单个电源失效率6.3 XXX产品名称整机可靠性预计利用表1中预计得到的各板卡失效率值,结合公式1和公式2,计算得到XXX产品名称整机的基本可靠性和任务可靠性。a)基本可靠性:九基本九主板+,y-+九电源十九电源九二XX.XXXXX
8、x10-6/hMTBF二XXXXX hb)任务可靠性:九二九、+4黄1 + 源+ 源/(1+1/2)九=XX.XXXXX x10-6/hMTBF二XXXXX h因此,XXX产品名称的基本可靠性和任务可靠性均满足技术协议提出的XXXXX小时的MTBF目标值要求。7产品的薄弱环节分析及结论从分析过程和预计结果看,影响和制约XXX产品名称可靠性水平的短板在于 XXX、XXX等器件的可靠性等级不高。虽然目前的设计方案满足满足技术协议有关 可靠性的要求,但考虑到设计余量,建议采用器件二次筛选的控制手段,提高整机 的使用可靠性。设计鉴定后,应在不改变功能、性能的基础上,重点考虑XXX、XXX 的选型等环节
9、,以提高整机的基本可靠性水平,达到可靠性目标值(生产鉴定)。附表1元器件清单序号名称型号数量主;板元器件清单12类瓷介质电容G-CT41L-0805-2C1-100V-104K772光耦GH3201J33固体钽电容CAK55-E-63V-4.7K2342类瓷介质电容G-CT41L-0805-2C1-100V-102K5752类瓷介质电容G-CT41L-0805-2C1-100V-104K37显卡元器件清单1混合钽电容THCL-63V-610K232混合钽电容THC2-50V18000uF-K223固体钽电容CAK55-B-10V-33K114固体钽电容CAK55-D-10V-100K552类瓷
10、介质电容G-CT41L-0805-2C1-100V-104K32时统卡元器件清单1集成电路IC CPU I7-6820EQ SR2DT 2.8G QC 45W FCBGA1440 0100 LF Intel CL806620193910312集成电路IC Intel Panther Point Chipset CM236 SR2CE D1 3.67W 23x23mm FCBGA836 LF Intel GLCM236132类瓷介质电容G-CT41L-0805-2C1-100V-102K342类瓷介质电容G-CT41L-0805-2C1-100V-103K1452类瓷介质电容G-CT41L-18
11、12-2C1-500V-104K15网卡元器件清单12类瓷介质电容G-CT41L-0805-2C1-100V-102K522片式膜电阻RMK2012KB100FMB1203片式膜电阻RMK2012KB103FMB134集成电路LTC4357MPMS8#PBF125运算放大器FX158BHA23电源元器件清单1片式膜电阻RMK3216KB512FMB32片式膜电阻RMK3216B00043片式膜电阻RMK3216KB512FMB24片式膜电阻RMK2012EB6341B15片式膜电阻RMK2012KB104FMB4背板元器件清单序号名称型号数量1片式膜电阻RMK3216KB101FMB872片式
12、膜电阻RMK3216KB102FMB543片式膜电阻RM6332-4WKB101JB354片式膜电阻RMK6332KB202FMB575混合集成电路VXR100-2805S12附表2预计模型信息附表2-1主板失效率预计序号名称型号数量预计方法输入参数输12类瓷 介质电 容G-CT41L-0805-2C1-100V- 104K77299C-2006应力法类别:2类瓷介电容器;环境分类:NS2;质量等级:A2; 电容量:0.1;额定温度:125;环境温度(): 70;工作电压:5;额定电压:100;应力比:0.1;封装结构:片式;类别:2当 环境系数 质量系数( 电容量系: 表面贴装. 1.5;2
13、固体钽 电容CAK55-E-63V-4.7K23299C-2006应力法类别:固体钽电解电容器; 环境分类:NS2; 质量等级:A2; 电容量:4.7;环境温度(): 70;工作电压:5;额定电压:63;应力比:0.1;类别:固体 环境系数 质量系数( 电容量系: 串联电阻, (Pi_SR): 表面贴装.1.2;-序号名称型号数量预计方法输入参数输3集成电 路IC Intel Panther Point Chipset CM236 SR2CE D1 3.67W 23x23mm FCBGA836 LF Intel GLCM2361217F应力法类别:门/逻辑阵列和微处理器;器件类型I: MOS数字和线性 门/逻辑阵列器件;器件类型II:;门数/晶体管数/位数:100;器件特点:数字MOS(HC/HCT/AC/ACT/C/FCT);壳温(): 60;工作功率(W): 0.3;温阻(/W): 0.3;封装类型:FCBGA836;管脚数:836;环境分类:NS2;质量
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