半导体器件物理-MOSFET3公开课一等奖省优质课大赛获奖课件

西安电子科技大学XIDIDIANUNIVERSITY第四章MOS场效应晶体管非理想效应/10/101场效应器件物理4.3MOSFET亚阈值电流:定义/10/10亚阈值电流理想MOSFET：ID=0实际MOSFET：存在亚阈值电流Idsub亚阈区，VGS稍小于VT，表面势：半导体表面处于弱反型区弱反型沟道，形成亚阈值电流IDsubIDsub形成机制？√/10/104.3MOSFET亚阈值电流:形成机制n沟道MOSFET堆积状态：势垒很高→电子无

法跃过→无法形成表面电流弱反型状态：势垒较低→电子有一定几率越过势垒→形成亚阈值电流强反型状态：势垒极低→大量电子越过势垒→形成沟道电流衬底0势能参考点4.3MOSFET亚阈值电流:对器件影响亚阈电流表示式:ID与VGS相关，且随VGS指数增加，若VDS>4（kT/e），最终括号部分快要似等于1，IDsub近似与VDS>无关/10/10半对数坐标中亚阈电流与VGS之间展现直线

4.3MOSFET亚阈值电流:对器件影响/10/10亚阈值摆幅S（Subthresholdswing）：漏电流减小一个数量级所需栅压改变量，S=dVGS/d(lgIDsub)S也是半对数亚阈特征曲线斜率倒数两点法求斜率：(VGS=VT,Ion)，(VGS0,10-10(Ioff)）k=(lgIon-lgIoff)/(VT–VGS0),

S=1/kS小好？大好？Ion变为Ioff，器件关断k越大（S越小），VGS降低能快速关断器件S是量化MOS管怎样随栅压快速关断参数亚阈值摆幅S影响原因S∝(Cox+Cdep+Cit)/Cox；Cit:界面陷阱电容减薄栅氧厚度（Cox增大）、降低衬底掺杂（Cdep减小）、减小表面陷阱密度（Cit减小）

4.3MOSFET亚阈值电流:对器件影响/10/10开关特征变差：VGS略低于VT时，理论上器件关闭因为存在亚阈电流，器件无法正常关闭。静态功耗增加：CMOS电路，总有MOS管处于截止态，若VGS只是稍低于VT，理论器件截止，静态功耗为0。但IDsub存在，静态功耗增大。IDsub只有纳安到微安量级。但大规模IC中包含有上千万甚至数亿个器件，总IDsub可能到达数个安培.减小IDsub影响办法增大COX，减小亚阈值摆幅，使器件能够快速关断提升关断/待机状态下器件阈值电压VT：经过衬底和源之间加反偏，使VT增加，从而使VGS<<VT.VGS下器件脱离弱反型，处于耗尽区，无IDsub，静态功耗大幅降低4.3MOSFET亚阈值电流应用/10/10亚域区利用：VGS比VT小，存在Idsub,，可认为器件导通与正常导通相比，ID小，功耗小。亚域区内栅压变，Idsub变，可实现放大低压低功耗电路中能够使器件工作在亚阈区。利用亚阈特征进行微弱信号放大应用研究正得到越来越大重视/10/104.3MOSFET沟道长度调制效应:机理理想长沟：L`≈L，导电沟道区等效电阻近似不变，饱和区电流饱和实际器件(短沟)：L`<L，导电沟道区等效电阻减小，ID增加,——沟道长度调制效应/10/104.3MOSFET沟道长度调制效应:模型沟道长度调制效应系数：不是一个常数，和沟长相关：放大应用时，影响电压放大倍数参数：饱和区输出电阻模拟放大电路MOSFET器件沟道长度，普通较大：Ro大数字集成电路MOSFET沟长，普通取工艺允许最小值：速度快、面积小、功耗低利用前面ΔL模型得出I-V公式，繁琐不易计算,不适合于器件模型考虑沟道长度调制效应IV惯用表示式：电流伴随VDS升高而上升/10/104.3MOSFET迁移率改变沟道中电场由VDS形成沿沟道方向电场分量由VG形成与沟道垂直方向电场分量对载流子迁移率影响，伴随电场增强，变得都不可忽略/10/104.3MOSFET迁移率改变:纵向电场影响(1)

表面散射：表面电荷散射和

表面不平整散射/10/104.3MOSFET迁移率改变:纵向电场影响(2)表面迁移率（记为μeff）与反型层中垂直方向电场Eeff关系：μ0和E0为试验曲线拟合参数μ0为低场表面迁移率E0为迁移率退化时临界电场Eeff反型层中全部电子受到平均电场，与tox关系不显著，取决于氧化层下方电荷：μeff受温度影响大：晶格散射/10/104.3MOSFET迁移率改变:纵向电场影响(3)VGS增加，反型层电荷有效迁移率降低，漏电流、跨导随栅压增加而增加趋势变缓对漏电流、跨导影响/10/104.3MOSFET迁移率改变:Si情形临界电场强度饱和漂移速度E较低时，μ为常数，半导体载流子漂移速度与沟道方向电场正比E较高时，到达一临界电场EC时，载流子漂移速度将到达饱和速度vSat,使载流子μ下降/10/104.3MOSFET迁移率改变:纵向电场影响(2)有效迁移率（记为μ）惯用经验公式：载流子速度饱和，VDS↑,载流子v不变,电流饱和：若μ为常数，VDS↑，E↑,v↑，直到漏端夹断，发生夹断饱和速度饱和时，器件还未发生夹断饱和，

属于提前饱和，/10/104.3MOSFET迁移率改变:速度饱和效应

饱和漏源电流与栅压成线性关系饱和区跨导与偏压及沟道长度无关截止频率与栅压无关4.3MOSFET迁移率改变:速度饱和效应

VGS－VT<0：弱反型区，ID与VGS指数关系(较小)，gm与VGS指数关系VGS－VT>0(较小)：强反型区，器件易发生夹断饱和，ID与VGS平方关系，中电流，gm与VGS线性关系VGS－VT>0(很大)：器件极难发生夹断饱和，易发生速度饱和，大电流，但跨导饱和。模拟放大电路设计中：放大用MOSFET防止工作在速度饱和区，因为跨导不变，消耗电流（功耗）却在增加,靠近就OK，使gm较大/10/10/10/104.3MOSFET阈值电压修正：

VT与L、W相关性漏、源区扩散结深rj表面空间电荷区厚度xdTn沟道MOSFET短沟道长沟道n沟道MOSFET窄沟道宽沟道/10/104.3MOSFET阈值电压修正：

VT随L改变利用电荷共享模型分析（实际MOSFET）：源衬结和漏衬结耗尽层向沟道区扩展耗尽层内近S/D区部分体电荷电力线中止于源漏区近似认为：左右下方两个三角形内耗尽层电荷在VDB、VSB下产生，只梯形内空间电荷由VGS控制产生。理想情况（长沟器件）：两侧三角形内空间电荷量相对少，近似栅氧下方耗尽层电荷都是在VGS控制产生实际情况（短沟器件）：两侧三角形内空间电荷量相对增加，实际需VGS控制产生电荷降低，VT减小/10/104.3MOSFET阈值电压修正：

VT随L改变沟道越短，由栅控制耗尽层电荷面电荷密度越小，VT越小/10/104.3MOSFET阈值电压修正：

VT随W改变MOSFET半导体表面耗尽层在宽度方向将存在横向展宽现象中间矩形和两侧空间电荷均在VGS作用下产生理想情况(宽沟器件)：两侧空间电荷量相对少，可忽略，只中间矩形内耗尽层电荷需要栅压产生实际情况(窄沟器件)：两侧空间电荷量相对多，不可忽略，阈值反型点需VGS产生耗尽层电荷增多，VT增大沿沟宽W器件剖面图/10/104.3MOSFETVT随W改变:表面电荷若栅边缘处耗尽层扩展相等，均为耗尽层最大厚度XdT，则两侧为1/4圆沟道越窄，由栅控制耗尽层电荷面电荷密度越大，VT越大经过离子注入技术向沟道区注入杂质调整VT，改变了氧化层附近衬底N。离子注入技术是微电子工艺中一个主要掺杂技术，也是控制MOSFET阈值电压一个主要伎俩。离子注入优点是能准确控制杂质总剂量、深度分布和面均匀性，而且是低温工艺（可预防原来杂质再扩散等），同时可实现自对准技术（以减小电容效应）。/10/104.3MOSFET离子注入调整VT:原理p型半导体表面注入受主杂质Na（如B）→半导体表面净掺杂浓度↑→表面更难以反型→VT↑/10/104.3MOSFET离子注入调整VT:原理受主注入剂量（单位面积注入离子数）注入前阈值电压p型半导体表面注入施主杂质Nd（如P）→半导体表面净掺杂浓度↓→表面更轻易反型→VT↓施主注入剂量（单位面积注入离子数）公式前提：全部注入杂质，都参加改变VT实际情况？？/10/104.3MOSFET离子注入调整VT:注入杂质分布注入后平均掺杂浓度注入前掺杂浓度注入深度给定剂量Di后，对VT影响量与杂质注入到S后分布函数相关Delta函数型分布阶跃函数型分布高斯函数型分布:更靠近实际情况，分析较复杂XI<XdT,XI>XdT,VT利用NS求出注入深度单位面积注入离子数DIXdT：注入后最大耗尽层厚度/10/104.3MOSFETMOSFETIC发展若尺寸缩小30％，则

栅延迟降低30％，工作频率增加43％

单位面积晶体管数目加倍

每次切换所需能量降低65％，节约功耗50％MOSFETIC发展趋势：0.25um→0.18um→0.13um→90nm→60nm→45nm→32nm→22nm→16nm，每一代工艺L→kL，k≈0.7，尺寸缩小好处：提升集成度：一样功效所需芯片面积更小提升功效：一样面积可实现更多功效降低成本：单管成本降低改进性能：速度加紧，单位功耗降低完全按（恒定电场）百分比缩小(FullScaling)尺寸与电压按一样百分比缩小电场强度保持不变最为理想，但难以实现（器件阈值电压不能按百分比缩小）/10/104.3MOSFET缩小方式恒压按百分比缩小(FixedVoltageScaling)尺寸按百分比缩小，电压保持不变电场强度随尺寸缩小而增加，强场效应加重普通化按百分比缩小(GeneralScaling)尺寸和电场按不一样百分比因子缩小迄今为止实际做法/10/104.3MOSFET完全按百分比缩小:规则/10/104.3MOSFET完全按百分比缩小:结果按百分比缩小参数：尺寸与电压按一样百分比缩小器件尺寸参数（L，tox，W，xj）：k倍掺杂浓度（Na，Nd）：1/k倍电压V：k倍对其它器件参数影响电场E：1倍耗尽区宽度Xd：k倍电阻R（与W/L成正比）：1倍;总栅电容（与WL/tox成正比）:k倍漏电流I（与WV/L成正比):k倍对电路参数影响器件密度（与WL成反比）：1/k2倍每器件功耗P（与IV成正比）:k2倍器件功率密度（每器件功耗/器件面积）（与IV/WL成正比）:1电路延迟时间（与RC成正比）：k倍/10/104.3MOSFET完全按百分比缩小:小结电压和尺寸不能按同百分比减小，电压缩小量小E伴随工艺尺寸缩小，一定程度上在增加沟道长度减小到一定程度后出现由大电场引发一系列二级物理效应，统称为短沟道效应。包含：ID不饱和，与VDS相关；沟长缩短后，VDS产生高E时载流子速度饱和，跨导下降阈值电压与L、W相关，不再是常数亚阈特征退化，器件关不停诱发器件发生各种击穿：栅氧击穿、漏衬雪崩、源漏穿通影响器件寿命热载流子效应/10/104.3MOSFET完全按百分比缩小:小结为了提升器件性能，L要继续缩小，还必须要预防出现短沟道效应标准：应使短沟道器件保持电学上长沟道特征，标志：VDS>3kt/e,弱反型区IDsub与VDS无关ID与1/L成正比长沟道特征最小沟长（经验公式）：L>=c1[rjtox(WS+WD)2]1/3c1为常数（0.4），rj源漏结深，tox氧化层厚度WS+WD源漏区耗尽层宽度之和有利于器件继续发展技术（可延缓