GB/T 17626.21-2014电磁兼容试验和测量技术混波室试验方法

ICS33100103310020

;

L06....

中华人民共和国国家标准

GB/T1762621—2014/IEC61000-4-212011

.:

电磁兼容试验和测量技术

混波室试验方法

Electromagneticcompatibility—Testingandmeasurement

techniques—Reverberationchambertestmethods

(IEC61000-4-21:2011,IDT)

2014-12-22发布2015-06-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T1762621—2014/IEC61000-4-212011

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语定义和缩略语

3、………………………2

术语和定义

3.1…………………………2

缩略语

3.2………………4

概述

4………………………5

试验环境及其局限性

5……………………5

应用

6………………………6

辐射抗扰度试验

6.1……………………6

辐射发射试验

6.2………………………6

屏蔽效能试验

6.3………………………6

试验设备

7…………………6

混波室确认

8………………7

试验

9………………………8

试验结果试验报告及试验条件

10、………………………8

附录资料性附录混波室概述

A()………………………9

附录规范性附录调谐模式混波室确认

B()……………28

附录规范性附录搅拌模式混波室的确认和试验

C()…………………35

附录规范性附录辐射抗扰度试验

D()…………………40

附录规范性附录辐射发射测量

E()……………………44

附录资料性附录电缆组件电缆连接器波导和无源微波元件的屏蔽效能测量

F()、、、……………49

附录资料性附录衬垫和材料的屏蔽效能测量

G()……………………52

附录资料性附录箱体的屏蔽效能测量

H()……………60

附录资料性附录天线效率测量

I()……………………65

附录资料性附录用场各向异性和场不均匀性系数直接评价混波室性能

J()………67

附录资料性附录混波室确认的辐射发射和抗扰度试验

K()MU———………………74

参考文献

……………………80

图个独立调谐步时典型的场均匀性

A.1200…………20

图小室的理论模式结构

A.210.8m×5.2m×3.9m…………………20

图小Q值带宽高Q值的理论模式结构叠加在th模式上

A.3()60……21

图大Q值带宽低Q值的理论模式结构叠加在th模式上

A.4()60……21

Ⅰ

GB/T1762621—2014/IEC61000-4-212011

.:

图典型混波室

A.5………………………22

图置信度所需的理论采样数

A.695%…………………22

图一个样本固定位置测量的电场分量的归一化

A.7PDF……………23

图N个独立样本固定位置测量的电场分量的平均值的归一化

A.8PDF…………23

图N个独立样本固定位置测量的电场分量的最大值的归一化

A.9PDF…………24

图混波室工作空间

A.10…………………24

图典型探头数据

A.11……………………25

图个探头的x分量均值归一化数据

A.128……………25

图个探头的电场分量的标准差

A.138…………………26

图加载效应试验吸波材料的分布

A.14…………………26

图加载效应试验的加载量

A.15…………27

图加载混波室中个探头电场分量的标准差

A.168……………………27

图混波室确认中探头的位置

B.1………………………34

图时接收功率与搅拌器转动的关系

C.1500MHz,(dBm)(s)………39

图时接收功率与搅拌器转动的关系

C.21000MHz,(dBm)(s)……39

图典型的试验设施示例

D.1……………43

图合适的试验设施示例

E.1……………48

图关于辐射发射的几何因子计算

E.2…………………48

图典型的试验布置

F.1…………………51

图典型试验布置

G.1……………………58

图衬垫和或材料试验典型试验装置安装

G.2/…………59

图确认时的试验装置配置

G.3…………59

图落地式箱体试验的典型试验箱体安装

H.1…………64

图台式箱体试验的典型试验箱体安装

H.2……………64

图搅拌良好的混波室中场各向异性系数的理论与典型测量分布

J.1………………72

图搅拌不好的混波室中场各向异性系数的理论与典型测量分布

J.2………………72

图搅拌良好混波室中场各向异性系数典型测量值与N的关系

J.3…………………73

图典型无意辐射体平均辐射功率与频率的关系

K.1…………………78

图估计的标准不确定

K.2………………78

图基于均值归一化的η置信区间宽度单位为分贝

K.3%[(dB)]……79

图最大电场的各基于均值归一化的区间范围线性单位与独立搅拌器位置N的关系

K.4()………79

表采样数要求

B.1………………………33

表场均匀性限值要求

B.2………………33

表中等和良好的混波室的总场各向异性系数的典型值

J.1“”“”……71

Ⅱ

GB/T1762621—2014/IEC61000-4-212011

.:

前言

电磁兼容试验和测量技术目前包括以下部分

GB/T17626《》:

电磁兼容试验和测量技术抗扰度试验总论

———GB/T17626.1—2006

电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验

———GB/T17626.2—2006

电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验

———GB/T17626.3—2006

电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验

———GB/T17626.4—2008

电磁兼容试验和测量技术浪涌冲击抗扰度试验

———GB/T17626.5—2008()

电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度

———GB/T17626.6—2008

电磁兼容试验和测量技术供电系统及所连设备谐波谐间波的测

———GB/T17626.7—2008、

量及测量仪器导则

电磁兼容试验和测量技术工频磁场抗扰度试验

———GB/T17626.8—2006

电磁兼容试验和测量技术脉冲磁场抗扰度试验

———GB/T17626.9—2011

电磁兼容试验和测量技术阻尼振荡磁场抗扰度试验

———GB/T17626.10—1998

电磁兼容试验和测量技术电压暂降短时中断和电压变化的抗

———GB/T17626.11—2008、

扰度试验

电磁兼容试验和测量技术振荡波抗扰度试验

———GB/T17626.12—2013

电磁兼容试验和测量技术交流电源端口谐波谐间波及电网信

———GB/T17626.13—2006、

号的低频抗扰度试验

电磁兼容试验和测量技术电压波动抗扰度试验

———GB/T17626.14—2005

电磁兼容试验和测量技术闪烁仪功能和设计规范

———GB/T17626.15—2011

电磁兼容试验和测量技术共模传导骚扰抗扰度

———GB/T17626.16—20070Hz~150kHz

试验

电磁兼容试验和测量技术直流电源输入端口纹波抗扰度试验

———GB/T17626.17—2005

电磁兼容试验和测量技术混波室试验方法

———GB/T17626.21—2014

电磁兼容试验和测量技术传导骚扰保护装置的试验方法

———GB/T17626.24—2012HEMP

电磁兼容试验和测量技术三相电压不平衡抗扰度试验

———GB/T17626.27—2006

电磁兼容试验和测量技术工频频率变化抗扰度试验

———GB/T17626.28—2006

电磁兼容试验和测量技术直流电源输入端口电压暂降短时中

———GB/T17626.29—2006、

断和电压变化的抗扰度试验

电磁兼容试验和测量技术电能质量测量方法

———GB/T17626.30—2012

电磁兼容试验和测量技术主电源每相电流大于的设备的

———GB/T17626.34—201216A

电压暂降短时中断和电压变化抗扰度试验

、

本部分是的第部分

GB/T1762621。

本部分按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本部分等同采用国际标准第版电磁兼容第部分试验和

IEC61000-4-21:2011(2)《(EMC)21:

测量技术混波室试验方法

-》。

与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下

:

电工电子产品环境试验概述和指南

———GB/T2421.1—2008(IEC60068-1:1998,IDT)

电工术语电磁兼容

———GB/T4365—2003[IEC60050(161):1990,IDT]

Ⅲ

GB/T1762621—2014/IEC61000-4-212011

.:

无线电骚扰和抗扰度测量设备规范第部分无线电骚扰和抗扰

———GB/T6113.101—20081-1:

度测量设备测量设备

(CISPR16-1-1:2006,IDT)

无线电骚扰和抗扰度测量设备规范第部分无线电骚扰和抗扰

———GB/T6113.203—20082-3:

度测量方法辐射骚扰测量

(CISPR16-2-3:2003,IDT)

电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验

———GB/T17626.3—2006(IEC

61000-4-3:2002,IDT)

本部分做了如下编辑性修改

:

去除了原标准中的等缩略语定义

———IEC、IEEE、IEV、ISO;

根据标准上下文附录中式上一行的和修改为式和式附录

———,K(K.5)“(2)(3)”“(K.3)(K.4)”;

中式上一行的修改为式

K(K.9)“(7)”“(K.7)”;

中在中修改为但有部

———IEC61000-4-21:2003“calibration”IEC61000-4-21:2011“validation”,

分未作修改在本部分中根据原标准的上下文关系将部分修改为

。,,“calibration”

译为确认如中注第行中注第行等

“validation”,“”,C.1.222、C.1.231;

根据公式推导附录中N和N分别用NM和NM代替

———,K.2“-1×(-(-1))×(-(-1))”

修改为N和N分别用NM和NM代替

“-1×(-1)×(-1)”。

本部分由全国电磁兼容标准化技术委员会提出并归口

(SAC/TC246)。

本部分起草单位东南大学上海出入境检验检疫局中国电力科学研究院上海市计量测试技术研

:、、、

究院中国电子技术标准化研究院中国计量科学研究院

、、。

本部分主要起草人周香周忠元张娴景莘慧蒋全兴李妮龚增陈俐谢鸣

:、、、、、、、、。

Ⅳ

GB/T1762621—2014/IEC61000-4-212011

.:

电磁兼容试验和测量技术

混波室试验方法

1范围

的本部分考虑在混波室中的电气和或电子设备的抗扰度试验有意或无意辐射发射

GB/T17626/、

试验和屏蔽效能试验本部分建立了实施这些试验所需的试验程序本部分仅考虑辐射现象

。。。

本部分的目的是建立一个使用混波室评估电气和或电子设备在射频电磁场中的性能和确定电气

/

电子设备的辐射发射等级的通用规范

。

注本部分规定了电磁辐射对设备影响和所关心设备电磁辐射发射的试验方法电磁辐射的仿真和测量不足以定

:。

量确定电磁辐射对设备的影响规定试验方法的主要目的是使试验结果具有充分的可再现性和可重复性以及

。

对电磁效应进行定性分析

。

本部分的目的不是规定适用于特定设备或系统的试验方法而是为所有相关的产品委员会提供通

,

用的参考基准产品委员会应咨询全国无线电干扰标准化技术委员会或全国电磁兼容标准化技术委员

。

会选择辐射发射限值和试验方法由产品委员会负责对其管辖范围内的设备选择合适的试验方法和抗

。

扰度限值也可以采用诸如和等标准中的其他方法1)

,IEC61000-4-3、CISPR16-2-3CISPR16-2-4。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文