标准解读

《GB/T 39123-2020 X射线和γ射线探测器用碲锌镉单晶材料规范》是一项国家标准，旨在为X射线和γ射线探测器所使用的碲锌镉(CdZnTe, 简称CZT)单晶材料提供一套统一的质量和技术要求。该标准详细规定了CZT晶体的物理特性、化学纯度、晶体生长方法、缺陷控制以及性能测试等方面的内容。

首先，在物理特性方面，标准对CZT晶体的密度、电阻率、载流子迁移率等关键参数进行了具体限定，确保材料能够满足高灵敏度与低噪声的应用需求。此外，还特别强调了对于晶体内部微结构如位错密度的要求，以保证其在实际使用中的稳定性和可靠性。

其次，关于化学纯度，文件明确了CZT中主要成分（Cd、Zn、Te）的比例范围，并设定了杂质元素的最大允许浓度值，包括但不限于Fe、Ni、Co等金属离子以及其他非金属污染物。这有助于减少背景噪声并提高能量分辨率。

再者，针对晶体生长工艺，《GB/T 39123-2020》推荐了几种常用的制备方法，如布里奇曼法（Bridgman method）、垂直梯度凝固法（Vertical Bridgman or Vertical Gradient Freeze, VGF）等，并给出了相应的操作指南和技术条件。通过优化生长过程可以有效降低缺陷产生几率，获得高质量的大尺寸单晶。

最后，本标准还包含了详细的性能测试方法及验收标准，涵盖电学性质测量、辐射响应特性分析等内容。这些测试项目不仅用于评估CZT材料的基本属性，也为其后续加工成探测器元件提供了重要参考依据。


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....

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2020-10-11 颁布
  • 2021-09-01 实施
©正版授权
GB/T 39123-2020X射线和γ射线探测器用碲锌镉单晶材料规范_第1页
GB/T 39123-2020X射线和γ射线探测器用碲锌镉单晶材料规范_第2页
GB/T 39123-2020X射线和γ射线探测器用碲锌镉单晶材料规范_第3页
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文档简介

ICS07030

Q65.

中华人民共和国国家标准

GB/T39123—2020

X射线和γ射线探测器用碲锌镉单晶

材料规范

Specificationforcadmium-zinctelluridesinglecrystalmaterialforX-rayand

γ-raydetector

2020-10-11发布2021-09-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T39123—2020

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

要求

4………………………2

测试方法

5…………………2

检验规则

6…………………6

包装标识运输和贮存

7、、…………………8

说明事项

8…………………8

Ⅰ

GB/T39123—2020

前言

本标准按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任

。。

本标准由中国建筑材料联合会提出

。

本标准由全国人工晶体标准化技术委员会归口

(SAC/TC461)。

本标准起草单位西北工业大学陕西迪泰克新材料有限公司上海大学

:、、。

本标准主要起草人介万奇谷智徐亚东查钢强王涛汤三奇魏登科闵嘉华张继军

:、、、、、、、、。

Ⅲ

GB/T39123—2020

X射线和γ射线探测器用碲锌镉单晶

材料规范

1范围

本标准规定了射线和射线探测器用碲锌镉单晶材料的技术要求质量保证规定和交货准备

Xγ、。

本标准适用于射线和射线探测器用碲锌镉单晶材料

Xγ。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

半导体单晶晶向测定方法

GB/T1555

硅片厚度和总厚度变化测试方法

GB/T6618

半导体材料术语

GB/T14264

高分辩率射线衍射测量衬底生长的中成分的试验方法

GB/T24576XGaAsAlGaAsAl

硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法

GB/T29505

氮化镓单晶衬底片射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法

GB/T32188X

3术语和定义

界定的以及下列术语和定义适用于本文件

GB/T14264。

31

.

碲锌镉单晶cadmiumzinctelluridesinglecrystal

闪锌矿结构的固溶体合金可以视为碲化镉和碲化锌固溶而成其分子式为

,(CdTe)(ZnTe);

xxx属于点群空间群

Cd1-ZnTe(0<<1),43m,F43m。

注随着组元的含量x的变化其点阵常数也随之变化主要用于室温射线和射线探测器以及碲镉汞薄

:Zn,;Xγ,

膜的外延衬底

。

32

.

组分x值compositionx

碲锌镉单晶中组元的含量可以视为碲化锌与碲锌镉的摩尔比

Zn,(ZnTe)(CdZnTe)。

33

.

微沉淀相micro-precipitates

受温度场分布和分凝效应影响碲锌镉晶体生长过程中可能形成镉和碲的颗粒状微沉淀相其直径

,,

不大于对晶体质量存在较大的影响

100μm,。

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