JJF 1236-2010半导体管特性图示仪校准规范

中华人民共和国国家计量技术规范

JJF1236—2010

半导体管特性图示仪校准规范

CalibrationSpecificationforSemiconductorDeviceCurveTracers

2010-01-05发布2010-04-05实施

国家质量监督检验检疫总局发布

JJF1236—2010

半导体管特性图示仪校准规范췍췍

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SemiconductorDeviceCurveTracers

本规范经国家质量监督检验检疫总局于年月日批准并自

201015,

年月日起施行

201045。

归口单位全国无线电计量技术委员会

:

主要起草单位中国电子技术标准化研究所

:

参加起草单位北京无线电仪器厂

:

上海新建电子仪器有限公司

本规范由全国无线电计量技术委员会负责解释

JJF1236—2010

本规范主要起草人

:

陈连启中国电子技术标准化研究所

()

于利红中国电子技术标准化研究所

()

刘冲中国电子技术标准化研究所

()

参加起草人

:

蔡福明北京无线电仪器厂

()

徐长风上海新建电子仪器有限公司

()

JJF1236—2010

目录

范围……………………

1(1)

引用文献………………

2(1)

术语……………………

3(1)

概述……………………

4(1)

计量特性………………

5(2)

校准信号……………

5.1(2)

轴部分……………

5.2Y(2)

轴部分……………

5.3X(2)

阶梯部分……………

5.4(2)

集电极功耗限制电阻………………

5.5(2)

校准条件………………

6(3)

环境条件……………

6.1(3)

校准用标准器及其他设备…………

6.2(3)

校准项目及校准方法…………………

7(3)

校准项目……………

7.1(3)

校准方法……………

7.2(4)

校准结果的表述………………………

8(15)

复校时间间隔…………

9(15)

附录校准证书的内容………………

A(16)

附录测量不确定度评定的实例……………………

B(19)

JJF1236—2010

半导体管特性图示仪校准规范

1范围

本规范适用于具有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪以下简称图示仪

()

的校准

。

2引用文献

半导体管特性图示仪通用技术要求

GB/T13973—1992

半导体管特性图示仪测试方法

GB/T13974—1992

使用本规范时应注意使用上述引用文献的现行有效版本

。

3术语

集电极电流回流端

3.1collectorcurrentcircuitfluencepoint

集电极电流流经电流取样电阻的返回端用符号▽表示

,“”。

阶梯信号归一化电路

3.2normalizedcircuitofstepsignal

阶梯信号归一化电路就是把各种不同幅值的阶梯信号级或级通过

“”(V/A/),

适当的比例变换处理后统一变为级的数值处理电路

、,1V/。

4概述

图示仪由主机部分显示屏及其控制部分插入单元包括偏转单元偏转

()、(Y、X

单元集电极扫描电压单元阶梯信号单元与附属装置等组成组成框图如图所

、、),1

示图示仪主要用于对所有二端三端的半导体器件进行分析和直流参数测量