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UDC621.382.3:621.317.75L86中华人民共和国国家标准CB/T13974-92半导体管特性图示仪测试方法Testmethodsforsemiconductordevicecurvetracers1992-12-17发布1993-07-01实施国家技术监督局发布
中华人民共和国国家标准半导体管特性图示仪测试方法CB/T13974-92Testmethodsforsemiconductordevicecurvetracers1主题内容与适用范围本标准规定了半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的测试方法及误差计算等。本标准所用的术语符合GB/T13973《半导体管特性图示仪通用技术条件》中第三章的规定本标准适用干测试GB/T13973中所规定的性能特性2引用标准GB4793:电子测量仪器安全要求GB6587.7电子测量仪器基本安全试验GB6592电子测量仪器误差的一般规定GB6593电子测量仪器质量检验规则GB/T13973半导体管特性图示仪通用技术条件3测试的一般要求3.1」被测图示仪及测试设备均应在各自产品标准中规定的预热时间后进行测试。3.2测试时,观察者应正视被测图示仪屏幕,观察距离一般为25±10cm3.3被测图示仪的插入单元及有关附属装置通常应与主机连接在一起进行测试,3.4产品标准的测试方法中,应规定被测图示仪在测试时面板控制件的合理安放位置,以尽可能地排除机内其他电路对测试造成的影响。3.5本标准规定了图示仪性能特性的基本测试方法,可采用其他更先进的方法测试,若发生异议时,以本测试方法为仲裁4测试仪器、设备与要求4.1测试仪器、设备4.1.1供给量设备标准直流电流源;b.标准电压源;C·可调直流电压源;d.正弦信号发生器;标准脉冲电压发生器。e.4.1.2侧
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