JJF 1702-2018α、β平面源校准规范

中华人民共和国国家计量技术规范

JJF1702—2018

α、β平面源校准规范

CalibrationSpecificationforα、βPlanesSource

2018-02-27发布2018-08-27实施

国家质量监督检验检疫总局发布

JJF1702—2018

、平面源校准规范췍췍

αβ췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍

췍JJF1702—2018췍

CalibrationSecificationfor췍췍

췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍

p췍

췍代替JJG788—1992췍

췍췍

α、βPlanesSources

归口单位全国电离辐射计量技术委员会

:

起草单位上海市计量测试技术研究院

:

中国计量科学研究院

本规范委托全国电离辐射计量技术委员会负责解释

JJF1702—2018

本规范起草人

:

唐方东上海市计量测试技术研究院

()

何林锋上海市计量测试技术研究院

()

梁珺成中国计量科学研究院

()

徐一鹤上海市计量测试技术研究院

()

张明中国计量科学研究院

()

刘皓然中国计量科学研究院

()

JJF1702—2018

目录

引言

………………………(Ⅱ)

范围

1……………………(1)

引用文件

2………………(1)

术语和计量单位

3………………………(1)

术语

3.1…………………(1)

计量单位

3.2……………(1)

概述

4……………………(1)

计量特性

5………………(1)

表面发射率

5.1…………(1)

表面发射率的不均匀性

5.2……………(2)

校准条件

6………………(2)

环境条件

6.1……………(2)

测量标准

6.2……………(2)

校准项目和校准方法

7…………………(2)

表面发射率

7.1…………(2)

表面发射率的不均匀性

7.2……………(3)

校准结果表达

8…………(4)

复校时间间隔

9…………(4)

附录平面源校准记录推荐格式

Aα、β………………(5)

附录平面源校准证书内页内容

Bα、β………………(6)

附录平面源表面发射率校准结果不确定度评定示例

Cβ…………(7)

Ⅰ

JJF1702—2018

引言

本规范按照国家计量校准规范编写规则编写

JJF1071—2010《》。

与相比除编辑性修改外本规范主要技术变化如下

JJG788—1992,,:

由检定规程改为校准规范

———;

名称由标准平面源改为平面源校准规范

———“α、β”“α、β”;

将原规程检定项目表面发射率和活度修改为校准项目表面发射率

———“”“”;

适用范围中增加对粒子能量范围的限定

———β;

平面源表面发射率的计算由绝对测量的计算方式修改为适用于绝对和相对测量

———

的计算方式

;

删除原规程检定项目非活性面的放射性污染

———“”;

修改了标准平面源表面发射率不均匀性的测量条件要求与计算方法

———。

本规范的历次发布情况如下

:

JJG788—1992。

Ⅱ

JJF1702—2018

、平面源校准规范

αβ

1范围

本规范适用于表面发射率为26-1的平面源和表面发射率为3

(10~10)minα(10~

6-1的平面源的校准粒子的最大能量大于等于

10)minβ,β150keV。

2引用文件

本规范引用下列文件

:

通用计量术语及定义

JJF1001—2011

核科学技术术语第部分核物理与核化学

GB/T4960.1—20101:

凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本规范凡是不注日期的引用文

,;

件其最新版本包括所有的修改单适用于本规范

,()。

3术语和计量单位

术语

3.1

界定的及以下术语和定义适用于本规范

JJF1001—2011、GB/T4960.1—2010。

平面源

3.1.1planesource

一种带衬底的板状放射源

。

源表面发射率

3.1.2[]surfaceemissionrate

单位时间内从平面源表面球面度发射的特定种类能量超过特定值的粒

,(2π)、

子数

。

计量单位

3.2

源表面发射率平面源球面度上每分钟的粒子数符号-1

[]:(2π);:min