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测量系统分析(测量系统分析(MSA)测量系统分析(MSA)指Measurement MMeasurementSSystemsA ysis百仕瑞顾问BESTWAYISO/TS16949:2002ISO/TS16949:2002与要素为分析每种测量和试验设备系统得出的测量结果存在的变差,必须进行适当的统计研究。此要求必须适用于在控制计划中 量系统。所用的分析方法及接收准则必须与顾客关于测量系统分析的参考手册相一致。如果得到顾客的批准,也可采用其它分析方法和接收准则。百仕瑞顾问BESTWAY百仕瑞百仕瑞顾问BESTWAY样件生产SPC手 百仕瑞顾问BESTWAY 页 页,共注:在“评价/测量技术”栏目中以“▽”符号标识的量具需 量系统(MSA)分析百仕瑞顾问BESTWAY样 试生 生控制计主要联系人/日期(编制日期(修订零件编号/更改等级顾客工程批准/日期(如需要零件名称/描述供方/工厂批准/日期顾客质量批准/日期(如需要供方/供方代其它批准/日期(如需要其它批准/日期(如需要零号过程名称置、机器、特分 计产过规范/公样本控制方容频进货检内游标卡硬内游标卡车外圆验内游标卡据测量系 百仕瑞顾问BESTWAY人员(操作者、检验员测量仪器(卡尺、千分尺、万工显—量的环境条件(车床旁、测量室 百仕瑞顾问BESTWAY 测量系统分析测量系统分析—— 百仕瑞顾问BESTWAY 计量型数据Variable计数型数据Attribute百仕瑞顾问BESTWAY—对产品特性产生错误分级的概率 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 目的是在验证一个测量系统一旦被认为是可行的续具有恰当的统计特性。—常见的就是“量具R&R” 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 建立如下所示的均值和极差图(XR图观察分辨率分别为0.001″和0.01″的二个测量百仕瑞顾问BESTWAY测量系统的分辨力测量系统的分辨力(分辨率不足对控制图的影响百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 选择分辨力按比例小于规范或过程变差,以获得足够的分选择分辨力按比例小于规范或过程变差,以获得足够的分辨力, 百仕瑞顾问BESTWAY ≤Ơ百仕瑞顾问BESTWAY百仕瑞顾问BESTWAY百仕瑞顾问BESTWAY百仕瑞顾百仕瑞顾问BESTWAY类义示分辨倚观测平均值与基准的差性量具的预期工作范内偏倚的变化不同评价人,测量一特性观测平均值变差百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 测量系统变差总变差(TV)MPV+ 百仕瑞顾问BESTWAY MSV<百仕瑞顾问BESTWAY S标W工件(如,零件I仪P人/程E环
这五个字母、、、E纳的测量系统六个基本要素,以确保达W、、、E准、工件、仪器、人、程序及环境。这百仕瑞顾问BESTWAY百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 的1/10 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY&R 产品名规格/型顾客名量具名量具编特分析内容和分析方频预计完特(符号性1游标卡内√√12硬√1◎3千分卡外√√1◎4通/止内√1备核审制百仕瑞顾问BESTWAY11 百仕瑞顾问BESTWAY 偏倚的概念和定偏倚:对同样的零件的同样特性,测量的观测平均值(在可重复条件下的一称√测量系统的系统误差分析 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY1.21.2基准值 百仕瑞顾问BESTWAY √√一个基准值可通过采用更高级别的测量设备(例如:更高的精度或更百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY ;有些测试没有行业。 百仕瑞顾问BESTWAY 校准时,可使用GoldenUnits间比较:在预定的条件下,2个 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY X=nσr={max(xi)-这里d2可以从附录C中查到,g=1,m百仕瑞顾问BESTWAY百百仕瑞顾问BESTWAY百仕瑞顾问BESTWAY百百仕瑞顾问BESTWAY0落在围绕偏倚值1-а置信区间以内,偏倚在а水平是可接受的。 百仕瑞顾问BESTWAY 11)、一个制造工程师在评价一个用来监视生产过程的新的测量系统。测 百仕瑞顾问BESTWAY 2)2)、偏百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY (X标准偏差{max(xi)min(xi)}/d2均值的标准差=σr2=偏倚显著t-百仕瑞顾问百仕瑞顾问BESTWAY仪器质量差设计或一致性不好 百仕瑞顾问BESTWAY 零件尺寸、位置、操作者技能、疲劳,观察错误(易读 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 22 百仕瑞顾问BESTWAY 2.12.1线性√√测量系统的系统误差分量 百仕瑞顾问BESTWAY NoReference百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 偏倚i,j=Xi,j-(基准值)i 偏倚ijmXi=yiaxi百仕瑞顾问BESTWAYxyxy y:a斜x2 x)bs2byiaxigm百仕瑞顾问BESTWAY值值bax0 (x0(xi2 1值bax022(xi百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 99)、结果分析—H0:a=0斜率 tagm2,1s(xx百仕瑞顾问BESTWAYH0:b=0截距(偏倚 t(xx)22百仕瑞顾问BESTWAY百仕瑞顾问BESTWAY2.32.31)、一个工厂主管希望对过程采用新测量系统。作为的一部分,需要评价测量系统的线性。基于已证明的过程变差,在测量系统操作量程内 百仕瑞顾问BESTWAY 12345试验123456789百仕瑞顾问百仕瑞顾问BESTWAY百百仕瑞顾问BESTWAY2.42.4 百仕瑞顾问BESTWAY 缺乏—通风、动力 磨损或损坏的基准,基准出现误差—最小/最大仪器质量差设计或一致性不好 百仕瑞顾问BESTWAY 零件尺寸、位置、操作者技能、疲劳、观察错误(易读 百仕瑞顾问BESTWAY 33、稳 百仕瑞顾问BESTWAY3.13.1稳定性测量过程,该过程在普通原因变差(受控)条件下运行,测量稳定性代表测量系统在运行周期(√ 百仕瑞顾问BESTWAY TimeTime百仕瑞顾问BESTWAY3.23.2百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 3.33.3—与统计稳定性 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 测量周期:自年机械号码 质量特性:内 操作者月日至年月日(每3天1次,每次测量5次)百仕瑞顾问BESTWAY测定值XR样组测定值XR23456789 X控制CL=UCL=X+A2LCL=X-A2RCLRUCL=LCL=D32.查系数A2,D4,D3百仕瑞顾问BESTWAY测量周期:自年机械号码 质量特性:内操作者月日至年 日(每3天1次,每次测量5次)百仕瑞顾问BESTWAY测定值XR样组测定值XR362853474435826547568549455555336百百仕瑞顾问BESTWAY百仕瑞顾问百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问百仕瑞顾问BESTWAY3.53.5a、偏倚改变了确定原因并改正——百仕瑞顾问BESTWAY百仕瑞顾问百仕瑞顾问BESTWAY环境变仪器质量差设计或一致性不好 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 44、重复性和再现性分析方 百仕瑞顾问BESTWAY4.14.1量具GR&R/R&R也被称为大样法(Long百仕瑞顾问BESTWAY4.24.2重复性()易使人误解。但事实上,重复性是在确定的测量条件下连续试验得到的普通原因(随差)法、操作者、环境和假设条件时,对于重复性最佳的术语是系统内部变差。除了设备内部变差以外,重复性也包括在特定测量误差模型下任何情况 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 4.34.3再现性再现性(传统上把再现性看作“评价人之间”的变异):再现性通常定义为由不同的评价人,采用相同的测量仪器,测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。手动仪器受操作者技术影响常常是实际情况,然而,在测量过程即自动操作系统)中操作者就不是主要的变差源了。由于这个原因,为此,再现性被看作是测量系统之间或测量条件之间的平均变差。√由不同的评价人使用同一量具,测量一个零件的一个特性时产生的测量平均值的变√对于产品和过程条件,可能是评价人、环境(时间)或方法的误差√通常指A.V-评价人变差系统间(条件)百仕瑞顾问BESTWAY3).1选择2-3个操作员(至少2人)在全然不知情的状况下利用校准合格的量 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 33).2操作员或进行%R&R测量系统分析的工作人员将所测量的结果记录于“零3).3负责组织此项测量系统分析研究的工作人员,依据“零件评价人平均值和 百仕瑞顾问BESTWAY 百百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY B)B)、如果有一半以上或的平均值落在控制限之外,则该测量系统足以检 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 百百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY百百仕瑞顾问BESTWAY55).2 百仕瑞顾问BESTWAY 6).1选择2-3个操作员(至少2人)在全然不知情的状况下利用校 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 百百仕瑞顾问BESTWAY(1)(1)百仕瑞顾问BESTWAY项目评价人1评价人2零件1234512345123均值极差XR百百仕瑞顾问BESTWAY分别计算每个操作者对各个r次测量的极差Raj,Rbj,Rcj;j 总平均极差R(RaRb Rm)/MLCLRRD3D3,D4可根据试验次数r,查表,当r7时,D30百仕瑞顾问BESTWAY百百仕瑞顾问BESTWAYAj,Bj,Cj ,MXj (ABC...MXA,XB,XC ,1(AA......A1(XXX......X)XDIEFMaxX百仕瑞顾问BESTWAY百百仕瑞顾问BESTWAY5.15σr2时K1=r3时K1=(XDIFF×K2)2-(EV2百仕瑞顾问BESTWAYm2人时,K2=m3人时,K2=AV0 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问百仕瑞顾问BESTWAY66).4.3.3测量系统双性(GRR或R&R (EV)26).4.3.4零件变差K32345678 0.70710.52310.44670.40300.37420.35340.33750.3249百仕瑞顾问BESTWAY百仕瑞顾问百仕瑞顾问BESTWAY66).4.3.5总变差TV=(R&R)26).4.3.6各变差占总变差的百分6).4.3.7计算数据分级数分级数(ndc)=1.41×PV 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY百仕瑞顾问百仕瑞顾问BESTWAY样本容20304050607896).56).5GRRR&R 百仕瑞顾问BESTWAY 应用—零件尺寸、位置、操作者技能、疲劳,观察误差(易读性、视差) 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 66).6GRRR&Rd)、分级数(ndc)≧5,(ndc取整数) 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY ⅠⅡⅢⅡⅠ百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY 百仕瑞顾问BESTWAY百仕瑞顾问百仕瑞顾问BESTWAYBA6 3总AA与B百仕瑞顾问BESTWAYA与C百
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