河北科技大学-联用技术

其次十一章一、概述generalization二、GC-MS联用技术hyphenatedtechnologyofGC-MS三、LC-MS联用仪hyphenatedtechnologyofLC-MS联用技术2023/2/25一、概述

generalization质谱：纯物质结构分析色谱：化合物分别色谱-质谱联用：共同优点GC-MS；LC-MS；CZE-MS（毛细管电泳-质谱）困难点：载气(或流淌液)的分别；出峰时间监测；仪器小型化；关键点：接口技术(分子分别器)2023/2/25二、GC-MS联用仪器

hyphenatedtechnologyofGC-MSSampleSample

58901.0DEG/MINHEWLETTPACKARDHEWLETTPACKARD5972AMassSelectiveDetectorDCBA

ABCDGasChromatograph(GC)MassSpectrometerSeparationIdentificationBACDADBCMS2023/2/25GC-MS中的分子分别器分子分别器类型：微孔玻璃式、半透膜式和喷射式三种。喷射式分子分别器：由一对同轴收缩型喷嘴构成，喷嘴被封在一真空室中，如图所示。可做成多级。2023/2/25四极杆质量分析器

（QuadrupoleMassFilter）+ElectronBeamABCSampleinIonBeam2023/2/25仪器结构色谱-四极杆质谱仪结构示意图2023/2/25四极杆质量分别器2023/2/25仪器与结构2023/2/25飞行时间质量分析器2023/2/25三、LC-MS联用仪器

hyphenatedtechnologyofLC-MS1.大气压电离技术（API）（1）电喷雾电离（APIElectrospray）RayleighLimitReached++++++++++-----++++++++++-----++++++--++++++--Evaporation++ChargedDroplets试样离子准分子离子AnalyteIonsSolventIonClustersSalts/IonpairsNeutrals++++++++--其他离子2023/2/25液质联用与气质联用的区分:气质联用仪(GC-MS)是最早商品化的联用仪器，适宜分析小分子、易挥发、热稳定、能气化的化合物；用电子轰击方式（EI）得到的谱图，可与标准谱库对比。液质联用(LC-MS)主要可解决如下几方面的问题：不挥发性化合物分析测定；极性化合物的分析测定；热不稳定化合物的分析测定；大分子量化合物（包括蛋白、多肽、多聚物等）的分析测定；没有商品化的谱库可对比查询，只能自己建库或自己解析谱图。2023/2/25Electrospray，API电喷雾电离流出液在高电场下形成带电喷雾，在电场力作用下穿过气帘；气帘的作用：雾化；蒸发溶剂；阻挡中性溶剂分子2023/2/25Electrospray，API电喷雾电离电喷雾产生多电荷离子，相对分子质量Mr计算：选相邻峰，电荷n，n+1m1=(Mr+n)/2m2=(Mr+n+1)/(n+1)计算结果如表。不适用于非极性化合物2023/2/25（2）大气压化学电离（APCI）热喷雾(100-120C)，化学电离;适用于热稳定化合物分析2023/2/25大气压化学电离（APCI）DielectriccapillaryHighwattageheaterHPLCinletCoronadischargeneedleVaporizerNebulizergas+++++++++++++++++++++++2023/2/252.离子阱质量分析器特定m/z离子在阱内确定轨道上稳定旋转，变更端电极电压，不同m/z离子飞出阱到达检测器；2023/2/253.LC-MS(离子阱)联用仪器结构示意图2023/2/254.LC-MS(四极杆)联用仪器结构示意图2023/2/25电感耦合等离子体-质谱法InductivelyCoupledPlasma–MassSpectrometry(ICP-MS)同时测定痕量多元素的无机质谱技术2023/2/25Introduction从分析的对象看，质谱法可以分为原子质谱法和分子质谱法。原子质谱法又称无机质谱法，是将单质离子依据质荷比的不同进行分别和检测的方法。它广泛应用于物质试样中元素的识别和浓度测定。2023/2/25PartI:ICP-MS的起源和发展1960s~70s，问题的提出电感耦合等离子体-原子放射光谱技术(ICP-AES)

火花源无机质谱用于痕量元素分析(SSMS)

优点：痕量多元素同时测定 分析速度快 样品引入简单

缺点：光谱干扰严重优点：谱图简单，分辨率适中，检出限低缺点：样品制备困难，分析速度慢 常规离子源效率低ICP-AES+SSMSICP-MS2023/2/25分析速度： 4~6个样品/小时m/z记录范围：6~238（Li~U）单同位素元素灵敏度：0.1mg/g精度：~25%全质量范围内的自动扫描操作者对离子源的限制程度尽可能小应用范围：地质探讨2.ICP-MS最初的性能设计要求(1971,3)KeyPoint:

连续高压离子源和质谱真空室之间的接口技术2023/2/253.元素分析的质谱时代1980,Houk&Fassel首次发表ICP-MS联用技术的工作

(两级真空接口技术，AmesLab.,IowaUniver.,USA)1983,“匹兹堡化学年会”，第一台ICP-MS商品仪面世

(Elan250,Sciex)1990,“IthastrulybecomeatechniqueforMASSES”

(Dr.Koppenaal)2000,全世界共有3500~4000台ICP-MS仪器国内：中国科技高校，南京高校，中山高校，南开高校，北京高校，中国地质高校，北京科技高校，浙江高校，厦门高校；中科院高能物理所，广州地化所，长春应化所，生态环境探讨所，国家标准物质探讨中心，北京有色金属探讨总院，国家地质中心，原子能所……2023/2/25ICP-MS检测限及质量分析范围2023/2/25ICP－MS分析性能测定对象：绝大多数金属元素和部分非金属元素检测限：110-5(Pt)~159(Cl)ng/mL分析速度：>20samplesperhour精度：RSD<5%离子源稳定性：优良的长程稳定性自动化程度：从进样到数据处理的全程自动化和远程限制应用范围：地质、环境、冶金、生物、医药、核工业可测定同位素的比率2023/2/25PartII:ICP-MS系统组成及工作原理2023/2/25原子质谱分析包括下面几个步骤：原子化将原子化的原子大部分转化为离子离子依据质荷比分别计数各种离子的数目2023/2/25BasicInstrumentalComponentsofICP-MS进样系统等离子体源接口质谱仪进样系统等离子体源接口质谱仪2023/2/25ATypicalICP-MSin1990s(PE,PlasmaQuadII)进样系统等离子体源接口质谱仪2023/2/25ICP-MSLab.inPhys.Sci.Center,USTC(ThermoVGElemental,PlasmaQuadIII)2023/2/25ATypicalICP-MSLaboratoryin2000s(PE,SciexELAN6000)2023/2/251.电感耦合等离子体等离子体的一般概念等离子体指的是含有确定浓度阴阳离子能够导电的气体混合物。在等离子体中，阴阳离子的浓度是相同的，净电荷为零。通常用氩形成等离子体。氩离子和电子是主要导电物质。一般温度可以达到10,000K。2023/2/25物理构件石英炬管(Fassel型)耦合负载线圈（2~3圈水冷细铜管）射频发生器（供应能量）Tesla线圈（点火装置）2023/2/25冷却气：等离子体支持气体，保护管壁辅助气：保护毛细管尖雾化气：进样并穿透等离子体中心（常用Ar,N2,He等惰性气体）石英炬管及载气由三个同心石英管组成，三股氩气流分别进入炬管。2023/2/25ICP焰炬的形成形成稳定的ICP焰炬，应有三个条件：高频电磁场、工作气体以及能维持气体稳定放电的石英炬管。在管子的上部环围着一水冷感应线圈，当高频发生器供电时，线圈轴线方向上产生猛烈振荡的磁场。用高频火花等方法使中间流淌的工作气体电离，产生的离子和电子再与感应线圈所产生的起伏磁场作用，这一相互作用使线圈内的离子和电子沿图市所示的封闭环路流淌；它们对这一运动的阻力则导致欧姆加热作用。由于强大的电流产生的高温，使气体加热，从而形成火炬状的等离子体。2023/2/25等离子体工作原理(b)加电磁场(a)通气点火(c)(d)碰撞电离(e)形成ICP2023/2/25样品溶液在ICP中的历程气溶胶M(H2O)+X-固体(MX)n气体MX原子M离子M+Inductionzone2023/2/252.ICP与MS的接口(Interface)离子的提取 采样锥(samplingcone)

截取锥(skimmercone)离子的聚焦 离子透镜组真空系统一个机械泵一个分子涡轮泵2023/2/25离子的提取2023/2/25离子透镜组的聚焦作用R.Thomas,Spectroscopy16(2001)38–44截取锥后正离子之间的排斥作用离子透镜组的作用机制2023/2/25四极杆质谱(QuadrupoleMass)

3.质谱仪射频和直流电场同时作用下的振动滤质器2023/2/25双聚焦扇形磁场质谱(Double-focusedMagnetic-SectorMassSpectrometer)N.Jakubowskiaet.al.,SpectrochimicaActa53B(1998)1739–1763方向聚焦和动能聚焦扇形磁场偏转分别静电分析器消退相同质量离子间的动能差别具有更高的辨别率2023/2/25飞行时间质谱(Time-of-flightMS)M.Balcerazak,AnalyticalSciences19(2003)979-989各离子动能相同，飞行速度不同分析速度远大于四极杆质谱2023/2/25固体激光烧蚀4.ICP-MS样品引入系统（进样方式）氢化物2023/2/25雾化器

高速气流在毛细管尖形成负压，带动样品溶液从管尖喷出雾化为小液滴雾室 液滴与雾室内壁碰撞，较大的液滴聚集为废液流出；较小的液滴分散为气溶胶进入ICPMeinhard同心玻璃雾化器样品传输效率低毛细管口易堵塞(<4%)回旋型单通路雾室ToICP对液体试样的雾化2023/2/25流淌注射进样(a)Sampling(b)Injection样品用量少对溶液TDS和粘度要求不高设备简洁灵敏2023/2/25氢化物发生/气体发生进样优点:~100%传输率；与溶液基体充分分离；具有预富集的效果氢化物发生器M+

NaBH4

MHn+BH3+Na+(M=As,Bi,Ge,Pb,Sb,Se,Sn,Te,Cd,Hg*)2023/2/25电热蒸发干脆进样进样量少传输率高(>60%)可预先除去溶剂可预先除去基体F.Vanhaeckeet.al.AnalBioanalChem.17(2002),933-9432023/2/25激光烧蚀法——原位(insitu)探测技术仪器原理优点：原位无损分析 重现性好，线性范围宽 适用样品类型多（钢铁、 陶瓷、矿物、核材料、食品）缺点：检测限较差 基体干扰严峻 定量校准方法不志向

D.GuntherUet.Al.,SpectrochimicaActaPartB541999381-4092023/2/255.质谱图及其干扰ICP-MS的图谱特殊简洁，简洁解析和说明。但是也不行避开的存在相应的干扰问题，主要包括光谱干扰和基体效应两类。2023/2/25光谱干扰：当等离子体中离子种类与分析物离子具有相同的质荷比，即产生光谱干扰。光谱干扰有四种同质量类型离子多原子或加和离子氧化物和氢氧化物离子仪器和试样制备所引起的干扰2023/2/25同质量类型离子干扰同质量类型离子干扰是指两种不同元素有几乎相同质量的同位素。对运用四极质谱计的原子质谱仪来说，同质量类指的是质量相差小于一个原于质量单位的同位素。运用高辨别率仪器时质量差可以更小些。周期表中多数元素都有同质量类型重叠的一个、二个甚至三个同位素。如：铟有113In+和115In+两个稳定的同位素前者与113Cd+重叠，后者与115Sn+重叠。因为同质量重叠可以从丰度表上精确预料．此干扰的校正可以用适当的计算机软件进行。现在很多仪器已能自动进行这种校正。2023/2/25

多原子离子十扰多原子离子(或分子离子)是ICPMS中干扰的主要来源。一般认为，多原子离子并不存在于等离子体本身中，而是在离子的引出过程中。由等离子体中的组分与基体或大气中的组分相互作用而形成。氢和氧占等离子体中原子和离子总数的30％左右，余下的大部分是由ICP炬的氩气产生的。ICPMS的背景峰主要是由这些多原子离子结出的．它们有两组：以氧为基础质量较轻的—组和以氩为基础较重的一组，两组都包括含氢的分子离子。例：16O2+干扰32S+2023/2/25氧化物和氢氧化物离子干扰在ICPMS中，另—个重要的干扰因素是由分析物、基体组分、溶剂和等离子气体等形成的氧化物和氢氧化物，其中分析物和基体组分的这种干扰更为明显些。它们几乎都会在某种程度上形成MO+和MOH+离子，M表示分析物或基体组分元素，进而有可能产生与某些分析物离子峰相重叠的峰。例如钛的5种自然同位素的氧化物质量数分别为62、63、64、65和66，干扰分析62Ni+、63Cu+、64Zn+、65Cu+和66Zn+氧化物的形成与很多试验条件有关，例如进样流速、射频能量、取样锥一分别锥间距、取样孔大小、等离子气体成分、氧和溶剂的去除效率等。调整这些条件可以解决些特定的氧化物和氢氧化物重叠问题。2023/2/25仪器和试样制备所引起的干扰等离子体气体通过采样锥和分别锥时，活泼性氧离子会从锥体镍板上溅射出镍离子。实行措施使等离子体的电位下降到低于镍的溅射闭值，可使此种效应减弱甚至消逝。痕量浓度水平上常出现与分析物无关的离子峰，例如在几个ng·mL-1的水平出现的铜和锌通常是存在于溶剂酸和去离子水中的杂质。因此，进行超纯分析时，必需运用超纯水和溶剂。最好用硝酸溶解固体试样，因为氮的电离电位高，其分子离子相当弱，很少有干扰。2023/2/25基体效应：ICPMS中所分析的试样，—般为固体含量其质量分数小于1％，或质量浓度约为1000ug.mL-1的溶液试样。当溶液中共存物质量浓度高于500—1000ug.mL-1时，ICPMS分析的基体效应才会显现出来。共存物中含有低电离能元素例如碱金属、碱土金属和镧系元素且超过限度。由它们供应的等离子体的电子数目很多，进而抑制包括分析物元素在内的其它元素的电离，影响分析结果。试样固体含量高会影响雾化和蒸发溶液以及产生和输送等离子体的过程。试样溶液提升量过大或蒸发过快，等离子体炬的温度就会降低，影响分析物的电离，使被分析物的响应下降、基体效应的影响可以接受稀释、基体匹配、标准加入或者同位素稀释法降低至最小。2023/2/25光谱干扰和基体效应一般来讲可以通过相应的手段加以抑制和降低，但难以完全消退。因而在实际工作中要有针对性的实行各种方法提高分析精确性。2023/2/25PartIII:ICP-MS分析应用ICPMS可以用于物质试样中一个或多个元素的定性、半定量和定量分析：ICPMS可以测定的质量范围为3—300原子单位，辨别实力小于1原子单位，能测定周期表中90％的元素，大多数检测限在0.1—10ug.mL-1范围且有效测量范围达6个数量级,标淮偏差为2％一4％。每元素测定时间10秒．特殊适合多元素的同时测定分析。2023/2/25定性和半定量分析定量分析

工作曲线法内标法同位素稀释法形态分析法同位素比测量2023/2/251.同位素稀释法原理： 在样品中掺入已知量的某一被测元素的浓缩同位素后，测定该浓缩同位素与该元素的另一参考同位素的信号强度的比值变更。定量依据：CX=[MSK(AS-BSR)]/[W(BR-A)]CX:样品中被测元素的浓度;MS:掺入物的质量;W:样品质量;K:被测元素原子量与浓缩物原子量的比值;A:参考同位素的自然丰度;B:浓缩同位素的自然丰度;AS:参考同位素在浓缩物中的丰度;BS:浓缩同位素在浓缩物中的丰度;R:加入浓缩物后样品中参考同位素和浓缩同位素的比值2023/2/25试验步骤 1.测定未加浓缩同位素稀释剂的样品估计被测成分的浓度，计算须要加入的浓缩同位素的量MS； 2.在样品中加入浓缩同位素稀释剂，其中AS和BS值已知，计算K值3.测定“变更了的”同位素比值R4.计算样品中被测元素的浓度CX。优点：迄今为止最精确的元素分析方