温度测量系统

温度测量系统第一页，共六十一页，2022年，8月28日本章要点第1节热电偶测温系统第2节热电阻测温系统第3节其他接触式测温系统第4节非接触式测温系统第5节半导体PN结测温系统第二页，共六十一页，2022年，8月28日8.1热电偶测温系统热电势定义:在两个不同成分的导体（或半导体）A和B组成的闭合回路中，如果它们的两个接点温度不同，则回路中会产生一个电动势。热电势的大小：和两端的温度差有关。热电偶定义：A、B焊接成对后称之为热电偶。特点：结构简单、热容量小、材料的互换性好、滞后效应小、信号能远距离传送、多点测量、便于检测和控制。应用：作为感温元件在工业生产和科学研究中广泛应用。第三页，共六十一页，2022年，8月28日测温原理热电阻闭合回路中产生热电动势的现象被认为是导体的接触电动势和温差电动势的综合结果。接触电动势的大小与温度高低及导体中的自由电子密度有关。温度接触电动势；导体自由电子密度比接触电动势温差电动势是由于热电极两端的温度不同，存在着温度梯度而产生的电势。温差电动势的大小取决于热电极两端的温差和热电极的自由电子密度。温差

温差电动势两端问相同温差为零，温差电动势为零电子密度和热电极材料成分有关。第四页，共六十一页，2022年，8月28日.接触电势高EAB（T）低

e—单位电荷；K—玻耳兹曼常数NA（T),NB（T）—A、B电子密度（温度T）

电势方向：低→高由电子密度加大（相对扩散前）→电子密度减小第五页，共六十一页，2022年，8月28日.

②温差电势T0

EA(T,T0)

→T低

EA（T，T0）高电势方向：由电子密度大→电子密度小回路总电势接触电势和温差电势综合成总热电势

BAEAB(T0)TT0EAB（T）EA(T,T0)EB（T,T0）第六页，共六十一页，2022年，8月28日.NA(t),NB(t)只是温度的函数第七页，共六十一页，2022年，8月28日

三点结论1) 热电势大小，只与材料性质和两接点温度有关。2) 不同性质材料才能组成热电偶，相同材料组成的闭合回路热电势为零。3) 热电极材料确定后，热电势的大小只与热电偶两端温度有关。一端温度恒定，热电势只是另一端温度的单值函数。（方便使用）几个术语热端与冷端(或测量端与参比端)分度表（E~t表）分度号问题

热电偶（热电势）能否测量？接入第三种材料 热接点能否焊接？（第三种材料） 热、冷端间的温度梯度是否影响测量结果？

（相同温差，热电偶长短是否有影响？）第八页，共六十一页，2022年，8月28日热电偶回路性质

1.均质材料定律

表述：均质材料组成的回路，不论回路有无温度梯度，回路中均不产生热电势（无电流）。 应用：要求组成热电偶的两种材料必须各自都是均质的，否则引入误差。（温度梯度无影响）2.中间导体定律表述：热偶回路中插入第三种（或多种）均质材料，只要插入材料两连接点温度相同，则所插入的第三种材料不影响原回路的热电势。 应用：回路中可接入测量热电势的仪表；接点可以焊接证明？第九页，共六十一页，2022年，8月28日系统结构系统主要元件：热电偶感温元件、冷端补偿器、补偿导线、普通导线和温度显示装置·····热电偶感温元件是热电偶测温系统的核心部件。1.热电偶；2.补偿导线；3.普通导线；4.显示装置5.补偿器热电偶温度系统测量回路第十页，共六十一页，2022年，8月28日冷端补偿器法

（与补偿导线联用、适用于工业生产） 原理：将补偿器串接于热电偶回路中，自动补偿由于冷端温度变化而对回路热点势的影响。平衡点温度点（0℃或20℃）与计算温度点（40℃）。热电特性的非线性，只能在平衡点温度点与计算温度点上而不可能在全程范围内，完全补偿。使用：补偿器与热偶相匹配；仪表的机械零点调至平衡温度点。第十一页，共六十一页，2022年，8月28日

。测温系统的正确使用热电偶温度测试系统的测试信号来源于热电偶感温元件的热电极。保护管选择是否合适，将直接影响热电偶的使用寿命和测量的可靠性。对测量结果的影响因素：1.高温影响

2.外部压力的影响3.强磁场的影响第十二页，共六十一页，2022年，8月28日8.2.1测温原理(1)导体电阻率

(8-4)

E——电场强度

J——电流密度在E的作用下，J的数值与自由电子数n、电荷e和电子定向运动速度平均值u成正比，可通过自由电子运动时的平均自由程及质量m得出电阻率与温度之间的关系，即

(8-5)

8.2热电阻测量系统第十三页，共六十一页，2022年，8月28日式中，k为玻尔兹曼常量;T为温度。导体的电阻率还与其晶格点阵和缺陷有关

(8-6)

式中，A为金属的特性常数；M为金属原子质量；为金属的德拜温度。当T>0.5时,式(8-6(8-7)这就是公认的金属在高温下,电阻率与温度的正比关系.第十四页，共六十一页，2022年，8月28日

而在低温下,即T<0.5时，式(8-6)的积分上限可认为，求解式（8-6）中的函数的结果是124.4.此时金属电阻率为

（8-8）

对金属而言，在一定的温度下，物质的电阻率和电阻有确定的函数关系

(8-9)R——导体电阻

l——导体长度

s——导体截面积（2）半导体电阻率第十五页，共六十一页，2022年，8月28日

受到掺杂程度和制造工艺的影响，很难给出统一形式的方程来描述鍺半导体电阻——温度特性。典型的经验公式是

(8-10)

式中B取决于掺杂的种类和浓度，并随温度而变；E与禁宽度有关；k为玻尔兹曼常量。由式（8-9）或（8-10）知：温度的变化引起了电阻的变化。

第十六页，共六十一页，2022年，8月28日

感温元件的电阻与温度的关系特性在实际应用中可以用以下方式表示：列表法、内插法和作图法。第十七页，共六十一页，2022年，8月28日1）列表法：第十八页，共六十一页，2022年，8月28日

2）内插法。内插法的一般表达式：

(8-11)

式中,为热电阻在温度为t时的电阻值；为热电阻在温度为0时的电阻值；

A、B、C为在固定温度上所确定的分度常数，对于不同材料的热电阻，其数值也不同。

第十九页，共六十一页，2022年，8月28日

即便是同一材料，在不同的测量范围，其值也不一定相同。铂热电阻的电阻与温度关系特性，在温度为-200——0时，关系特性可表示为

(8-12)

在0——850时，电阻与温度关系特性则表示为

(8-13)第二十页，共六十一页，2022年，8月28日3）作图法。下图是铂、铜、钨和热敏电阻的电阻与温度关系特性曲线。第二十一页，共六十一页，2022年，8月28日8.2.2系统结构铂嗲组测温仪器按其用途分有标准型和工业型两类。标准型：长杆型、套管型和高温型。不管它们是什么类型的测温仪器，它们都是由感温元件铂丝、绝缘管、保护管、引出线以及显示装置等几部分组成。

第二十二页，共六十一页，2022年，8月28日8.2.3系统的正确使用在实际应用热电阻测温系统时，应注意以下几个反面：（1）避免受到过大的振动和应力作用（2）避免在强磁场中使用（3）自然效应在实际测温中，有时加大工作电流来增加测温系统的灵敏度。此时，就应计算出该测量系统的自然效应误差，以衡量灵敏度与自然效应的利弊。

第二十三页，共六十一页，2022年，8月28日工业铂热电阻引起的自然效应：

（8-14）

I——工作电流

R——测温系统标称电阻值

k——系数，取决于测温系统的结构和工作环境其近似式为（8-15）

第二十四页，共六十一页，2022年，8月28日其中，△R为R2与R1之差；R1

、R2分别为工作电流等于I1和I2时电阻值；α为测温系统的电阻温度系数。（4）压力影响用电阻测温系统测量高压容器中的温度时，由于大多数金属在高压情况下，原子在其晶格中的正常位置振动时的幅度将减少，导致电阻值减小，测试的温度偏低。偏低的温度可以用下述经验公式估算

（8-16）

T=t+273.15（K），t为测温系统指示温度；p为容器压力。

第二十五页，共六十一页，2022年，8月28日（5）引线电阻的影响通常，当引出线温度发生变化时，引起的误差△t，可用下式计算（8-17）

式中，t2、t1为引出线温度发生变化后的温度；r为引线电阻；R为温度仪器标称电阻；α1、α2分别为感温元件和引线的电阻系数。第二十六页，共六十一页，2022年，8月28日8.3其他接触式测温系统8.3.1数字式测温系统

传统式的热电式温度传感器是将温度的变化转换成模拟电量的变化，再由测量电路对这些变化的电量进行放大、滤波等处理，以进行模拟显示或经过A\D转换后进行数字显示。随着数字温度传感器的出现和应用可以看出这种传感器存在不足。所以，新的传感器就出现了。第二十七页，共六十一页，2022年，8月28日美国Dallas半导体公司的数字化温度传感器DS1820是世界上第一片支持"一线总线"接口的温度传感器，在其内部使用了在板（ON-B0ARD）专利技术。

如图所示为DS1820的实物图：第二十八页，共六十一页，2022年，8月28日DS1820内部结构图64位和单接线接口存储器控制逻辑温度传感器高温度触发低温度触发存储器8位CRC触发器电源检测第二十九页，共六十一页，2022年，8月28日DS1820数字温度传感器只有三根外引线：单总线数据输出端口DQ，共用地线GND，外供电源线VDD。其引脚如图：2132.DQ--数据输入/输出1.GND--地3.VDD--可选电源第三十页，共六十一页，2022年，8月28日单总线供电原理：当DQ或VDD为高电平时，高电平通过D1或D2向C充电得到内部的电源电压。

除了DS1820以外还有其他的数字温度传感器，如：DS18B20、DJW系列PT100温度传感器和MAX1464数字传感器等。

以下是它们的一些图片：第三十一页，共六十一页，2022年，8月28日新型DS18B20数字温度传感器：第三十二页，共六十一页，2022年，8月28日DJW系列PT100温度传感器

第三十三页，共六十一页，2022年，8月28日DS75LX数字温度传感器第三十四页，共六十一页，2022年，8月28日8.3.2膨胀式测温系统

膨胀式测温系统是指利用物质的热膨胀性质与温度的物理关系为基础制作的温度测试系统。按制造材料可分为液体膨胀式、气体膨胀式和固体膨胀式三大类。液体膨胀式测温系统是根据物质的热胀冷缩原理制造的。第三十五页，共六十一页，2022年，8月28日液体膨胀式(如：玻璃液体测温系统：WXG11t、WXG12t系列可调电接点玻璃水银温度计）第三十六页，共六十一页，2022年，8月28日

气体膨胀式测温系统是基于一个封闭的充满介质的容器内感温介质的体积或压力随温度发生变化的原理。如：压力式测温系统等。电接点压力式温度计：第三十七页，共六十一页，2022年，8月28日固体膨胀式温度测试系统是以双金属测温系统最为典型。双金属测温系统的测温原理是：利用膨胀系数的不同将两层金属或（合金）牢固结合在一起，并将一端固定，一端为自由。

WSS-300双金属温度计：第三十八页，共六十一页，2022年，8月28日万向型双金属温度计：第三十九页，共六十一页，2022年，8月28日总之，测温环境对感温元件的影响是复杂的。接触式测温时，要尽可能获得被测物体的准确温度，测量时即要使感温元件和被测物体充分接触，又要避免感温元件的温度-热电特性受到破坏，这些都要求使用者在使用中充分考虑以上的影响因素，从而真确使用接测式测温仪器。第四十页，共六十一页，2022年，8月28日8.4非接触式测温系统第四十一页，共六十一页，2022年，8月28日8.4.1红外线测温系统㈠、红外测温系统定义㈡、红外测温系统中的辐射定律

1.普朗克定律（单色辐射强度定律）

2.维恩位移定律

3.绝对黑体的全辐射定律㈢、红外测温系统的优缺点㈣、基于上述定律的测温系统及例子第四十二页，共六十一页，2022年，8月28日㈠、红外测温系统定义非接触温度测量中最重要的波长或光谱范围是在0.5---20μm,这一范围内的自然射线，称为热辐射或红外线。把从被测物接收的红外线，由透镜经过滤波器聚焦在检波器上。检波器通过被测物辐射密度的积分，产生一个与温度成正比例的电流或电压信号。在此后相连接的电器部件中，把此温度信号线性化，进行发射率区域的修正，并转化成一个标准的输出信号。这种通过北侧为辐射的红外线进行温度测量的测试仪器，被称为红外测温系统。第四十三页，共六十一页，2022年，8月28日㈡、红外测温系统中的辐射定律物体分类：黑体（绝对黑体）： 照射到物体上的辐射能全部被吸收，既无反射也无透射。

透明体：照射到物体上的辐射能全部透射过去，既无吸收又无反射。镜体、白体： 照射到物体上的辐射能全部反射出去。若物体表现平整光滑，反射具有一定规律，则该物体称之为“镜体”；若反射无一定规律，则该物体称为“绝对白体”或者简称为“白体”。第四十四页，共六十一页，2022年，8月28日1.普朗克定律（单色辐射强度定律）绝对黑体的单色辐射强度E与波长λ及温度T的关系，有普朗克公式确定

C1为普朗克第一辐射常数，C1＝（3.741832±0.000020）×10W·m2；C2普朗克第二辐射常数，C2＝（1.438786±0.000044）×10m·K；为真空中的波长，单位m。

第四十五页，共六十一页，2022年，8月28日2.维恩位移定律单色辐射强度的峰值波长λm与温度T之间的关系式用下式表示：

λm

·T=2.8978×10(m·K)第四十六页，共六十一页，2022年，8月28日3.绝对黑体的全辐射定律若在λ=0-∞的全部波长范围内对E积分，可求出全辐射能量

σ―斯蒂芬－波尔兹曼常数，σ=（5.67032±0.00070）×10W/(m2·K4)第四十七页，共六十一页，2022年，8月28日实验表明大多数工程材料的辐射特性接近黑体的辐射特性，称为灰体。可以用黑度系数来表示灰体的相对辐射能力，黑度系数定义为同一温度下灰体和黑体的辐射能力之比，用符号ε表示，其值均在0-1之间，一般用实验方法确定。ε代表单色辐射黑度系数，ε代表全辐射黑度系数。可修正为：和第四十八页，共六十一页，2022年，8月28日第四十九页，共六十一页，2022年，8月28日㈢、红外测温系统的优缺点红外测温系统的优点：由于通过接收被测体辐射德红外线而进行测温，故可对那些难以接触到的或运动着的物体进行温度测量，如传热性能差的或是很小的热容量材料。响应时间短，能快速地实现对回路的有效调节。没有磨损的部件，因而不存在如使用温度计所存在的连续费用。对于很小的被测物体，及腐蚀性的化学物或敏感的表层的温度测试，使用辐射测温系统可避免由于物体的导热性产生的测量误差。通过原距离的遥控测量，可远离危险区域，保护操作人员。第五十页，共六十一页，2022年，8月28日红外测温系统的缺点：红外测温系统的缺点：一般来说，它不能直接测得被测对象的实际温度。要得到实际温度，需要进行材料发射率的修正，而发射率是一个影响相当复杂的参数。增加了对测量结果的处理。由于非接触，辐射式温度系统的测量受中间介质的影响。尤