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显示不均匀性校正的制作方法不均匀性校正（flatfieldcorrection）是数字图像处理中常用的一种技术，它的目的是去除图像中的不均匀性，将全部像素的灰度值修正为真实的亮度值。在图像拍摄过程中，由于光源的不同、镜头的失真和噪声等因素，图像中的像素灰度值表现出了不同程度的变化，这些变化没有任何实际意义，但假如不进行校正，会对图像的处理和分析造成很大的影响。本文将介绍不均匀性校正的通用制作方法，并依据不同的实际应用场景，讨论适用于不同场景的校正方法。1.光学系统校正光学系统在图像采集中起着关键作用，但由于光学系统的设计和制造，导致它们的响应不可避开地存在不均匀性。针对光学系统的不均匀性，我们可以采纳以下方法进行校正。1.1灯光法灯光法是最常用的校正方法之一、它的原理是利用灯光的均匀性和稳定性，通过在曝光前或曝光后，对拍摄的平面进行照明，利用平面的灰度反射系数，求出每一个点的相对响应系数，进而得到每一个点的真实响应系数。实在实现方法可以将光源固定在相机前方或在待校正的平面上方，然后在掌控曝光时间和光源亮度，对平面进行多次拍摄，最后通过平均值的方法，生成校正图像。1.2透射法透射法也是一种广泛使用的光学系统校正方法。其基本原理是使用透射板来均匀化入射光亮度，然后再将透射板的图像用于校正待修正图像。该方法和灯光法不同之处在于，透射板可以通过精密的制造和种种措施，将入射光线均匀化输出，从而减小了不均匀性。2.探测器校正探测器在数字图像处理中起着至关紧要的作用，它们通常使用CMOS或CCD芯片，对于这些芯片本身的性能特点、故障和非线性响应，也需要进行校正，更新其响应模型。2.1暗场法这种方法也称为“缺陷点法”，首先将相机盖紧，不让光线进入，然后拍摄黑暗场景，检测芯片上的亮点。亮点通常是指CEM的损坏点、ADC的失效点、冷端热电偶的短路或线性缺陷，这些缺陷点在待校正的图像上表现出来，我们可以通过映射和像素差值等方法，修正这些亮点。2.2灰阶卡法灰阶卡法是一种简单有效的探测器校正方法，适用于在拍摄相同的场景中，掌控曝光时间和光源的亮度，对拍摄区域进行拍摄，同时在相同的曝光条件下，在一个灰阶卡上拍摄，利用灰阶卡上的灰阶值和探测器上的信号值，得到校正参数。3.校正场景的不同应用在不同的应用场景中，我们需要采纳不同的校正方法，以获得更好的校正效果。3.1静态场景假如我们在静态场景下拍摄图像，可以使用任何一种校正方法。由于场景的不变性，我们可以使用灰阶卡法进行校正，获得较好的效果。3.2动态场景动态场景下拍摄图像，存在较大的干扰因素，比如光照变化、移动物体等。对于这种场景，我们需要采纳灯光法进行校正，校正过程应当在场景拍摄前进行，以保证全部图像都能得到相同的校正效果。3.3待处理图像特征显著假如待处理的图像特征显著，或需要提取图像中的特征点，我们需要使用透射法进行校正，它能够很好地除去图像中的不均匀性，并提高特征点的检测效果。不均匀性校正是数字图像处理中必不可少的一步，它能够减小或除

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