晶胞参数的测定

晶胞参数的测定第一页，共十九页，编辑于2023年，星期日OutlineExperimentalGoal1.BackgroundandTheory2.Example3.第二页，共十九页，编辑于2023年，星期日ExperimentalGoal

Determinethepreciselatticeparametersofmaterials第三页，共十九页，编辑于2023年，星期日BackgroundandTheoryImportance

Usefulindeterminingsolidsolubilitylimitsofonecomponentinanother,coefficientsofthermalexpansion,andtruedensitiesofmaterials.Themagnitudesofchangesinthelatticeparametersduetoachangeinsolutecontentortemperaturearesosmall.第四页，共十九页，编辑于2023年，星期日BackgroundandTheoryAmaterialwithacubicstructure第五页，共十九页，编辑于2023年，星期日BackgroundandTheoryMethodsDebye-ScherrerCamerasDiffractometersMathematizationExtrapolation

＊Debye-ScherrerCameras

●

Bradley-Jay

●Nelson-Riley

＊Diffractometers

●●Theleast-squaremethod第六页，共十九页，编辑于2023年，星期日BackgroundandTheoryDebye-ScherrerCamerasSourcesoferror:FilmshrinkageIncorrectcameraradiusOff-centeringofspecimenAbsorptioninspecimenDivergenceofthebeam第七页，共十九页，编辑于2023年，星期日BackgroundandTheoryDiffractometersSourcesoferror:MisalignmentoftheinstrumentUseofaflatspecimeninsteadofaspecimencurvedtoconformtothefocusingcircleAbsorptioninthespecimenDisplacementofthespecimenfromthediffractometeraxisVerticaldivergenceoftheincidentbeam第八页，共十九页，编辑于2023年，星期日BackgroundandTheoryExtrapolation1.Sincevariesdifferentlywithdifferenterrors，asingleextrapolationfunctionisnotsatisfactoryinthiscase．2.Itisnecessarytohaveasmanyreflectionsaspossibleinthehigh-angleregionofthediffractionpatternsothatyouwillhavemanyPointsenablingyoutodrawthebestpossiblestraightline．第九页，共十九页，编辑于2023年，星期日BackgroundandTheoryTheleast-squaremethodNormalEquationsDriftconstant第十页，共十九页，编辑于2023年，星期日ExampleFIG1．X-raydiffractionpatternofaluminumshowingonlythehigh-angleregionTheleast-squaremethod-Aluminum第十一页，共十九页，编辑于2023年，星期日ExampleTable1CalculationoftheLatticeParameterofAluminum第十二页，共十九页，编辑于2023年，星期日ExampleTABLE2DataRequiredforCohen'sAnalyticalMethod第十三页，共十九页，编辑于2023年，星期日Example

2674A+858.9C=96.77139858.9A+313.14C=31.08341A=0.0361895C=7.8×10-7

第十四页，共十九页，编辑于2023年，星期日ExampleFIG2X-raydiffractionpatternofsiliconshowingonlythehigh—angleregionExtrapolation-Silicon第十五页，共十九页，编辑于2023年，星期日ExampleTABLE3WorkTableforIndexingtheDiffractionPatternofSilicon第十六页，共十九页，编辑于2023年，星期日Examplea0=0.5430nmTruevaluea0=0.5431nmFIG3Thestraightlinebyextrapolatinglatticeparametersagainst第十七页，共十九页，编辑于2023年，星期日Examplea0=0.5430nmTruevaluea0=0.5