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第一章硅单晶常规电学参数的测试11半导体硅单晶导电类型的测量12半导体硅单晶电阻率的测量1.3非平衡少数载流子寿命的测量11半导体硅单晶导电型号的测量根据硅单晶参杂的元素不同分类1、N型半导体(施主掺杂)多数载流子为电子,少数载流子为空穴2、P型半导体(受主掺杂)多数载流子为空穴,少数载流子为自由电子。Im(donor)⑩③③Boronatom(acceptor)●●●●●二、导电类型的测量方法冷热探笔法温差电动势法冷探针法三探针法整流效应法四探针法单探针点接触整流法三、冷热探笔法1、原理:如图所示检浇计利用冷热探笔与半导体样品接触,在与冷热探屏蔽线笔接触点之间产生电势差,如两根探笔之间接上检流计构成回路,产生一温差电流,根据温差电流的方向判断样品的导电类型冷热探笔法测导电类型2、温差电动势、及电流的产生:(a)N型半导体冷针热针电子扩散流n型材料(b)P型半导体热空穴扩散峾p型材料E3、导电类型的判定(1)检流计指针偏转(STY-1)判断方式:心昆德科技STY-1导电型号测试纹指针向正方偏转被测样品为P型;指针向负方向偏转被测样品为N型。(2)液晶显示屏显示N或P(sTY-2)保温指示灯

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