x射线大纲要求

《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，1983年。《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，1983年。第一章X-ray的性质目的：掌握X-ray的性质要求：掌握X-ray的基本性质，连续、特征X-ray谱产生的机理，以及X-ray与物质的相互作用。重点、难点：掌握X-ray的基本性质，连续、特征X-ray谱产生的机理，以及X-ray与物质的相互作用。了解X-ray发展历史及防护，了解X-ray在现代材料分析中的重要用途。英语词汇：diffraction\wave'ength\target\intensity\filter\Augereffect'思考题：X-ray与物质的相互作用能产生哪些信号？连续、特征X-ray谱的强度、波长与哪些因素有关？X-ray产生的基本条件？作业题：课后习题。参考资料：《X射线晶体学导论》［英］M.M.乌尔福逊著，科学出版社，1981年。《X射线结构分析材料性能表征》藤风嗯、王熠明、姜小龙，科学出版社，1997年。《材料评价的分析电子显微方法》［日］进藤、及川等著，冶金工业出版社，2001年。第二章X-ray衍射方向目的：掌握X-ray衍射方向的基本原理—布拉格方程。要求：在学习晶体几何学的基础上，掌握X-ray衍射原理以及衍射方向与布拉格方程的关系。重点、难点：复习、掌握晶体几何学基础，理解X-ray衍射的条件与原理布拉格方程的导出，掌握布拉格方程的意义与应用，理解不同X-ray衍射方法的特点，了解X-ray衍射发展历史。英语词汇：amorphous\latticepoint\spacelattice\unitlattice\unitcell\crystallographicaxis\latticeparameter\incidentangle\wavefrant\Bragg'slaw\reflection\angleofdiffraction\structrueanalysislauemethod\rotating-crystalmethod\powermethod思考题：布拉格方程的意义与应用?不同X-ray衍射方法的区别？作业题：课后习题。参考资料：《X射线晶体学导论》［英］M.M.乌尔福逊著，科学出版社，1981年。《X射线结构分析材料性能表征》藤风嗯、王熠明、姜小龙，科学出版社，1997年。《材料评价的分析电子显微方法》［日］进藤、及川等著，冶金工业出版社，2001年。第三章X-ray衍射强度目的：掌握影响X-ray衍射强度的计算、表征方法和影响因素。要求：学习结构因子的意义、计算方法及重要性，了解各种影响因素，掌握积分强度的意义。重点、难点：掌握结构因子的意义、计算方法及重要性，掌握几种点阵的消光规律、衍射峰半高宽计算晶体尺寸的方法。了解各种影响因素，掌握结构因子的表征意义、积分强度的意义。英语词汇：integratedintensity\structurefactor\polarizatiofactor\incoherentscattering\inelasticscattering\atomicscatteringfactor\temperaturefactor\preferredorientation\mosaicstructure思考题：晶胞哪些因素影响衍射强度？计算面心立方、体心立方的消光规律？衍射峰半高宽计算晶体尺寸的方法？作业题：课后习题。参考资料：《X射线晶体学导论》［英］M.M.乌尔福逊著，科学出版社，1981年。《X射线结构分析材料性能表征》藤风嗯、王熠明、姜小龙，科学出版社，1997年。《材料评价的分析电子显微方法》［日］进藤、及川等著，冶金工业出版社，2001年。第四章多晶体分析方法目的：掌握X-ray衍射最基本的实验方法和装置。要求：学习、掌握粉末法的试样制备方法、照相法及衍射花样指数化、X-ray衍射仪的结构、计算测量方法、点阵常数的精确测定、误差的校正等。重点、难点：掌握粉末法的试样制备方法、照相法及衍射花样指数化、X-ray衍射仪的结构、计算测量方法、点阵常数的精确测定、误差的校正。理解衍射仪的工作原理，误差来源，相机的分辨本领、实验参数的选择。了解X-ray探测器的工作原理、测量中的主要电路、误差的数学修正方法。英语词汇：Debye-scherrermethod\focusingmethod\pinholemethod\diffractometer\electroniccounter\X-rayspectrometer\differentiateability\error\detector\powdermethod\photographmethod\diffractiondesign\index\revise\思考题：X-ray衍射仪与照相法的优缺点？X-ray衍射仪的结构与测角仪的工作原理？粉末法试样的制备方法？衍射花样的指数化方法？作业题：课后习题。参考资料：《X射线晶体学导论》［英］M.M.乌尔福逊著，科学出版社，1981年。《X射线结构分析材料性能表征》藤风嗯、王熠明、姜小龙，科学出版社，1997年。《材料评价的分析电子显微方法》［日］进藤、及川等著，冶金工业出版社，2001年。《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，1983年。《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，1983年。《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，1983年。第五章X-ray物相分析目的：掌握X-ray物相分析。要求：掌握物相的定性、定量分析方法。重点、难点：理解定性、定量分析的原理和分析思路，掌握物相定性、定量分析的基本程序、方法及分析难点，了解粉末衍射卡片的组成及卡片索引的应用，实际分析时的难点及注意事项。英语词汇：ASTM—AmericanSocietyforTestingMaterials\PDF\matterphotograph\index\qualitativeanalysis\quantitiveanalysis\思考题：物相定性分析的基本程序？粉末卡片的应用？物相定量分析的原理？作业题：课后习题。参考资料：《X射线晶体学导论》［英］M.M.乌尔福逊著，科学出版社，1981年。《X射线结构分析材料性能表征》藤风嗯、王熠明、姜小龙，科学出版社，1997年。《材料评价的分析电子显微方法》［日］进藤、及川等著，冶金工业出版社，2001年。《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，1983年。《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，1983年。第六章宏观应力分析目的：掌握X-ray衍射分析应力的方法要求：学习、掌握X-ray衍射分析应力的方法与原理。重点、难点：理解应力的分类及表现形式，掌握X-ray衍射法分析单轴应力、平面应力的原理与实验方法，测试原理的使用条件，衍射峰位的确定方法。了解影响测定精度的因素。英语词汇：stress\apex\singleaxisstress\planestress思考题：X-ray法测定宏观应力的原理？衍射峰位的确定方法？作业题：课后习题。参考资料：《X射线晶体学导论》［英］M.M.乌尔福逊著，科学出版社，1981年。《X射线结构分析材料性能表征》藤风嗯、王熠明、姜小龙，科学出版社，1997年。《材料评价的分析电子显微方法》［日］进藤、及川等著，冶金工业出版社，2001年。第七章电子光学基础目的：掌握电磁透镜的特性。要求：掌握电磁透镜的特性。重点、难点：理解电子的波长，电磁透镜的结构。掌握电磁透镜的分辨本领、像差、景深和焦长。英语词汇：Ruska\electronicwave\思考题：影响电磁透镜分辨本领的关键因素？如何提高分辨本领？电子波有何特征？与可见光有何异同？电磁透镜景深和焦长主要受哪些因素影响？说明景深大、焦长长，是什么因素影响的结果？参考资料：《X射线晶体学导论》［英］M.M.乌尔福逊著，科学出版社，1981年。《X射线结构分析材料性能表征》藤风嗯、王熠明、姜小龙，科学出版社，1997年。《材料评价的分析电子显微方法》［日］进藤、及川等著，冶金工业出版社，2001年。第八章透射电子显微镜目的：掌握透射电子显微镜的结构与工作原理。要求：掌握透射电子显微镜的结构与工作原理。重点、难点：理解透射电子显微镜的结构、成像原理、主要部件的结构与工作原理，掌握透射电子显微镜的分辨本领和放大倍数的测定。英语词汇：TEM\思考题：透射电镜主要有几大系统组成？各系统之间的关系？照明系统的作用是什么？它应满足什么要求？成像系统的主要构成及其特点是什么？如何测定透射电镜的分辨率与放大倍数？样品台的结构与功能如何？它应满足哪些要求？参考资料：《X射线晶体学导论》［英］M.M.乌尔福逊著，科学出版社，1981年。《X射线结构分析材料性能表征》藤风嗯、王熠明、姜小龙，科学出版社，1997年。《材料评价的分析电子显微方法》［日］进藤、及川等著，冶金工业出版社，2001年。第九章复型技术目的：掌握复型成像技术要求：通过学习质厚衬度成像原理，掌握复型技术。重点、难点：理解复型材料的要求，质厚衬度成像原理，掌握一、二级复型技术及样品的具体制备方法。英语词汇：resummodeltechnology\思考题：复型样品在透射电镜下的衬度是如何形成的？复型样品是采用什么材料和工艺制备出来的？限制复型样品分辨本领的主要因素是什么？参考资料：《X射线晶体学导论》［英］M.M.乌尔福逊著，科学出版社，1981年。《X射线结构分析材料性能表征》藤风嗯、王熠明、姜小龙，科学出版社，1997年。《材料评价的分析电子显微方法》［日］进藤、及川等著，冶金工业出版社，2001年。《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，1983年。《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，1983年。第十章电子衍射目的：掌握电子衍射花样的标定方法。要求：通过学习电子衍射原理，掌握电子衍射花样的标定方法。重点、难点：理解电子据的基本原理，电子衍射基本公式，以及电子显微镜中的电子衍射，掌握晶体电子衍射花样标定。了解电子衍射与X-ray衍射的区别，复杂电子衍射花样的形成与分析。英语词汇：思考题：电子衍射与X-ray衍射的区别？倒易点阵与正点阵之间的关系？倒易点阵与晶体的电子衍射半点之间的关系？何谓零层倒易截面和晶带定理？多晶、单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理？单晶体衍射花样的标定程序？参考资料：《X射线晶体学导论》［英］M.M.乌尔福逊著，科学出版社，1981年。《X射线结构分析材料性能表征》藤风嗯、王熠明、姜小龙，科学出版社，1997年。《材料评价的分析电子显微方法》［日］进藤、及川等著，冶金工业出版社，2001年。第十一章晶体薄膜衍衬成像分析目的：利用衍射衬度解释衍射成像要求：掌握薄膜样品的制备方法，利用衍射衬度解释衍射成像。重点、难点：掌握薄膜样品的制备方法，理解衍衬成像原理，了解衍衬运动学，并用衍衬运动学解释等倾、等厚条文形成的机理，理解孪晶、层错、缺陷的衬度特征及衬度形成原理。英语词汇：思考题：制备薄膜样品的基本要求及制备工艺如何？什么是衍射衬度？它与质厚衬度有什么区别？画图说明衍衬成像原理，并说明什么是明场像、暗场像和中心暗场像？什么是消光距离？影响晶体消光距离的的主要物性参数和外界条件参数是什么？作业题：课后习题。参考资料：《X射线晶体学导论》［英］M.M.乌尔福逊著，科学出版社，1981年。《X射线结构分析材料性能表征》藤风嗯、王熠明、姜小龙，科学出版社，1997年。《材料评价的分析电子显微方法》［日］进藤、及川等著，冶金工业出版社，2001年。《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，1983年。第十二章扫描电子显微镜目的：掌握扫描电子显微镜的结构与工作原理要求：利用表面衬度原理、原子序数衬度原理分析图片。重点、难点：理解电子束与固体样品作用时产生的信号、特点及用途。了解扫描电子显微镜的结构与工作原理，掌握扫描电子显微镜的主要性能，掌握表面形貌衬度、原子序数衬度原理及应用。英语词汇：思考题：电子束与固体样品作用时产生哪些信号？特点及用途？扫描电镜的成像与透射电镜有何不同？作业题：课后习题参考资料：《X射线晶体学导论》［英］M.M.乌尔福逊著，科学出版社，1981年。《X射线结构分析材料性能表征》藤风嗯、王熠明、姜小龙，科学出版社，1997年。《材料评价的分析电子显微方法》［日］进藤、及川等著，冶金工业出版社，2001年。第十三章电子探针显微分析目的：掌握电子探针的工作原理与应用要求：掌握电子探针的工作原理与应用重点、难点：立即、掌握电子探针的结构与工作原理，分