材料分析题库含答案

材料分析试题库选择题：一、MKX〔B〕Kα；B.Kβ；C.Kγ；D.Lα。当XCu靶，滤波片应选〔C〕Cu；B.Fe；C.Ni；D.Mo。当电子把全部能量都转换为X射线时，该X射线波长称〔A 〕A. 短波限λ0；B.激发限λk；C.吸取限；D.特征X射线当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生〔D 〕A. 光电子；B.二次荧光；C.俄歇电子；D.〔A+C〕二、1.最常用的X〔B。A.劳厄法；B.粉末法；C.周转晶体法；D.德拜法。2.射线衍射方法中，试样为单晶体的是〔D〕A、劳埃法 B、周转晶体法 C、平面底片照相法 D、A和Bxa/2、yb/3、zc/4，则该晶面的指标为〔B〕A、(364) B、(234) C、(213) D、(468)立方晶系中，指数一样的晶面和晶向〔B〕A、相互平行 B、相互垂直 C、成肯定角度范围 D、无必定联系5.晶面指数〔111〕与晶向指数〔111〕的关系是〔C 〕。A.垂直； B.平行； C.不肯定。在正方晶系中，晶面指数{100}包括几个晶面〔B〕。A.6； B.4； C.2 D.1；。用来进展晶体构造分析的X射线学分支是〔B〕A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其它三、1、对于简洁点阵构造的晶体，系统消光的条件是〔A〕A、不存在系统消光 B、h+k为奇数 C、h+k+l为奇数 D、h、k、l为异性数2、立方晶系{100}晶面的多重性因子为〔D〕A、2 B、3 C、4 D、63、洛伦兹因子中，第一几何因子反映的是〔A〕A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参与衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样外形对衍射强度的影响4、洛伦兹因子中，其次几何因子反映的是〔B〕A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参与衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样外形对衍射强度的影响5、洛伦兹因子中，第三几何因子反映的是〔C〕A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参与衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样外形对衍射强度的影响6、对于底心斜方晶体，产生系统消光的晶面有〔C〕A、112 B、113C、101 D、1117、对于面心立方晶体，产生系统消光的晶面有〔C〕A、200B、220 C、112 D、1118、热振动对x-ray〔E〕A、温度上升引起晶胞膨胀 B、使衍射线强度减小 C、产生热漫散射 D、转变布拉格角E、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小9、将等同晶面个数对衍射强度的影响因子称为〔C〕A、构造因子 B、角因子 C、多重性因子 D、吸取因子四、130少度角?〔B〕A.30度； B.60度； C.90度。2、不利于提高德拜相机的区分率的是〔D〕。A.承受大的相机半径； B.承受X射线较长的波长； C.选用大的衍射角；D.选用面间距较大的衍射面。3、德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是〔C〕A、正装法 B、反装法 C、偏装法 D、以上均可4、样品台和测角仪机械连动时，计数器与试样的转速关系是〔B〕A、1﹕1 B、2﹕1 C、1﹕2 D、没有确定比例5、关于相机区分率的影响因素表达错误的选项是〔C〕A、相机半径越大，区分率越高 B、θ角越大，区分率越高C、X射线波长越小，区分率越高 D、晶面间距越大，区分率越低6、粉末照相法所用的试样外形为〔C〕A、块状 B、分散 C、圆柱形 D、任意外形7、低角的弧线接近中心孔，高角线靠近端部的底片安装方法为〔A〕A、正装法 B、反装法 C、偏装法 D、任意安装都可8、以气体电离为根底制造的计数器是〔D〕A、正比计数器 B、盖革计数器 C、闪耀计数器 D、A和B9X射线激发某种物质会产生可见的荧光，而且荧光的多少与X射线强度成正比的特性而制造的计数器为〔C〕A、正比计数器 B、盖革计数器 C、闪耀计数器 D、锂漂移硅检测器五、1、测定钢中的奥氏体含量，假设承受定量X〔C。A.外标法；B.内标法；C.直接比较法；D.K2、X〔C〕进展核对。A.哈氏无机数值索引；B.芬克无机数值索引；C.戴维无机字母索引；D.A或B。3、PDF卡片中，数据最牢靠的用〔B〕表示A、i B、★ C、○ D、C4、PDF卡片中，数据牢靠程度最低的用〔C〕表示A、i B、★ C、○ D、C5、将所需物相的纯物质另外单独标定，然后与多项混合物中待测相的相应衍射线强度相比较而进展的定量分析方法称为〔A〕A、外标法 B、内标法 C、直接比较法 D、K值法6、在待测试样中掺入肯定含量的标准物质，把试样中待测相的某根衍射线条强度与掺入试样中含量的标准物质的某根衍射线条相比较〔B〕A、外标法 B、内标法 C、直接比较法 D、K值法九、1、透射电子显微镜中可以消退的像差是〔B。AB.像散；C.色差。2、由于电磁透镜中心区域和边缘区域对电子折射力量不同而造成的像差称为〔A〕A、球差 B、像散 C、色差 D、背散3、由于透镜磁场非旋转对称而引起的像差称为〔B〕A、球差 B、像散 C、色差 D、背散4、由于入射电子波长的非单一性造成的像差称为〔C〕A、球差 B、像散 C、色差 D、背散5、制造出世界上第一台透射电子显微镜的是〔B〕A、德布罗意 B、鲁斯卡 C、德拜 D、布拉格十、1、透射电镜中电子枪的作用是〔A〕A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高区分率电子显微图像D、进一步放大物镜像2、透射电镜中聚光镜的作用是〔B〕A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高区分率电子显微图像D、进一步放大物镜像3、透射电镜中物镜的作用是〔C〕A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高区分率电子显微图像D、进一步放大物镜像4、透射电镜中电中间镜的作用是〔D〕A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高区分率电子显微图像D、进一步放大物镜像5、能提高透射电镜成像衬度的光阑是〔B 〕A、其次聚光镜光阑 B、物镜光阑 C、选区光阑 D、索拉光阑6、物镜光阑安放在〔C〕A、物镜的物平面 B、物镜的像平面 C、物镜的背焦面D、物镜的前焦面7、选区光阑在TEM镜筒中的位置是〔B〕A、物镜的物平面 B、物镜的像平面 C、物镜的背焦面D、物镜的前焦面8、电子衍射成像时是将〔A 〕A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合 B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合C、关闭中间镜 D、关闭物镜9、透射电镜成形貌像时是将〔B 〕A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合 B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合C、关闭中间镜 D、关闭物镜10、为了减小物镜的球差，往往在物镜的背焦面上安放一个〔B〕A、其次聚光镜光阑 B、物镜光阑 C、选区光阑 D、索拉光阑11、假设H-800电镜的最高区分率是0.5nm，那么这台电镜的有效放大倍数是〔C 。A.1000；B.10000；C.40000；D.600000。十二、1、单晶体电子衍射把戏是〔A 。A.规章的平行四边形斑点；B.同心圆环；C.晕环；D.不规章斑点。2、薄片状晶体的倒易点外形是〔C 。A.尺寸很小的倒易点；B.尺寸很大的球；C.有肯定长度的倒易杆；D.倒易圆盘。3、当偏离矢量S<0时，倒易点是在厄瓦尔德球的〔A 。A.球面外；B.球面上；C.球面内；D.B+C。4180º不唯一性的简单衍射把戏是〔A。A.高阶劳厄斑；B.超构造斑点；C.二次衍射斑；D.孪晶斑点。5、菊池线可以帮助〔D。A.估量样品的厚度；B.180º不唯一性；C.鉴别有序固溶体；D.准确测定晶体取向。6、假设单晶体衍射把戏是正六边形，那么晶体构造是〔D 。A.六方构造；B.立方构造；C.四方构造；D.AB。7、有一倒易矢量为g2a2bc，与它对应的正空间晶面是〔C 。.〔..〔.0十三、1、将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是〔C。A.明场像；B.暗场像；C.中心暗场像；D.弱束暗场像。2、当t=5s/2时，衍射强度为〔D 。A.Ig=0；B.Ig<0；C.Ig>0；D.Ig=Imax。3、一位错线在选择操作反射g1=〔110〕和g2=〔111〕时，位错不行见，那么它的布氏矢量是〔B 。.=01.〔11.01；.〔01。4、当其次相粒子与基体呈共格关系时，此时的成像衬度是〔C 。A.质厚衬度；B.衍衬衬度；C.应变场衬度；D.相位衬度。5、当其次相粒子与基体呈共格关系时，此时所看到的粒子大小〔B 。A.小于真实粒子大小；B.是应变场大小；C.与真实粒子一样大小；D.远远大于真实粒子。6、中心暗场像的成像操作方法是〔C。A．以物镜光栏套住透射斑；B．以物镜光栏套住衍射斑；C．将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。十四、1、仅仅反映固体样品外表形貌信息的物理信号是〔B 。A.背散射电子；B.二次电子；C.吸取电子；D.透射电子。2、在扫描电子显微镜中，以下二次电子像衬度最亮的区域是〔B。A.和电子束垂直的外表；B.30º的外表；C.45º的外表；D.和电子60º的外表。3、可以探测外表1nm层厚的样品成分信息的物理信号是〔D 。A.背散射电子；B.吸取电子；C.特征X射线；D.俄歇电子。十五、1、扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是〔B。A.波谱仪；B.能谱仪；C.俄歇电子谱仪；D.特征电子能量损失谱。2、波谱仪与能谱仪相比，能谱仪最大的优点是〔A。A.快速高效；B.精度高；C.没有机械传动部件；D.价格廉价。3、要分析基体中碳含量，一般应选用〔A〕电子探针仪，A.波谱仪型B、能谱仪型填空：一、当X射线管电压超过临界电压就可以产生 连续 X射线和 标识 X射线。XX射线；当X产生连续XXXK层产生空位，由LM层电子向K层跃迁产生的K特征辐射按挨次称Kα射线和Kβ射线。X射线的本质既具有 波动性 也具有 粒子性 ，具有 波粒二象性。短波长的X射线称硬X射线，常用于 金属部件的无损探伤；长波长的X射线称软X射线，常用于 医学透视上。连续谱短波限只与管电压有关。特征X射线谱的频率或波长只取决于阳极靶物质的原子能级构造。二、本质上说，X射线的衍射是由大量原子参与的一种散射现象。布拉格方程在试验上的两种用途是构造分析和X射线光谱学。不变化，变化。平面底片照相法可以分为透射和背射两种方法。平面底片照相方法适用于争论晶粒大小、择优取向以及点阵常数准确测定方面。三、1、原子序数Z越小，非相干散射越强。2、构造因子与晶胞的外形和大小无关。3、热振动给X射线的衍射带来很多影响有：温度上升引起晶胞膨胀、衍射线强度减小生向各个方向散射的非相干散射。4、衍射强度公式不适用于存在织构组织。5、构造因子=0时，没有衍射我们称系统消光或构造消光。对于有序固溶体，原本消光的地方会消灭弱衍射。6、影响衍射强度的因素除构造因子外还有角因子，多重性因子，吸取因子，温度因子。四、在Δθ肯定的状况下，θ→90度，Δsinθ→ 0 ；所以准确测定点阵常数应选择高角度衍射线。德拜照相法中的底片安装方法有: 正装法 ,反装法和偏装法 三种。在粉末多晶衍射的照相法中包括德拜-谢乐法、聚焦照相法和针孔法。德拜相机有两种，直径分别是 57.3mm和114.6mm。测量θ角时，底片上每毫米对应2º和1º。衍射仪的核心是测角仪圆，它由辐射源 、试样台 和探测器共同组成。可以用作X射线探测器的有正比计数器、盖革计数器和闪耀计数器等。影响衍射仪试验结果的参数有狭缝光阑、时间常数 和扫面速度等。五、1、X射线物相分析包括定性分析和定量分析，而定性分析更常用更广泛。2、X3、定量分析的根本任务是确定混合物中各相的相对含量。4、内标法仅限于粉末试样。九、1、电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。2、透射电子显微镜的区分率主要受衍射效应和球面像差两因素影响。3、透射电子显微镜中用磁场来使电子聚焦成像的装置是电磁透镜。4、像差分为两类，即几何像差和色差。十、1、TEM2、TEM中的三个可动光栏分别是聚光镜光栏位于其次聚光镜焦点上，物镜光栏位于物镜的背焦面上，选区光栏位于物镜的像平面上。3、TEM4、透射电镜主要由电子光学系统,电源与掌握系统和真空系统三局部组成。5、透射电镜的电子光学系统分为三局部，即照明系统、成像系统和观看记录系统。十一、1、限制复型样品的区分率的主要因素是复型材料的粒子尺寸大小。2、今日复型技术主要应用于萃取复型来揭取其次相微小颗粒进展分析。3、质厚衬度是建立在非晶体样品中原子对入射电子的散射和透射电子显微镜小孔径角成像根底上的成像原理，是解释非晶态样品电子显微图像衬度的理论依据。4、粉末样品制备方法有胶粉混合法和支持膜分散粉末法。5、透射电镜的复型技术主要有一级复型、二级复型和萃取复型三种方法。十二、1、电子衍射和X射线衍射的不同之处在于入射波长不同、试样尺寸外形不同，以及样品对电子和X射线的散射力量不同。2、电子衍射产生的简单衍射把戏是高阶劳厄斑、超构造斑点、二次衍射、孪晶斑点和菊池把戏。3、偏离矢量S的最大值对应倒易杆的长度，它反映的是θ角偏离布拉格方程的程度。4、单晶体衍射把戏标定中最重要的一步是确定晶体构造。5、二次衍射可以使密排六方、金刚石构造的把戏中在本该消光的位置产生衍射把戏，但体心立方和面心立方构造的把戏中不会产生多余衍射。6、倒易矢量的方向是对应正空间晶面的法线；倒易矢量的长度等于对应晶面间距的倒数。7十三、1、运动学理论的两个根本假设是双光束近似 和柱体近似 。2对于抱负晶体当 样品厚度或偏离矢量连续转变时衬度像中会消灭等厚消光条纹或等倾消光条纹。3、对于缺陷晶体，缺陷衬度是由缺陷引起的位移矢量导致衍射波振幅增加了一个附加位相角，但是假设附加的位相角α=2π的整数倍时，缺陷也不产生衬度。4一般状况下孪晶与层错的衬度像都是平行直线 但孪晶的平行线间距不等 ，而层错的平行线是等间距 的。5、实际的位错线在位错线像的一侧 ，其宽度也大大小于位错线像的宽度，这是由于位错线像的宽度是应变场宽度。十四、1、电子束与固体样品相互作用可以产生背散射电子、二次电子、透射电子、特征X信号。2、扫描电子显微镜的放大倍数是阴极射线电子束在荧光屏上的扫描宽度与电子枪电子束在暗衬度。3、区分率最高的物理信号是俄歇电子或二次电子为5nm，区分率最低的物理信号是特X100nm4、扫描电镜的区分率是指二次电子信号成像时的区分率5、扫描电子显微镜可以替代金相显微镜进展材料金相观看，也可以对断口进展分析观看。6、扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。7、扫描电子显微镜是电子光学系统，信号收集处理、图像显示和记录系统，真空系统三个根本局部组成。8、电子光学系统包括电子枪、电磁透镜、扫描线圈和样品室。十五、1、电子探针的功能主要是进展微区成分分析。2XX3分析。4、电子探针包括能谱仪和波谱仪两种仪器。推断题：一、激发限与吸取限是一回事，只是从不同角度看问题〔√〕经滤波后的X射线是相对的单色光〔√〕产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态〔√〕选择滤波片只要依据吸取曲线选择材料，而不需要考虑厚度〔×〕二、1.X射线衍射与光的反射一样，只要满足入射角等于反射角就行〔×〕干预晶面与实际晶面的区分在于：干预晶面是虚拟的，指数间存在公约数n〔√〕X射线衍射方向，不能反映衍射强度〔√〕三、1、衍射方向在X〔√〕2、在一个晶面族中，等同晶面越多，参与衍射的概率就越大〔√〕3、X〔×〕4、原子的热振动可使X〔×〕5、温度肯定时，衍射角越大，温度因子越小，衍射强度随之减小〔√〕6、布拉格方程只涉及X〔√〕7、衍射角肯定时，温度越高，温度因子越小，衍射强度随之减小〔√〕8、原子的热振动会产生各个方向散射的相干散射〔×〕四、1、大直径德拜相机可以提高衍射线承受区分率，缩短嚗光时间〔×〕2、在衍射仪法中，衍射几何包括二个圆。一个是测角仪圆，另一个是辐射源、探测器与试样三者还必需位于同一聚焦圆〔√〕3、德拜法比衍射仪法测量衍射强度更准确〔× 〕4〔√〕5、要准确测量点阵常数。必需首先尽量削减系统误差，其次选高角度θ角，最终还要用直线外推法或柯亨法进展数据处理〔√ 〕6、粉末照相法所用的粉末试样颗粒越细越好〔×〕7、德拜相机的底片安装方式中，正装法多用于点阵常数确实定〔×〕8、依据不消光晶面的N〔√〕9、为了提高德拜相机的区分率，在条件允许的状况下，应尽量承受波长较长的x-ray源〔√〕10x-ray区分率的不良影响〔〕11、选择小的承受光阑狭缝宽度，可以提高承受区分率，但会降低承受强度〔√〕五、1、X射线衍射之所以可以进展物相定性分析，是由于没有两种物相的衍射把戏是完全一样〔√〕2、理论上X射线物相定性分析可以告知我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告知我们这些物相的含量有多少〔√〕3、各相的衍射线条的强度随着该相在混合物中的相对含量的增加而增加〔√〕4、内标法仅限于粉末试样〔√〕5、哈氏索引和芬克索引均属于数值索引〔√〕6、PDFx〔×〕7、PDF〔√〕8、多相物质的衍射把戏相互独立，互不干扰〔×〕9、物相定性分析时的试样制备，必需将择优取向减至最小〔√〕九、1、TEM〔√〕2、孔径半角α是影响区分率的重要因素，TEMα〔×〕3、TEM中主要是电磁透镜，由于电磁透镜不存在凹透镜，所以不能象光学显微镜那样通过凹凸镜的组合设计来减小或消退像差，故TEM〔×〕4、TEM的景深和焦长随区分率Δr0的数值减小而减小；随孔径半角α的减小而增加；随放大倍数的提高而减小〔×〕5、电磁透镜的景深和焦长随区分率Δr0的数值减小而减小；随孔径半角α的减小而增加〔√〕6、光学显微镜的区分率取决与照明光源的波长，波长越短，区分率越高〔√〕7γ射线作为照明光源。×〕8、用小孔径角成像时可使球差明显减小〔√〕9、限制电磁透镜区分率的最主要因素是色差〔×〕10、电磁透镜的景深越大，对聚焦操作越有利〔√〕十、1、有效放大倍数与仪器可以到达的放大倍数不同，前者取决于仪器区分率和人眼区分率，后者仅仅是仪器的制造水平〔√〕2、物镜的区分率主要打算于极靴的外形和加工精度〔√〕3、物镜光阑可以减小像差但不能提高图像的衬度〔×〕4、物镜光阑孔越小，被挡去的电子越多，图像的衬度越大〔√ 〕5、物镜光阑能使物镜孔径角减小，能减小像差，得到质量较高的图像〔√〕6、物镜光阑是没有磁性的〔√〕7、利用电子显微镜进展图像分析时，物镜和样品之间的距离是固定不变的〔√〕1〔√〕2、单晶衍射把戏中的全部斑点同属于一个晶带〔×〕3、偏离矢量S=0时，衍射斑点最亮。这是由于S=0时是准确满足布拉格方程，所以衍射强〔√〕4、对于未知晶体构造，仅凭一张衍射把戏是不能确定其晶体构造的。还要从不同位向拍摄多幅衍射把戏，并依据材料成分、加工历史等或结合其它方法综合推断晶体构造〔√〕5、电子衍射和X〔×〕6、倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面〔√〕十三、1实际电镜样品的厚度很小时,能近似满足衍衬运动学理论的条件,这时运动学理论能很好地解释衬度像〔√ 〕2、厚样品中存在消光距离ξg，薄样品中则不存在消光距离ξg〔×〕3、明场像是质厚衬度，暗场像是衍衬衬度〔×〕4、晶体中只要有缺陷，用透射电镜就可以观看到这个缺陷〔× 〕5、等厚消光条纹和等倾消光条纹通常是形貌观看中的干扰，应当通过更好的制样来避开它〔×〕十四、1、扫描电子显微镜中的物镜与透射电子显微镜的物镜一样〔×〕2、扫描电子显微镜的区分率主要取决于物理信号而不是衍射效应和球差〔√〕3、扫描电子显微镜的衬度和透射电镜一样取决于质厚衬度和衍射衬度〔×〕4、扫描电子显微镜具有大的景深，所以它可以用来进展断口形貌的分析观看〔√〕十五、1、波谱仪是逐一接收元素的特征波进步行成分分析；能谱仪是同时接收全部元素的特征X〔√〕0、系统消光：因原子在晶体中位置不同或原子种类不同而引起的某些方向上衍射线消逝的现象。1、构造因子：定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数。Hanawalt索引：数字索引的一种，每种物质的全部衍射峰之中，必定有三个峰的强度最大(而非面网间距最大)。把这三个强度最大的峰，按肯定的规律排序，就构成了Hanawalt排序和索引方法。排序时，考虑到影响强度的因素比较简单3卡片。比较的定量金相分析方法。光线交光轴于不同位置，因此，在像面上形成一个圆形弥散斑，这就是球差。像散：由透镜磁场的非旋转对称引起的像差。色差：由于电子的波长或能量非单一性所引起的像差，它与多色光相像，所以叫做色差。透镜物平面允许的轴向偏差。焦长：透镜像平面允许的轴向偏差。Ariy斑：物体上的物点通过透镜成像时，由于衍射效应，在像平面上得到的Airy点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度的一半。点区分率与晶格区分率：点区分率是电镜能够区分的两个物点间的最小间距；晶格区分率是能够区分的具有最小面间距的晶格像的晶面间距。子束只能通过光阑孔限定的微区，对这个微区进展衍射分析。有效放大倍数：把显微镜最大区分率放大到人眼的区分本领〔0.2mm眼能区分的放大倍数，即眼睛区分率/显微镜区分率。质厚衬度：由于试样的质量和厚度不同，各局部对入射电子发生相互作用，为质-厚衬度。偏离矢量s：倒易杆中心至与爱瓦尔德球面交截点的距离可用矢量s表示，s就是偏离矢量。晶带定律：但凡属于[uvw]晶带的晶面，它的晶面指数(hkl)都必需符合hu+kv+lw=0，通常把这种关系式称为晶带定律。相机常数：定义K=Lλ，称相机常数，其中L为镜筒长度，λ为电子波长。明场像：让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法，叫明场成像，所得到的像叫明场像。暗场像：用物镜光阑挡住透射束及其余衍射束，而只让一束强衍射束通过光阑参与成像的方法，称为暗场成像，所得图象为暗场像。中心暗场像：用物镜光阑挡住透射束及其余衍射束，而只让一束强衍射束通光轴位置，所得图象为中心暗场像。方向上发生周期性振荡，振荡的深度周期叫消光距离。衍射衬度：入射电子束和薄晶体样品之间相互作用后，样品内不同部位组织的成像电子束在像平面上存在强度差异的反映。而形成电子图象反差。背散射电子：入射电子被样品原子散射回来的局部；它包括弹性散射和非弹。吸取电子：入射电子进入样品后，经屡次非弹性散射，能量损失殆尽〔假定样品有足够厚度，没有透射电子产生原子序数衬度，同样也可以用来进展定性的微区成分分析。特征X射线：原子的内层电子受到激发以后，在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能量和波长的一种电磁波辐射。利用特征X射线可以进展成分分析。23.二次电子：二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子。二次电子来自外表50-100 显示试样外表的微观形貌。俄歇电子：假设原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量不以X射线的次电子叫做俄歇电子。俄歇电子信号适用于表层化学成分分析。波谱仪：电子探针的信号检测系统是X射线谱仪，用来测定X射线特征波长的谱仪叫做波长分散谱仪。能谱仪：电子探针的信号检测系统是X射线谱仪，用来测定X射线特征能量的谱仪叫做能量分散谱仪。问答题：1答：相干散射，物质中的电子在XX象称为相干散射。λ0.它是由光子XX2.分析以下荧光辐射产生的可能性，为什么？

荧光辐射；α α用CuK

荧光辐射；β α用CuK

荧光辐射。α αE为K，EK

L，EMMCuKXE-E，CuKXE-Eα K L β K MCuK荧光辐射的能量为E-E，CuL荧光辐射的能量为E-Eα K L α L MCuKXCuK荧光辐射，需要E的能量；α α K

的能量；有可能，用CuK

β

α荧光辐射，需要E

K的能量，具体能不能还

α α L的大小。K L L特征x射线谱的产生气理。答：高速运动的粒子〔电子或光子〕将靶材原子核外电子击出去，或击到原子系〔因原子序数固定，因而λX2dsinθ=λd、θ、λ分别表示什么？布拉格方程式有何用途？，θX线或衍射线与面网间的夹角，λX该公式有二个方面用途〔1dθX并通过λXX〔2〕Xθ，求晶面间距。并通过晶面间距，测定晶体构造或进展物相分析。给出简洁立方、面心立方、体心立方、密排六方以及体心四方晶体构造X射发生消光的晶面指数规律。答：常见晶体的构造消光规律简洁立方 对指数没有限制〔不会产生构造消光面心立方 h，k，l奇偶混合；体心立方 h+k+l=奇数；密排六方 h+2k=3n,同时l=奇数；体心四方 h+k+l=奇数。打算X射线强度的关系式是式中各参数的物理意义?

：X射线衍射强度的公式 ，试中各参数的含义是：I0XR 测点之间的距离；V 为被照耀晶体的体积；Vc 为单位晶胞体积；P 为多重性因子，表示等晶面个数对衍射强度的影响因子；F 为构造因子，反映晶体构造中原子位置、种类和个数对晶面的影响因子；A(θ) μl和试样圆柱体的半径有关；平板状试样吸取因子与μ有关， 角无关；φ(θ)置对衍射强度的影响；e-2M 为温度因子= 有热振动影响时的衍射强度无热振动抱负状况下的衍射强度罗伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响？其表达式是综合了哪几方面考虑而得出的？影响，罗仑兹第三种几何因子表示衍射线位置对衍射强度的影响。试比较衍射仪法与德拜法的优缺点？量范围大〔5〕样品用量大〔6〕设备较简单，本钱高。试总结德拜法衍射把戏的背底来源，并提出一些防止和削减背底的措施。散射、空气对X射线的散射、温度波动引起的热散射等。实行的措施有尽量使用单色光、缩短曝光时间、恒温试验等。粉末样品颗粒过大或过小对德拜把戏影响如何？为什么？板状多晶体样品晶粒过大或过小对衍射峰形影响又如何？这些都不利于分析工作。使得某些衍射峰强度变小或不消灭。试验中选择XFeX2~6〔2〕XXX12材料。CoFeXFeMn电子波有何特征？与可见光有何异同？5波粒二象性，波的大小、产生方式、聚焦方式等不同。电磁透镜的像差是怎样产生的，如何来消退或减小像差？称引起的。消退或减小的方法：显减小。色差：承受稳定加速电压的方法有效地较小色差。说明影响光学显微镜和电磁透镜区分率的关键因素是什么？如何提高电磁透镜的区分率？答：光学显微镜的区分本领取决于照明光源的波长。的主要因素。α孔径半角，使衍射效应斑和球差散焦斑的尺寸大小相等。电磁透镜景深和焦长主要受哪些因素影响？说明电磁透镜的景深大、焦长长，是什么因素影响的结果？假设电磁透镜没有像差，也没有衍射Airy斑，即区分率极高，此时景深和焦长如何？r Df

2r0

2r 0.

0、孔径半角之间关系：

tg 表0DL与区分本领0

，像点所张孔径半角2rM

M 2rD 0 LL

D 0M2的关系：

tan ，

M， L

，M为透镜放大倍电磁透镜的景深长、焦长长，是由于小孔径半角影响的结果。焦长。16、消像散器的作用和原理是什么？放置几块位置可以调整的导磁体来吸引一局部磁场从而校正固有的椭圆形磁场。而电磁式的是通过电磁板间的吸引和排斥来校正椭圆形磁场的。分别说明成像操作与衍射操作时各级透镜〔像平面与物平面〕之间的相对位置关系，并画出光路图。这就是电子显微镜中的成像操作，如图〔a〕所示。假设把中间镜的物平面和物电子衍射操作，如图〔b〕所示。什么是衍射衬度?它与质厚衬度有什么区分?它与质厚衬度