详解IGBT开关过程

Word详解IGBT开关过程（IGBT）的开关过程主要是由栅极电压VGE控制的，由于栅极和发射极之间存在着寄生（电容）艮，因此IGBT的开通与关断就相当于对CGE进行充电与放电。假设IGBT初始状态为关断状态，即VGE为负压VGC-，后级输出为阻感性负载，带有续流（二极管）。

由于寄生参数以及负载特性的影响，IGBT的实际开通与关断过程比较复杂，如图1为IGBT的开通关断过程示意图，图中栅极驱动波形较为理想化，集电极（电流）以及集电极-发射极电压的波形大致上是实际波形，只有细节被理想化。

图1IGBT开关时间示意图

表1中列出了IGBT开关时间的定义，之后是对IGBT开关各个阶段的具体介绍。

1开通时间ton

开通时间还可以分为两个部分：开通延迟时间td(on)与上升时间tr，在此时间内IGBT主要工作在主动区域。

当栅极和发射极之向被加上一个阶跃式的正向驱动电压后，便对CGE开始充电，VGE开始上升，上升过程的时间常数由CGE和栅极驱动网路的电阻所决定，一旦VGE达到开启电压VGE(th)后，集电极电流IC则开始上升。从VGE上升至VGE(th)开始，到IC上升至负载电流IL的10%为止，这段时间被定义为开通延迟时间td(on)。此后，集电极电流IC持续上升，到IC上升至负载电流IL的90%的时候，这段时间称为上升时间tr。开通延迟时间td(on)与上升时间tr之和被为开通时间ton。在整个开通时间内，可以看出电流逐渐上升而集电极—发射极之间的压降仍然十分可观，因此主要的开通损耗产生于这一时间内。

2IGBT导通

IGBT导通时，主要工作在饱和区域。IGBT开通后，集电极电流Ic仍然会继续上彝，并产生一个开通电流峰值，这个峰值是由阻感性负载及续流二极管共同产生的，峰值电流过大可能会损耗IGBT。IC在达到峰值之后会逐步下降至负载电流IC的水平，与此同时，VCE也下降至饱和压降水平，IGBT进入相对稳定的导通阶段。在这个阶段中的主要参数是由负载确定的通态电流IL以及一个较低的饱和压降VCEsat，可以看出，工作在饱和区的IGBT的损耗并不是特别大。

3关断时间toff

同开通时间ton一样，关断时间toff也可以分为两段：关断延迟时间td(off)，以及下降时间tf。

当栅极和发射极之间的正向电压被突然撤销并同时被加上一个负压后，VCE便开始下降。下降过程的时间常数仍然由输入电容CGE和栅极驱动回路的电阻所决定。同时，VCE开始上升。但只要VCE小于VCC，则续流二极管处于截止状态且不能接续电流。所以，IGBT的集电极电流IC在此期间并没有明显的下降。因此，从栅极—发射极电压VCE降落到其开通值的90%开始，直到集电极电流下降至负载电流的90%为止;这一段时间被定义为关断延迟时间td(off)。

一旦上升的IGBT的集电极—发射极电压超过工作电压VCC时，续流二极管便处于正向偏置的状态下，负载电流便可以换流至续流二极管，集电极电流也因此下降口从集电极电流IC由负载电流k的90%下降至10%之间的时间称为下降时间tf。从图1中可以看出，在IC下降的同时，VCE会产生一个大大超过工作电压Vcc的峰值，这主要是由负载电感引起的，其幅度与IGBT的关断速度呈线性关系。峰值电籮过高可能会造成IGBT的损坏。关断延迟时间，与下降时间tf之和称为关断时间toff。

4拖尾时间、拖尾电流

相比于（MOSFET），IGBT采用一种新的方式降低了通态损耗，但是这一设计同时引发了拖尾电流It，拖尾电流持续衰减至关断状态漏电流的时间称为拖尾时间tt，拖尾电流严重的影响了关断损耗，因为在这段时间里，VCE已经上升至工作电压VCC以上。拖尾电流的产生也告诉我们，即使在栅极给出了关断（信