标准解读

《GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法》这一标准主要针对宇航环境中使用的半导体集成电路，在受到单粒子撞击后可能产生的软错误现象，提供了详细的时域测试方法。该标准适用于评估和测试这些设备在空间辐射环境下的可靠性与性能。

标准首先定义了单粒子效应（SEE）的概念，特别是单粒子翻转（SEU）、单粒子瞬态（SET）等术语，并介绍了它们对宇航器上电子系统潜在影响的重要性。接着，文档详细描述了进行单粒子软错误测试所需的实验条件、设备要求以及测试流程。其中包括如何选择合适的粒子源以模拟太空中的高能粒子环境；确定待测器件的工作状态及监测方式；记录并分析数据的方法等关键步骤。


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  • 正在执行有效
  • 2023-09-07 颁布
  • 2024-01-01 实施
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GB/T 43226-2023宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法_第1页
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文档简介

ICS49140

CCSV.25

中华人民共和国国家标准

GB/T43226—2023

宇航用半导体集成电路单粒子软错误

时域测试方法

Time-domaintestmethodsforspacesingleeventsofterrorsof

semiconductorintegratedcircuit

2023-09-07发布2024-01-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T43226—2023

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由全国宇航技术及其应用标准化技术委员会提出并归口

(SAC/TC425)。

本文件起草单位北京微电子技术研究所中国航天电子技术研究院

:、。

本文件主要起草人赵元富陈雷王亮岳素格郑宏超李哲林建京李永峰陈淼王汉宁

:、、、、、、、、、。

Ⅰ

GB/T43226—2023

宇航用半导体集成电路单粒子软错误

时域测试方法

1范围

本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理环境条件仪器设备试验样

、、、

品试验步骤试验报告

、、。

本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试

。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

。

电离辐射防护与辐射源安全基本标准

GB18871—2002

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件

。

31

.

单粒子软错误singleeventsofterrors

对电路造成非破坏性影响的一系列单粒子效应的总称

。

注如单粒子翻转单粒子瞬态单粒子功能中断

:、、。

32

.

时域测试time-domaintest

测试被测对象的特征参数随时间的变化关系

。

33

.

单粒子效应singleeventeffect

单个粒子穿过集成电路敏感区域电离产生的电子空穴对被电场收集形成脉冲电流导致集成电

,-,

路辐射损伤的现象

。

34

.

单粒子翻转singleeventupset

单粒子效应导致集成电路逻辑状态翻转的现象

。

35

.

单粒子瞬态singleeventtransient

单粒子效应导致集成电路输出异常脉冲信号的现象

。

36

.

单粒子功能中断singleeventfunctioninterrupt

单粒子效应导致逻辑电路不能完成规定的逻辑功能的现象

。

37

.

注量fluence

垂直入射方向单位面积粒子总数

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