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文档简介

172

Vol.28No.10

34

ShipElectronicEngineering

2008

10

3

(

430033)

,

;

;

;

TN95

PresentandFutureofRadarMeasurementSystem

KuaiWeiZhangHaibo

(NavalUniversityofEngineering,Wuhan

430033)

AbstractThepapermainlyintroducestemporaryradartestsystemanditstrend.Testscanbecarriedoutatdifferent

22

levelfromcomponentchipcircuittothefunctionalcellsubsystemandsystemlevel.Andnewgenerationofradartestsys

temwillbesynthetizemodellingintellectualizeddigitalnetting.

2

Keywordsradartestsystem,subsystem,systemtest,virtualinstrument

ClassNumber

TN95

BIT

ATS

1

ATS

,

,

,

ATS

,

BIT

,

BIT

[1]

,

2

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ATS,

BIT

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7

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10

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172

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VXI

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3)

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[1]

[2]

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[M].

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,1999

,DK.

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[M].1985:482

,

493

[3]

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[

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