《立式电解成形机床 第2部分：精度检验》

1JB/T5770.2─××××立式电解成形机床第2部分：精度检验本文件规定了立式电解成形机床的坐标系和主要部件、通则、几何精度检验、定位精度检验和加工检验。本文件适用于立式电解成形机床精度的检验活动。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T14896.1—2009特种加工机床术语第1部分：基本术语GB/T14896.3—2009特种加工机床术语第3部分：电解加工机床GB/T17421.1—1998机床检验通则第1部分：在无负荷或精加工条件下机床的几何精度GB/T17421.2—2016机床检验通则第2部分：数控轴线的定位精度和重复定位精度的确定3术语和定义GB/T14896.1—2009和GB/T14896.3—2009界定的术语和定义适用于本文件。4坐标系和主要部件立式电解成形机床（以下简称“机床”）示意图和坐标系见图1，主要部件的名称见表1。图1立式电解成形机床示意2JB/T5770.2─××××表1立式电解成形机床主要部件名称123crossslide（X’-axis，Y’-axis）45675通则5.1计量单位在本文件中，所有线性尺寸、偏差及相应的公差单位均用毫米表示，角度用度表示，角度偏差及相应的公差主要用比率表示，但在某些情况下可用微弧度或角秒明确，下列表达式用于角度偏差或公差的转换：0.010/1000=10×10-6=10μrad≈2″。5.2引用标准使用本文件应引用GB/T17421.1—1998特别是机床检验前的安装、运动件的预热、计量方法的说明和检验设备的推荐精度。5.3机床调平在对机床进行检验之前，应对机床进行水平调整。5.4检验次序本文件给出的检验项目的顺序并不限定检验的实际次序。为了简化测量仪器（器具）的安装，检验可按任意次序进行。5.5检验实施检验机床时，并不总是有必要或可能执行本部分所给出的全部检验项目，当检验出于验收目的时，在与制造商/供应商达成一致的情况下，由用户自行选择其关心的机床相关部件和/或性能的检验项目。在订购机床时，应明确指定检验项目。仅引用本文件作为验收检验，而未明确规定具体检验及未就相应检验费用达成一致时，不能被视为对任何缔约方具有约束力。5.6测量仪器本文件所述检验项目指定的测量仪器仅是范例，也可使用具有同样测量范围并且相同或更高精度的其他仪器。线性位移传感器应有0.002mm或更高的分辨力。5.7最小公差在几何精度检验中，实测长度与本文件给出的长度不同时，公差可通过比例法确定，最小公差3JB/T5770.2─××××值应计到0.005mm。5.8定位精度检验实施这些检验应引用GB/T17421.2—2016，特别是在环境条件、机床预热、测量方法及结果的计算和数据处理等部分。当有其他数控轴时，应由供应商（制造商）与用户协商一致进行检验。6几何精度检验项目G1工作台平面度。简图YY+X+X′+Y′OX公差在500测量长度内为0.025：测量长度任意增加100，公差值增加0.005。注：测量长度指O-X和O-Y中较长边的长度。测量仪器精密水平仪或平尺、量块和线性位移传感器或光学仪器或其他仪器。检验方法（见GB/T17421.1—1998中5.3.2.2，5.3.2.3，5.3.2.4）精密水平仪放置在工作台台面上，在O—X和O—Y长度方向上选定测量间隔点，每个方向上的间隔测量点不少于4个，沿O—X和O—Y方向测量间隔点逐步移动精密水平仪，并记下读数。通过作图或计算，求出平面度值。4JB/T5770.2─××××项目G2X轴与Y轴运动的垂直度。简图公差任意100测量长度上为0.020。测量仪器线性位移传感器、直角方尺。检验方法（见GB/T17421.1—1998中5.5.2.2.4）将直角方尺放在工作台上，线性位移传感器固定在机床某一固定位置（如阴极安装板）上，线性位移传感器测头与直角方尺A面接触，工作台沿Y轴方向运动，调整直角方尺，使线性位移传感器在直角方尺两端的读数相等，线性位移传感器测头与直角方尺的另一垂直工作面B接触，工作台沿X轴方向运动。误差值以测量长度内线性位移传感器读数的最大差值计。JB/T5770.2─××××项目G3Z轴运动与工作台面的垂直度。简图公差任意100测量长度上为0.020。测量仪器线性位移传感器、圆柱角尺。检验方法（见GB/T17421.1—1998中5.5.2.2.1，5.5.2.2.2）线性位移传感器固定在阴极安装板上，圆柱角尺放置在工作台上。a）按图示在ZX垂直平面内进行测量,使线性位移传感器测头沿X方向与圆柱角尺的工作面相接触，阴极安装板在Z轴方向上移动，按图示记下线性位移传感器读数。读数的最大值为误差值。b）按图示在ZY垂直平面内按同样方法重复检查。6G4JB/T5770.2─××××G4项目阴极安装板与工作台面的平行度。简图公差任意100测量长度上为0.020。测量仪器线性位移传感器。检验方法（见GB/T17421.1—1998中5.5.2.2.1，5.5.2.2.2）线性位移传感器放置在工作台面上，线性位移传感器测头与阴极安装板的工作面接触。移动线性位移传感器，按图示在ZX、ZY垂直平面内进行测量。线性位移传感器读数的最大值为误差值。7JB/T5770.2─××××项目G5Z轴运动中的主轴偏摆。简图CCCC-C公差任意300测量长度为0.06/200。测量仪器线性位移传感器、圆柱角尺。检验方法（见GB/T17421.1—1998中5.2.3.1.3）线性位移传感器固定在阴极安装板上，圆柱角尺放置在工作台上且偏离主轴的左侧（距离约为100mm线性位移传感器测头与圆柱角尺的工作面相接触。阴极安装板在Z轴方向上移动，记下各个读数并标记圆柱角尺上的各相应高度。正方向移动X轴（距离为200mm调整线性位移传感器，使线性位移传感器测头沿同一直线再次与圆柱角尺的工作面相接触，线性位移传感器重新调零，在原先各位置的同样高度上重新测量并记录。计算每个测量高度上两次读数的差值，选择这些差值中的最大值和最小值，按照下式计算结果:α=最大差值−最小差值dα值不超过公差，其中d为线性位移传感器两次位置之间的距离。8JB/T5770.2─××××项目G6Z轴轴向受力变形。简图公差变形量0.15；变形量差0.06。测量仪器线性位移传感器、测力计。检验方法（见GB/T17421.1—1998中5.5.2.2.1，5.5.2.2.2）Z轴伸出至最大位置，线性位移传感器固定在工作台上，测头触及阴极安装板。a）在主轴中心位置沿轴向施加力F，分别在轴中心及距阴极安装板边缘20mm的两点（两点连线过主轴中心且平行于X方向）测量误差，并记录。b）在主轴偏心位置（在阴极安装板上，距主轴中心50mm）沿轴向施加力F，在与施力点对称位置（施力点与测量点连线过主轴中心且平行于X方向）测量误差；施力点与测量点交换位置再测量一次，误差以两读数的差值计。JB/T5770.2─××××7定位精度检验项目P1Z轴运动的定位精度与重复定位精度。简图项目 测量长度≤250﹥250～500﹥500～1000双向定位精度A0.0110.0150.019单向重复定位精度R↑和R↓0.0050.0070.009双向重复定位精度R0.0100.0130.015轴的反向差值B0.0090.0110.013平均反向差值B0.0050.0060.007双向定位系统偏差E0.0070.0080.009轴的双向平均位置偏差的范围M0.0020.0030.004测量仪器长度基准尺和显微镜或激光测量仪器。检验方法（见GB/T17421.1—1998中2.3.2.2.1；GB/T17421.2—2016）使长度基准尺或激光测量仪器的光束轴线与被检轴平行。原则上采用快速进给定位，但也可由用户和供应商（制造商）协商采用适宜的进给速度。JB/T5770.2─××××项目P2X轴运动的定位精度与重复定位精度。简图项目测量长度≤125双向定位精度A0.0080.0120.016单向重复定位精度R↑和R↓0.0040.0060.008双向重复定位精度R0.0060.0100.014轴的反向差值B0.0050.0080.012 平均反向差值B0.0030.0040.006双向定位系统偏差E0.0040.0060.008轴的双向平均位置偏差的范围M0.0010.0020.003测量仪器长度基准尺和显微镜或激光测量仪器。检验方法（见GB/T17421.1—1998中2.3.2.2.1；GB/T17421.2—2016）使长度基准尺或激光测量仪器的光束轴线与被检轴平行。原则上采用快速进给定位，但也可由用户和供应商（制造商）协商采用适宜的进给速度。JB/T5770.2─××××项目P3Y轴运动的定位精度与重复定位精度。简图项目测量长度≤125双向定位精度A0.0080.0120.016单向重复定位精度R↑和R↓0.0040.0060.008双向重复定位精度R0.0060.0100.014轴的反向差值B0.0050.0080.012 平均反向差值B0.0030.0040.006双向定位系统偏差E0.0040.0060.008轴的双向平均位置偏差的范围M0.0010.0020.003测量仪器长度基准尺和显微镜或激光测量仪器。检验方法（见GB/T17421.1—1998中2.3.2.2.1；GB/T17421.2—2016）使长度基准尺或激光测量仪器的光束轴线与被检轴平行。原则上采用快速进给定位，但也可由用户和供应商（制造商）协商采用适宜的进给速度。JB/T5770.2─××××8加工检验项目M1加工孔的圆度及孔内表面粗糙度。简图公差圆度0.05；表面粗糙度Ra≤1.6μm。测量仪器三坐标测量