GBT 22317.4-2023 有质量评定的压电滤波器 第4部分：分规范 能力批准

GB/T22317.4—2023/IEC603有质量评定的压电滤波器第4部分：分规范能力批准Piezoelectricfiltersofassess国家市场监督管理总局前言 I Ⅱ 12规范性引用文件 3术语和定义 4优先额定值与详细规范指南 14.1优先额定值与特性 4.2详细规范中应规定的内容(适用于标准产品和定制产品) 15能力批准 25.1能力批准资格 25.2结构相似性 25.3能力批准程序 25.4能力手册 35.5能力鉴定元件(CQC) 35.6CQCs检验要求 45.7能力批准计划 45.8能力批准报告 55.9能力描述摘要 55.10可能影响能力批准的更改 5.11初始能力批准 55.12能力批准的维持 5.13返工和返修 5.14质量一致性检验 5.15筛选程序 6试验和测量程序 附录A(规范性)能力批准摘要的格式示例 附录B(规范性)工艺控制CQC规范首页格式 附录C(规范性)证实边界或极限的CQC规范首页格式 I本文件是GB/T22317《有质量评定的压电滤波器》的第4部分。GB/T22317已经发布了以下——第3部分：标准外形和引出端连接。目的在于给出石英晶体振荡器常用的外形图和引出端的——第4部分：分规范能力批准。目的在于给出以能力批准为基础的压电滤波器的优先值和适——第4-1部分：空白详细规范能力批准。目的在于给出以能力批准为基础的压电滤波器详细1有质量评定的压电滤波器第4部分：分规范能力批准本文件规定了总规范中给出的优先额定值和特性以及试验和测量方法，下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不GB/T22317.1—2008有质量评定的压电滤波器第1部分：总规范(IEC60368-1:2000,MOD)IEC60368-4-1有质量评定的压电滤波器第4-1部分：空白详细规范能力批准(Piezoelectricfiltersofassessedquality—Part4-1:BlankdetaIEC60122-1:2002有质量评定的石英晶体元件第1部分：总规范(Quartzcrystalunitsofas-IECQC001002-3:1998IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)程序规则第3部分：审批程序[IECQualityAssessmentSystemforElectroni服务和合格名录(RegisterofFirms,ProductsandServicesapprovedu详细规范中规定的值应优先从GB/T22317.1—2008的2.3中选取。详细规范应规定检验所需的所有试验和测量方法。对于标准产品，至少应包括IEC60368-4-1空2详细规范应包括压电滤波器的外形图和(或)引用合适的标准，便于识尺寸应包括压电滤波器的轮廓尺寸以及引出端的尺寸和间距。所有尺寸均以详细规范中应按GB/T22317.1—2008的2.4的要求规定压电滤波器和初级包装要求的标志内容。制造厂在申请能力批准之前，应根据IECQC001002-3:1998的第2章的要求获得制造厂检查3制造厂为了获得能力批准，需采用IECQC001002-3:1998的第4章给——经NSI同意的用于能力评定的CQCs范围，该范围是按照IECQC001002-3:1998的4.1确 将引线元器件装配在PCB板上。 制造厂应就能力鉴定元件的范围与NSI达成一致，该范围在能力手册中规定，并根据3.11.2的常4b)CQCs应属于以下之一：CQCs的设计、生产仅仅是为了通过能力批准时，制造厂应满足NSI,将对已发布的产品采用相同5——符合本规范3.7的能力批准计划；任何可能影响能力批准的更改都应满足IECQC001002-3:1998中4.2.11的规定。a)工艺CQCs;当满足试验要求的样品失效时，制造厂应保存所有不合格品的记录，并采取下列a)或b)采取的如失效原因是由于设计或工艺失效造成，则应执行制造厂与NSI协商的计划，以6被根除并且采取了所有的纠正措施，包括文件的修改。当这些完成并获得NSI认同后，应采用新的CQCs的选取见图1。见见键合见见见见见外壳见见见见注：某些工序可按照不同的顺序进行。每一种电极材料和镀覆方法要求8个代表样品。样品应按图2所示的试验方案进行试验。78个样品4个样品4个样品试验组1C图2电极材料镀覆CQCs试验方案本试验的目的是通过测量键合后电极与基板间的电阻以及键合点的强度确定键合点的质量。对于待批准的晶体装配时所用的键合方法和基板的每一种组合都应准备8个样品。这些样品应按图3所示的试验方案进行试验。8个样品8个样品键合强度本试验的目的是证明频率调整准确度处于基准温度下的规定频差允许范围之内。下列每个频率的8个样品应按图4所示的试验方案进行试验。——设计范围的最低频率；——设计范围的最高频率；——每个泛音模式的中间频率(适用时)。88个样品试验组3频率和电阻图4频率调整CQCs试验方案5.11.3.4频率调整(仅适用于单片多极谐振器)本试验的目的是证明单片多级谐振器谐振频率的频率调整精度处于基准温度下的规定频率允差之应从下列每个频率最窄的通带宽度中选择8个样品：——设计范围的最低频率；——设计范围的最高频率；——每个泛音模式的中间频率(适用时)。这些样品应按照图5所示的试验方案进行试验。8个样品试验组4频率和电阻图5频率调整CQCs试验方案(仅适用于单片多极谐振器)本试验的目的是确定元件的安装质量。对于需要批准的压电滤波器所用结构每一种组合(见5.5)都应准备8个样品。如果有需要，CQCs可是代表生产工艺的特殊样品。这些样品应按图6所示的试验方案进行试验。98个样品试验组5目检8个样品试验组6机械试验—4个最低频率的滤波器，其中2个的通带宽度应为最窄，另外2个的通带宽度则应为最宽；——4个最高频率的滤波器，其中2个的通带宽度应为最窄，另外2个—4个中间频率的滤波器，其中2个的通带宽度应为最窄，另外2个的通带宽度则应为最宽。这些样品应按图7所示的试验方案进行试验。电测试每一种外壳材料和密封方式都应选择8个样品，包括最大外壳的4个样品和最小外壳的4个样品。样品按图8所示的试验方案进行试验。样品应经受试验组8的试验，经受试验组9和试验组10的样品至少包含最大外壳的2个样品和最小外壳的2个样品。注1:本清单不排斥其他内容。注2:外壳试验可用非正式产品的外壳进行。热冲击每一种结构应准备8个完整滤波器样品。当使用未密封的品体元件时，每种结构应包括最大质量的4个样品和最小质量的4个样品。这些样品应按图9所示的试验方案进行试验。这些试验的目的是证实压电滤波器的设计规则与其自身性能一致。—4个最低频率的滤波器，其中2个的通带宽度应为最窄，另外2—4个最高频率的滤波器，其中2个的通带宽度应为最窄，另外2个的通带宽度则应为最宽；所有样品应按图10所示的试验方案进行试验。电性能每种外壳材料的8个样品应根据图11所示的试验方案进行试验。试验组15所用的样品最好不同于试验组14所用的样品。每个试验组应至少包括2个最大外壳和2个最小外壳。8个样品8个样品8个测品试验组15恒定湿热8个样品8个样品图11初始能力批准试验一览表见表1。章条号、试验项目和试验顺序1ABC电极膜厚度控制D按制造厂CQC规范的规定按制造厂的规定电极膜牢固度D按制造厂CQC规范的规定按制造厂的规定2AB按制造厂CQC规范的规定按制造厂的规定D按制造厂CQC规范的规定按制造厂的规定3按制造厂的规定4按制造厂CQC规范的规定按制造厂的规定5目检按制造厂CQC规范的规定按制造厂的规定6D按制造厂CQC规范的规定按制造厂的规定7AB目检(仅当选择或调整元件时适用)——中心频率或截止频率；——通带宽度；——通带波动(适用时);按制造厂CQC规范的规定按制造厂的规定按制造厂的规定4.5.4插入相移(适用时)4.5.6包络线延迟时间(适用时)按制造厂的规定按制造厂的规定84.6.2.2细检漏(仅适用于密封外壳)4.6.2.1粗检漏(仅适用于密封外壳)按制造厂的规定94.6.2.2细检漏(仅适用于密封外壳)4.6.2.1粗检漏(仅适用于密封外壳)按制造厂的规定表1初始能力批准试验一览表(续)章条号、试验项目和试验顺序4.6.3.1可焊性(仅适用于线状引出端)4.6.2.2细检漏(仅适用于密封外壳)4.6.2.1粗检漏(仅适用于密封外壳)D按制造厂CQC规范的规定按制造厂的规定特性：——中心频率或截止频率；——最低插人损耗；——通带波动。特性：——中心频率或截止频率；——最低插入损耗；——通带波动。D由制造厂规定的特性：——中心频率或截止频率；——最低插入损耗；——通带波动。特性：——中心频率或截止频率；——最低插入损耗；——通带波动。D由制造厂规定的GB/T22317.4—2023/IEC60368-4:20表1初始能力批准试验一览表(续)章条号、试验项目和试验顺序电气性能按制造厂的规定——中心频率或截止频率；——最低插人损耗；——通带波动。4.6.15气候序列——中心频率或截止频率；——最低插人损耗；D由制造厂规定的——中心频率或截止频率；——最低插入损耗；——通带波动。——中心频率或截止频率；——最低插人损耗；D由制造厂规定的注1:D——破坏性的，ND——非破坏性的。注2:在试验组1和试验组3中，章条编号为IEC60122-1:2002的第2章和第4章。注3:在试验组6～试验组15中，章条编号为GB/T22317.1—2008的第4章。能力批准维持试验的周期应按表2的规定，以确保每隔两年对从当前生产的产品中抽取的CQC,或代表当前生产状态的CQC应在试验前做出标识。——根据IECQC001002-3;1998的4.2.9规定，能力手册中规定的工艺(包括经NSI认可的初始制造厂应保存能力计划维持进度的记录，以便能随时确定规定期间内已证实和有待证实的能力试验组(见表1)品片电极材料的沉积4周84周831年41年5626周81年8988电性能88表2能力维持的周期试验(续)试验组(见表1)888888·对于5.11.3.1和5.11.4.1,周期较短的试验所用的样品应是每周试验合格的样品。·应在每周试验合格的样品中随机抽取8个样品进行试对于符合GB/T22317.1—2008中3.11.2规定定制压电滤波器的检验要求应按用户详细规范(CDS)的规定，其内容应由制造厂和用户根据制造厂应确保用户详细规范的内容在能力批准范围内。制造厂希望提供其能力批准范围内的压电滤波器和压电滤波器的范围作为标准产品时，应根据制造厂应保证详细规范的内容符合4.2。所有试验和测量程序应从GB/T22317.1—2008的第4章中选取。GB/T22317.1—2008中未包括(规范性)能力批准摘要