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文档简介

1Mini/MicroLED显示屏Mura缺陷评价方法GB/T3977—2008颜色的表SJ/T11141—2017发光二极管(LELED显示屏的基本成像单元,无复用子像素。像素之间呈矩形排列,包含一个或若干个子像素及子也称“LED直显屏”,以LED像素显示文字、图像及视频等信息的装置。通常包括LED屏体及水平和竖直方向上相邻子像素(不论是否相同基色)中心点2Mini/MicroLED显示屏MinLED显示屏显示白色或单色画面时人眼感受到的画面的亮度或色度不均匀,通常呈点状、线状或块处理系统等基本结构所组成,可以测量亮度/三刺激值。采用阵列式光探测器作为光接收部件,能够同时将测量区域成像在阵列式光探测器上。拥有X×Y个像元的阵列式光探测器可以看作是X×Y个传统点式亮色度计的组合,对应的成像亮色度计的测量分辨率为4测试的一般要求4.1环境条件环境温度:15℃~35℃;4.2测试设备4.4稳定条件34.5被测区域被测区域一般为整个待测样品。当成像亮色度计的测量区域不能覆盖整个待测样品并满足4.2的要4.6测量角度4.7测量距离条件11700~3400)×像素中心间距;条件23~10)×待测样品高度;5.1使待测样品显示50%最大灰度等级5.2用成像亮色度计测量得到被测区域内每个像素的亮度。单个像素的亮度为该像素对应所有像元测LL5.5对于每个Mura缺陷,按照公式(2)计算其最小可觉察差异对比度Cjndx:SC5.7按照公式(4)计算待测区域亮度Mura缺陷指数LMU:6.1在待测样品显示50%最大灰度等级、各单色画面并达到稳定后按下列步骤对该单色画面进行色度6.2用成像亮色度计测量得到被测区域内每个像素的主波长。单个像素的

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