二维射线衍射技术在晶体结构测定中的应用

二维X射线衍射在晶体构造测定中应用争论进展X(2D-XRD)X后续晶体构造的分析和争论供给参考。关键词：二维X射线衍射；晶体构造；进展Abstract: X-raydiffractionisoneoftheimportantmeansinthefieldofcrystalstructureresearch.Thisarticlemainlyintroducedrelevantconceptsoftwo-dimensional(2D-XRD),2D-XRDsystemworkingprinciple,devicecompositionanditsapplicationincrystalstructuredeterminationresearchtoprovideareferenceforfurtheranalysisandresearchofthecrystalstructure.Keywords: two-dimensionalX-raydiffraction; Crystalstructure; progress引言X信息等优点。因此，X射线衍射分析法已晶体构造的争论中得到广泛应用[1]。随着探测技术、点光束X射线光学和计算机力量的进展以及二维探测器迅XX射线衍射技术(2D-XRD)是一2D-XRD中正得到越来越多的争论，有较好的应用前景。二维X(2D-XRD)的概念及原理XX此之间占据不同的波长范围而已。X10-8～10-10之间。X射线器上通常使用的X射线源是XXX晶胞组成，这些规章排列的原子间距离与入射X射线波长有一样数量级，故由不同原子散射的XX的衍射把戏，这就是X射线衍射的根本原理[1]。二维X射线衍射(2D-XRD)的定义在X射线衍射中，数据的采集和分析主要是基于点探测器或位敏探测器(PSDXRD应用都是以传统的点探测器做一维射线收集，如物相鉴定、织构(取向)、剩余应力、晶粒尺寸、点阵常数等。二维面探测器的消灭大大的推动了探测技术的进展。二维衍射固然离不开二维探测并不是简洁地沿袭了传统的一维衍射理论，它是一种建立在方法上的技术，2D2D2DX射线衍射数据[2-3][4]对二维X射线衍射作如下定义：在X射线衍射试验中使用二维探测器，并对由二维探测器记录二维X射线衍射方法称为二维X射线衍射术。2D-XRD二维X射线衍射仪系统的主要构件当一束单色X射线照耀在样品上的时候，除了发生吸取之外，还可观看到X射线的波长与入射X原子排列周期性，X射线的强度和空间分布就形成了一个特定的模式，而各种模式反映出来的各种不同的信息就用以争论材料的构造[5]。一种典型的二维X射线衍射系统至少包括一个二维探测器、XX调整与监控装置以及相应的计算机数据复原与分析软件，如图1所示。1X二维X由上述XX射线衍射把戏与物质内部的晶体构造X射衍射技术已经广泛应用于晶体构造的分析与争论工作中。依据二维X射线衍射[6]。下面对2D-XRD二维X射线衍射术在单晶样品构造测定中的应用依据二维XX分背射劳厄法和透射劳厄法两种方法。XX射线源为点光源或同步辐射光源，探测器为二维探测器〔底片、CCD、IP〕，测定单晶体取向和定向切割。利用同步辐射X射线白光束照耀不动单晶的劳厄照相法已成为测定微小单晶、生物大分ψ角位置拍摄几组底片，每组有假设干张，暴光时间为能，一些例子如下表一：表一2D-XRD测定试样的单晶构造实例方法试样〔μm3〕结果λ=0.90A0,区域探测器对二氮己环硅脂催化剂18×175×84×125×8强度数据→构造强度数据→构造白光束对二氮己环硅脂12×4×125能大致从底片测量强度数据催化剂4×125×8劳厄法有机金属化合物60×50×320强度数据→构造近些年来，也已进展用〔CCD〕或成像板(IP)等二维探测器代替底片组件，并已推广到试验室X射线光源上，用于较大单晶体样品的构造测定[9-10]。单晶样品二维X用CCD或成像板(IP)自动化；2)用CCD或成像板(IP)等二维探测器代替带有衰减器底片组件，把有几广到同步辐射光源和一般X射线源上的微小(μmmm量级)样品的晶体构造测定。二维X射线衍射术在多晶样品构造测定中的应用二维X射线衍射测定多晶样品时，用的X射线源为点光源，探测器为二维面。使用2D-XRD进展物相定性分析物相分析的原理和方法已有专著[11]介绍，将未知待测样品的粉末衍射谱d、I/I，通过检索/匹配与的PDF数据相比对而作出物相鉴定，那是假定粉末1d/或织构的样品。因此要在二维测量时需要作2D构架积分和振动。2D-XRD对于织构测定，二维X射线衍射系统比一维衍射系统有很多优点，由于织构测定是基于极图角度(α，β逐个测量每个衍射环，且对每个衍射环也是经过β扫描逐点测量的。图2是用1D-XRD和2D-XRD)X个极点(用衍射矢量Hhkl表示)是在每样品角上测量的。作为一个例子，用7个不X射线衍射，在每一个样品角上，测量大量的极点(图右下方)。每次暴光所建的一维极点作图，对于一样的7个ω戏剧性削减。1D2DX可见，X〔2D-XRD〕能以高的区分率和高的速度测定多晶的构造,获得较少的数据收集时间和较好的测量结果。2D-XRD的应力测量应力测量依据的是应力张量和衍射圆锥畸变之间根本关系。2D-XRD的有利特别是涉及到高度织构的材料，大的晶粒尺度，小的试样面积，弱的衍射，特别是应力作图和应力张量测量[13-15]结语2D-XRD点，比一维X的进展以及二维探测器迅猛增加，二维X射线衍射技术必定会快速进展，在晶体构造测定中2D-XRD更宽阔的应用前景。参考文献X射线衍射技术在材料分析中的应用.工程与试验，2023,49〔3〕：40-41.RudolfPRandLandesBGTwo-dimensionalX-rayPowderDiffractionandScatteringofMicrocrystallineandPolymericMaterial，Spectroscopy，1994，9：22—33．SulyanovSNPopovANandKheikerDMUsingatwo-dimensionalforX-rayPowderdiffractometry，J．App1．Cryst,1994，27(6)：934—942．HeBobBaopingandSmithKLFundamentalsofTwo-dimensionalX-rayDiffraction(XRD2)，Adv．inX-rayAna1，1999，Vo1．43，P429—438.彭真.二维X射线衍射仪(XRD2)在金属织构测量上的应用.X展,2023,27(1):71-86.JL，BuergerMJ，AmorosMC.TheLaueMethod，AcademicPress，1975，NewYork,SanFrancisco，London.赵正旭．半导体单晶的定向与切割，北京：科学出版社1979，P63—84．HoriT，MoriyamaH，eta1．ProteinEng．，2023，13(8)：527—533．ThompsonMJ，EisenbergD．J．Mo1．Bio1．，1999，290：595—60.P50-77.[12]HeBaoping．PowderDiff．，2023，18(2)：71—85．[13]YoshiokaYandOhyaS．X-rayanalysisofstressinalocalizedareaplate，1994，ProceedingsofICRS-4，Baltimore，MD．[14]SasakiT，eta1．Adv．X-rayAna1．，1998，Vol．42