额定电压66kV～500kV交联聚乙烯绝缘电缆用半导电屏蔽料-征求意见稿

1额定电压66kV～500kV交联聚乙烯绝缘电缆用半导电屏蔽料本文件规定了额定电压66kV～500kV交联聚乙烯绝缘电缆用半导电屏蔽料（简称“屏蔽料”）的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等要求。本文件适用于以聚烯烃树脂为基料，加入导电炭黑、过氧化物交联剂和其他助剂，经熔融塑化造粒制得的交联型半导电屏蔽料。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本标准必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T1033.1—2008塑料非泡沫塑料密度的测定第1部分：浸渍法、液体比重瓶法和滴定法GB/T1040.3—2006塑料拉伸性能的测定第3部分：薄膜和薄片的试验条件GB/T2951.12—2008电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法第12部分：通用试验方法——热老化试验方法GB/T2951.21—2008电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法第21部分：弹性体混合料专用试验方法——耐臭氧试验——热延伸试验——浸矿物油试验GB/T3048.3—2007电线电缆电性能试验方法第3部分：半导电橡塑材料体积电阻率试验GB/T5470—2008塑料冲击法脆化温度的测定JB/T10738—2007额定电压35kV及以下挤包绝缘电缆用半导电屏蔽料SH/T1770—2010塑料聚乙烯水分含量的测定3术语和定义本文件没有需要界定的术语和定义。4使用特性适用的电缆导体长期允许最高工作温度为90℃。25名称代号和产品表示方法5.1名称代号5.1.1系列代号半导电屏蔽料 P交联聚乙烯绝缘 YJ5.1.2特征代号适用于66kV及以下电缆 66适用于110kV及以下电缆 110适用于220kV及以下电缆 220适用于330kV及以下电缆 330适用于500kV及以下电缆 5005.1.3产品型号组成产品型号由“系列代号–特征代号”组成。 特征代号 系列代号5.2产品表示方法产品用型号表示，产品型号及名称如表1所示。表1产品型号及名称产品型号产品名称PYJ-66额定电压66kV交联聚乙烯绝缘电缆半导电屏蔽料PYJ-110额定电压110kV交联聚乙烯绝缘电缆半导电屏蔽料PYJ-220额定电压220kV交联聚乙烯绝缘电缆半导电屏蔽料PYJ-330额定电压330kV交联聚乙烯绝缘电缆半导电屏蔽料PYJ-500额定电压500kV交联聚乙烯绝缘电缆半导电屏蔽料6技术要求6.1外观半导电屏蔽料呈黑色颗粒状，尺寸约为直径4mm、高3mm，色泽和质地均匀，颗粒间不应有明显粉末状物质。36.2半导电屏蔽料的性能半导电屏蔽料的物理机械性能和电气性能指标应符合表2的规定。表2半导电屏蔽料的性能指标序号试验项目单位PYJ-66PYJ-110PYJ-220PYJ-330PYJ-5001密度，最大g/cm32水分含量，最大%0.050.050.050.040.043拉伸试验——拉伸强度，最小——断裂拉伸应变，最小MPa%2002002002002004空气热老化试验——老化条件：温度持续时间——拉伸强度，最小——拉伸强度变化率，最大——断裂拉伸应变，最小——断裂拉伸应变变化率，最大hMPa%%%135±2200135±2200135±2200135±2200135±22005热延伸试验——试验条件：温度机械负荷负荷时间——负荷下伸长率，最大——冷却后永久变形率，最大℃MPamin%%200±20.2200±20.2200±20.2200±20.2200±20.26体积电阻率——23℃时体积电阻率，最大——90℃时体积电阻率，最大Ω·cmΩ·cm3503505025050250502007老化后体积电阻率——试验条件：温度持续时间——90℃时体积电阻率，最大℃hΩ·cm135±2350135±2350135±2250135±2250135±22008冲击脆化试验——试验条件：温度——失效数/试样数，最大个/个-40-40-40-40-409表面突起物尺寸及数量——50～75μm，最大——大于75μm，最大个/m2个/m22000050006.3工艺性能若用户要求，制造方应提供物料的工艺参数和流变特性，如工艺温度、熔融指数及交联工艺参数等数据。电缆屏蔽层应与绝缘层紧密粘接，不可剥离。47试验方法7.1外观检查在自然光线下用正常目力检查外观。7.2试样制备试样制备应按JB/T10738－2007中6.2.1的规定进行。试样应保持平整光滑、厚度均匀、无气泡，试样厚度应满足各试验项目的要求。7.3密度密度测试应按GB/T1033.1—2008的规定进行。7.4水分含量水分含量测试应按SH/T1770—2010规定的卡尔·费休库仑法进行。7.5拉伸试验拉伸试验应按GB/T1040.3—2006的规定进行，试样为5型试样，厚度为（1.0±0.1）mm，试验速度为（250±50）mm/min。7.6空气热老化试验空气热老化试验条件应符合表2的规定。试样为5型试样，厚度为（1.0±0.1）mm，有效试样数量应不少于5个。空气热老化烘箱应采用自然通风的电热老化箱，应符合GB/T2951.12—2008的要求。热老化后拉伸强度和断裂拉伸应变试验应按7.5的规定进行。试样在温度为（23±3）℃、相对湿度为（45～55）%的环境中待调节时间不少于17h。7.7热延伸试验热延伸试验应按GB/T2951.21—2008的规定进行，试样厚度为（1.0±0.1）mm。7.8体积电阻率（23±2）℃、相对湿度为（45～55）%的环境中待调节时间不少于24h。测定90℃时体积电阻率，体积电阻率试验应按JB/T10738—2007中附录A的规定进行。5测定老化后90℃时体积电阻率，应先进行空气热老化试验，老化温度（135±2）℃,持续时间168h。热老化后，90℃时体积电阻率应在1h之内进行测试，试验应按JB/T10738—2007中附录A的规定进行。7.9冲击脆化试验冲击脆化试验应按GB/T5470—2008的规定进行，试样为A型试样，试验条件应符合表2规定。7.10表面突起物尺寸及数量表面突起物尺寸及数量试验应按附录A的规定进行。8检验规则8.1检验分类8.1.1检验分为出厂检验和型式检验。8.1.2每一批产品交货时必须进行出厂检验，出厂检验为抽检试验（代号S）。每一批样品由生产厂检验部门进行抽样检测合格方可出厂。8.1.3型式检验对质量进行全面考核，即对本规范规定的全部项目进行型式试验（代号T）。有下列情况之一时，应进行型式试验：a）新产品或老产品转厂生产的试制定型鉴定；b）正式生产后，如材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时；c）正常生产时，每隔六个月；d）产品停产六个月后，恢复生产时；e）出厂检验结果与上次型式检验有较大差异时；f）国家质量监督机构或客户提出进行型式试验要求时。8.1.4试验项目和试验类别应符合表3的规定。8.2组批和抽样规则产品的每一生产批为一检验单位，每一生产批为10吨，不足10吨仍然作为一批，一组试验样品应从同一批量产品的三个包装单位中随机抽取，经混合后制备试样。8.3合格判定所有试验项目的试验结果均应符合表2的规定，检验结果如有任何一项性能不合格，应对不合格试验项目进行加倍抽样试验。经复检合格则判定该批量产品为合格品，如仍不合格，则判定该批量产品为不合格品。6表3试验项目和类别序号试验项目试验类别试验方法及要求1外观ST7.12密度ST7.33水分含量-T7.44拉伸试验ST7.55空气热老化试验-T7.66热延伸试验ST7.77体积电阻率ST7.88老化后体积电阻率-T7.89冲击脆化试验-T7.9表面突起物尺寸及数量ST7.109包装、标志、运输、贮存9.1半导电屏蔽料包装内部应有防潮内袋，每个包装中半导电屏蔽料的净重不允许负公差，具体包装方式和重量由制造方和用户双方商定。9.2包装表面应标明生产厂名、厂址、产品名称、型号、批号、净重、制造日期、有效使用期及防潮标志，包装上应附有产品合格证，每批应附有出厂检验报告。9.3半导电屏蔽料运输过程中不应受到日晒雨淋和浸水等不正常条件的损害。9.4半导电屏蔽料应贮存在清洁、干燥的库房内，贮存温度应在（5～40）℃。9.5半导电屏蔽料自生产之日起贮存期应不超过六个月。7（规范性）表面突起物尺寸及数量测试方法本附录规定的试验方法适用于66kV～500kV交联聚乙烯绝缘电缆半导电屏蔽料的表面突起物尺寸及数量测试。A.2试验设备本附录规定的试验方法是在具有高分辨相机的光学扫描设备下进行的试验，扫描速度（0.025～0.05）m2/min，设备扫描的最低高度为25μm，由高分辨相机扫描试样带表面，设备原理见图A-1。图A-1具有高分辨相机的光学扫描设备原理图A.3试验方法A.3.1试验应在（2