晶体光学及光性矿物学：课程总结

晶体光学课程总结第一章晶体光学基础

光——横波,振动特点可见光、自然光、偏振光2.光在晶体中传播的特点

均质体：各向同性

非均质体：各向异性-双折射（率）、光轴、一轴晶、二轴晶

3.光率体——一个假想的立体模型基本概念光率体、光学主轴(主折射率、最大双折射率)、光轴、主轴面、光轴面

、圆切面2)主要类型：均质体；一轴晶；二轴晶

:(1)形态

(2)主要切面类型、特点、应用一轴晶:3种:平行C,垂直C,斜交C;

二轴晶:5种:垂直Bxa,垂直OA,

平行AP,

垂直Bxo,斜交(3)光性符号:正光性、负光性4.光性方位——（结晶轴—主轴关系）

中级晶族低级晶族斜方晶系单斜晶系三斜晶系

第二章偏光显微镜

1.物镜中心的校正

2.上下偏光是否正交的检查

3.单偏光系统、正交偏光系统、和锥光系统的构成

第三章单偏光镜下晶体光学性质

1.形态、解理切面的组合;解理的等级、组数、夹角

2.颜色、多色性、吸收性选择吸收:方向性-色调浓度

3.突起等级-六个等级判别标志:边缘、贝克线、糙面

4.闪突起-方向性变化

5.主要光学性质的测定与观察（方法）

（1）.解理夹角的测定(附后)

要点:切面的选择

（2）.突起等级的观察要点:边缘、贝克线、糙面

附解理夹角的测定方法切片方向的选择选择同时垂直两组解理面的切片.

特征是两组解理缝最细最清楚,当解理缝平行目镜十字丝时,微微升降镜筒,两组解理缝不左右移动.ACBDEHFGK=60＞60＜60不同方向解理夹角变化示意图2.解理夹角的测定步骤（1）选择颗粒,置于视域心.（2）转动物台使一组解理缝平行目镜十字丝纵丝

(图A),读取此时载物台刻度盘上的度数a.（3）再转动物台，使另一组解理缝平行目镜十字丝纵丝，读取此时载物台刻度盘上的度数b(图B),a与b之差即为所测解理夹角.(四).解理夹角的测定图A图B

第四章正交偏光镜下晶体光学性质

消光(现象:黑暗)

永久消光(圆切面)、四次消光(其余切面)、消光位、消光类型、消光角2.干涉(现象:明亮)

干涉色、干涉色级序、干涉色色序

补色法则:45º位两矿片重叠、消色3.主要光学性质的测定与观察

1.光率体椭圆半径名称(轴名)的测定(附后)

要点:消光位--45º位—R(增减)2.干涉色级序的测定要点:消色位

3.最大双折射率的测定要点:最高干涉色

4.消光类型的观察要点:光性方位5.消光角及延性符号的测定（重点）要点:C

Ng；Np′

（010）

消光位加入试板干涉色升高同名平行P转物台45°加入试板干涉色降低异名平行PPPPPAPPA光率体椭圆半径名称测定45°90°(1)(2)(3)用石英楔测定干涉色级序示意图

Ng∥纵丝（α1）解理缝∥纵丝（α2）消光位a45°b1c1dc2定轴名45°b2单斜辉石或角闪石消光角的测定步骤示意图A消光位B正延性C负延性

干涉色升高

干涉色降低晶体延性符号测定步骤示意图

第五章锥光镜下晶体光学性质

基本概念

干涉图、闪图、光轴角(2V)、光性符号2.一轴晶干涉图

1)垂直C轴:黑十字+色环(转物台不变化)

应用:定切面(No),测光性

2)平行C轴:模糊黑十字(转物台对称干涉色)

应用:No,Ne;测光性

3)小斜交C轴:黑十字+色环(不完整)

应用:定切面(No,Ne’),测光性

2二轴晶干涉图

1)垂直Bxa:黑十字+∞形色环(随物台转动而转动)

应用:定切面,测光性,测2V2)垂直OA:是垂直Bxa图象的一半应用:定切面(Nm),测光性,测2V

3)小斜交OA:是垂直OA图象的一部分应用:定切面,测光性

4)平行AP:粗大模糊黑十字(转物台对称干涉色)

应用:定Bxa、Bxo,测光性

5)垂直Bxo:模糊黑十字(转物台对称干涉色)

应用:少鉴别轴性、切片类型、测定光性符号、测定No的折射率或No的颜色。一轴晶垂直光轴切面干涉图的应用一轴晶垂直光轴切面光性符号测定示意图C（-）A.Ne’和No的方位NoNe′升Ne′No升NoNe′降Ne′No降B（+）NoNe′升Ne′No升NoNe′降Ne′No降NoNe′Ne′NoNoNe′Ne′No利用垂直Bxa切片干涉图测定光性符号示意图Bxa=Ng（+）Bxa=Np（-）Nm锐角区钝角区钝角区NmNpNmNg光性符号测定方法0°AP光轴AP光轴90°45°AP锐角区光轴135°AP锐角区光轴垂直一个光轴切面干涉图ABCD(1).确定轴性及切片类型