QB/T 8030-2024 家用和类似用途制冷器具用负温度系数传感器技术要求和试验方法（正式版）

ICS97.040.30CCSY61中华人民共和国轻工行业标准QB/T8030—2024家用和类似用途制冷器具用负温度系数传感器技术要求和试验方法Technicalrequirementsandtestmethodsofnegativetemperaturecoefficientsensorsforhouseholdandsimilarrefrigeratingappliances中华人民共和国工业和信息化部发布QB/T8030—2024 2规范性引用文件 3术语和定义 4技术要求 5试验方法 附录A（规范性）传感器试验项目和顺序 附录B(资料性)传感器技术参数 附录C（资料性）传感器温度特性表 QB/T8030—2024本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。本文件由中国轻工业联合会提出。本文件由全国家用电器标准化技术委员会（SAC/TC46）归口。本文件起草单位：合肥美的电冰箱有限公司、安徽中认倍佳科技有限公司、中国家用电器研究院、宁波科联电子有限公司、厦门帅科卫浴电器有限公司、湖北美的电冰箱有限公司、卡奥斯创智物联科技有限公司、海信冰箱有限公司、乐清市红星辰电子有限公司、乐清市嘉得电子有限公司、恒新基电子（青岛）有限公司、孝感华工高理电子有限公司、西安庆安制冷设备股份有限公司、中家院（北京）检测认证有限公司、青岛海尔智能技术研发有限公司。本文件主要起草人：周扬、孙民、闫凌、刘杰、曹诗亮、王雄伟、沙露、侯全舵、李勇德、徐文涛、于玲、沈斌、唐雪瑾、陈阿国、周如勇、郝永安、王瑞兵、陈维会、朱磊。本文件为首次发布。1QB/T8030—2024家用和类似用途制冷器具用负温度系数传感器技术要求和试验方法本文件规定了家用和类似用途制冷器具用负温度系数传感器的外观及尺寸、零功率电阻值、B值、耗散系数等要求，描述了相应的试验方法。本文件适用于家用和类似用途制冷器具用负温度系数传感器（以下简称“传感器”）的设计、生产和检验。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T1804—2000一般公差未注公差的线性和角度尺寸的公差GB/T2421—2020环境试验概述和指南GB/T2423.7—2018环境试验第2部分:试验方法试验Ec:粗率操作造成的冲击（主要用于设备型样品）GB/T2423.10环境试验第2部分：试验方法试验Fc:振动(正弦)GB/T2423.17电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验Ka:盐雾GB/T6663.1—2007直热式负温度系数热敏电阻器第1部分：总规范3术语和定义GB/T6663.1—2007界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1负温度系数热敏电阻器negativetemperaturecoefficientthermistor温度升高时，电阻值下降的热敏电阻器。[来源：GB/T6663.1—2007，2.2.4]3.2负温度系数传感器negativetemperaturecoefficientsensor以负温度系数热敏电阻器（3.1）为核心部件，能感受温度并按照一定的规律转换成可用输出信号的器件或装置。3.3零功率电阻值zero-powerresistanceRT在规定温度下测得的传感器的直流电阻值。测量在下述条件下进行：由于自热导致的电阻值变化相对于总的测量误差可以忽略不计。[来源：GB/T6663.1—2007，2.2.18，有修改]3.42QB/T8030—2024耗散系数dissipationfactorδ使传感器的温度升高1K所需消耗的功率。通常为规定的环境温度下功耗变化与传感器阻体温度变化之比。[来源：GB/T6663.1—2007，2.2.33，有修改]3.5环境温度变化的热时间常数thermaltimeconstantbyambienttemperaturechange空载状态下，在规定的环境中，当环境温度（介质温度）发生突变时，传感器响应温度变化的63.2%所需要的时间。[来源：GB/T6663.1—2007，2.2.34.1，有修改]4技术要求4.1外观及尺寸4.1.1传感器应表面光洁，无划伤、锈蚀、鼓包、裂纹、破损等可见损伤，标志应清晰、正确。4.1.2传感器外形尺寸应符合产品技术文件的要求，未注明公差应符合GB/T1804—2000中表1公差等级V的要求。4.2零功率电阻值按5.3的方法试验后，零功率电阻值应符合产品技术文件的要求，相对误差不应大于±2%。4.3B值按5.4的方法试验后，B值应符合产品技术文件的要求，相对误差不应大于±2%。4.4耗散系数按5.5的方法试验后，耗散系数不应小于2.0mW/℃。4.5环境温度变化的热时间常数按5.6的方法试验后，根据传感器外壳的规格和材质，环境温度变化的热时间常数应符合表1的要求。若有特殊要求的，按供需双方产品技术协议的要求执行。表1不同封装外壳的传感器环境温度变化的热时间常数s1234/QB/T8030—20244.6直流耐压按5.7的方法试验，传感器中的热敏电阻器不应出现击穿现象。4.7耐电流按5.8的方法试验，零功率电阻值和B值的变化率(相对初始值)不应大于3%。4.8绝缘电阻按5.9的方法试验，绝缘电阻值不应小于100mΩ。4.9交流耐压按5.10的方法试验，应无击穿或飞弧现象，泄漏电流不应超过2mA。4.10振动按5.11的方法试验后，传感器应符合以下规定：a)检查外观，传感器无鼓包、裂纹、破损等可见损伤;b)零功率电阻值和B值的变化率(相对初始值）不大于3%;c)绝缘电阻和交流耐压分别符合4.8和4.9的规定。4.11跌落按5.12的方法试验后，传感器应符合以下规定：a)检查外观，传感器无鼓包、裂纹、破损等可见损伤;b)零功率电阻值和B值的变化率(相对初始值）不大于3%;c)绝缘电阻和交流耐压分别符合4.8和4.9的规定。4.12耐拉伸按5.13的方法试验后，传感器应符合以下规定：a)检查外观，传感器无鼓包、裂纹、破损等可见损伤;b)零功率电阻值和B值的变化率(相对初始值）不大于3%;c)绝缘电阻和交流耐压分别符合4.8和4.9的规定。4.13耐弯曲按5.14的方法试验后，传感器应符合以下规定：a)检查外观，传感器无鼓包、裂纹、破损等可见损伤;b)零功率电阻值和B值的变化率(相对初始值）不大于3%;c)绝缘电阻和交流耐压分别符合4.8和4.9的规定。4.14耐挤压按5.15的方法试验后，传感器应符合以下规定：a)检查外观，传感器无鼓包、裂纹、破损等可见损伤；b)零功率电阻值和B值的变化率(相对初始值）不大于3%；c)绝缘电阻和交流耐压分别符合4.8和4.9的规定。4.15盐雾按5.16的方法试验后，传感器应符合以下规定：4QB/T8030—2024a)检查外观，传感器无明显腐蚀及生锈现象;b)绝缘电阻和交流耐压分别符合4.8和4.9的规定。4.16低温存储按5.17的方法试验后，传感器应符合以下规定：a)检查外观，传感器无鼓包、裂纹、破损等可见损伤;b)零功率电阻值和B值的变化率(相对初始值）不大于3%;c)绝缘电阻和交流耐压分别符合4.8和4.9的规定。4.17高温存储按5.18的方法试验后，传感器应符合以下规定：a)检查外观，传感器无鼓包、裂纹、破损等可见损伤;b)零功率电阻值和B值的变化率(相对初始值）不大于3%;c)绝缘电阻和交流耐压分别符合4.8和4.9的规定。4.18低温工作按5.19的方法试验后，传感器应符合以下规定：a)检查外观，传感器无鼓包、裂纹、破损等可见损伤;b)零功率电阻值和B值的变化率(相对初始值）不大于3%;c)绝缘电阻和交流耐压分别符合4.8和4.9的规定。4.19高温工作按5.20的方法试验后，传感器应符合以下规定：a)检查外观，传感器无鼓包、裂纹、破损等可见损伤;b)零功率电阻值和B值的变化率(相对初始值）不大于3%;c)绝缘电阻和交流耐压分别符合4.8和4.9的规定。4.20煮沸按5.21的方法试验后，传感器应符合以下规定：a)检查外观，传感器无鼓包、裂纹、破损等可见损伤;b)零功率电阻值和B值的变化率(相对初始值）不大于3%;c)绝缘电阻和交流耐压分别符合4.8和4.9的规定。4.21高温高湿按5.22的方法试验后，传感器应符合以下规定：a)检查外观，传感器无鼓包、裂纹、破损等可见损伤;b)零功率电阻值和B值的变化率(相对初始值）不大于3%;c)绝缘电阻和交流耐压分别符合4.8和4.9的规定。4.22冷热冲击按5.23的方法试验后，传感器应符合以下规定：a)检查外观，传感器无鼓包、裂纹、破损等可见损伤;b)零功率电阻值和B值的变化率(相对初始值）不大于3%;5QB/T8030—2024c)绝缘电阻和交流耐压分别符合4.8和4.9的规定。5试验方法5.1试验条件5.1.1一般试验条件除非另有规定，所有试验和测量应在GB/T2421—2020中表2规定的标准大气条件下进行：a)温度：15℃~35℃;b)相对湿度：25%～75%；c)空气压力：86kPa～106kPa。5.1.2试验顺序每组试验样品的数量、同一组试验的先后顺序应满足附录A的要求。5.1.3测量器具测量器具的分辨力应符合表2的规定。表2测量器具的分辨力12345675.1.4特殊试验参数若测试温度环境、限流电阻规格、测试电压不适用，生产厂家可在产品技术文件中声明，按照产品技术文件试验。产品技术文件中需包含传感器技术参数和传感器温度特性表，内容见附录B和附录C。5.2外观及尺寸5.2.1外观5.2.2尺寸传感器探头使用游标卡尺测量，传感器线束使用卷尺测量。5.3零功率电阻值零功率电阻值应按照GB/T6663.1—2007中4.5.1的要求进行测量。6QB/T8030—2024测试时将传感器插入无腐蚀和非还原介质的测量槽中，靠近温度计并使零功率电阻值达到稳定读数。5.4B值按照5.3试验，测量5℃和25℃（或产品技术文件中规定的其它一对温度）的零功率电阻值，按照GB/T6663.1—2007中2.2.22的方法计算B值。5.5耗散系数按照GB/T6663.1—2007中4.10试验。5.6环境温度变化的热时间常数按照GB/T6663.1—2007中4.11的方法试验，选取介质为去离子水，其流速为6L/min。若对介质有特殊要求的，按产品技术文件试验。5.7直流耐压将传感器放置在（5±0.1）℃的无腐蚀和非还原介质的测量槽中，放置5min；在导线两端施加直流电压，在5s内从5V升至12V并保持5min，观察通过热敏电阻器的电流，若5min内热敏电阻器不被击穿，则在5s内将直流电压升至13V，并保持5min。5.8耐电流将传感器放置在（25±0.1）℃的无腐蚀和非还原介质的测量槽中，放置5min；依据表3施加恒定直流并维持10s，试验后样件在测量槽中恢复5min，试验后再进行5.3和5.4试验。表3传感器耐电流值127355.9绝缘电阻将传感器放置在质量分数为5%±1%的氯化纳溶液中浸没10min之后进行测试,导线浸入溶液不超过100mm。将浸入溶液中的部分作为一个电极，所有导线连接在一起作为另一个电极，施加500V的直流电压，持续1min后测量两个电极之间的绝缘电阻。5.10交流耐压将传感器放置在质量分数为5%±1%的氯化纳溶液中浸没10min之后进行测试，导线浸入溶液不超过100mm。将浸入溶液的部分作为一个电极，所有导线连接在一起作为另一个电极，分别施加频率为50Hz、60Hz，电压为1250V的交流电压，各持续时间1min，分别进行6次，每次间隔时间30s。5.11振动QB/T8030—2024按照GB/T2423.10的试验方法，传感器按振动频率10Hz-55Hz-10Hz进行扫频振动，振幅为1.5mm，X、Y、Z轴每个方向扫频循环25min，试验后再进行5.3和5.4试验。5.12跌落按照GB/T2423.7—2018中试验Ec进行试验，将传感器从1m的高度自然跌落到厚度30mm的木地板上，重复5次，试验后再进行5.3和5.4试验。5.13耐拉伸将传感器探头固定，在距离传感器探头尾部100mm处，沿传感器导线伸出方向对导线施加30N的拉力并保持10s，如图1所示，试验后再进行5.3和5.4试验。图1拉伸试验示意图5.14耐弯曲5.14.1将传感器放置在（-10±3）℃温度下2h，取出后将传感器探头固定，在距离传感器探头尾部100mm处，对导线施加30N的拉力，与导线伸出方向呈180°夹角进行1次弯折，保持10s，如图2所示，试验后再进行5.3和5.4试验。图2夹角180°弯曲试验示意图5.14.2将传感器放置在（-10±3）℃温度下2h，取出后将传感器探头固定，在距离传感器探头尾部100mm处，对导线施加5N的拉力，沿传感器导线伸出方向逆时针和顺时针分别进行一次60°折弯，循环25次，如图3所示，试验后再进行5.3和5.4试验。8QB/T8030—2024图3夹角60°弯曲试验示意图5.15耐挤压试验装置能够使被试传感器探头在刚性支撑平面和可移动的刚性施力平面之间受压，施加在传感器探头上的力应均匀一致。将传感器探头放置在刚性支撑平面上并固定，沿垂直方向施加50N的力，施力时间10s，试验后再进行5.3和5.4试验。图4挤压试验示意图5.16盐雾按照GB/T2423.17的试验方法，试验48h。QB/T8030—20245.17低温储存将传感器放置在（-40±3）℃温度下1000h，取出后放置2h，再进行5.3和5.4试验。5.18高温储存将传感器放置在（85±3）℃温度下1000h，取出后放置2h，再进行5.3和5.4试验。5.19低温工作用5.1kΩ作为限流电阻，接入5V直流电路，将传感器放置在（-40±3）℃温度下1000h，取出后放置2h，再进行5.3和5.4试验。5.20高温工作用5.1kΩ作为限流电阻，接入5V直流电路，将传感器放置在（85±3）℃温度下1000h，取出后放置2h，再进行5.3和5.4试验。5.21煮沸将传感器分为两组，用5.1kΩ作为限流电阻，接入5V直流电路，分别进行如下试验：a)将传感器放置在温度（97±3）℃、质量分数为2.5%的氯化钠溶液中，传感器探头距水槽壁30mm以上,不应触碰到水槽壁，放置6h后取出，充分去除表面水滴，放置2h，再进行5.3和5.4试验。b)将传感器放置在温度（97±3）℃的去离子水中，传感器探头距水槽壁30mm以上,不应触