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文档简介
01刻蚀去PSG的目的刻蚀去PSG目的:去掉硅片边缘部分和去除PSG1.扩散过程中,虽然采用背靠背扩散,硅片的边缘将不可避免地扩散上磷。PN结的正面所收集到的光生电子会沿着边缘扩散有磷的区域流到PN结的背面,而造成短路,此短路通道等效于降低并联电阻。2.同时,由于在扩散过程中氧的通入,在硅片表面形成一层二氧化硅,在高温下POCl3与O2形成的P2O5,部分P原子进入Si取代部分晶格上的Si原子形成n型半导体,部分则留在了SiO2中形成PSG(磷硅玻璃)PSG对电池片的影响a.PSG的存在使得硅片在空气中表面容易受潮,导致电流的降低和功率的衰减。b.死层的存在大大增加了发射区电子的复合,会导致少子寿命的降低,进而降低了Voc和Isc。c.磷硅玻璃的存在使得PECVD后产生色差。02刻蚀去PSG原理及影响因素刻蚀去PSG原理①利用HNO3和HF的混合液体对扩散后硅片下表面和边缘进行腐蚀,去除边缘的N型硅,使得硅片的上下表面相互绝缘;②利用HF去除掉表面的PSG;图:湿法刻蚀示意图图:湿法刻蚀实际生产状态03刻蚀的流程及各槽体的作用a.刻蚀槽:b.碱槽:c.酸槽:刻蚀机理硫酸可以增大溶液的表面张力,表面张力越大,则溶液相对于挡板、滚轮的液位就越高,由公式h=2γcosθ∕ρgr可知,如果不添加硫酸则表面张力太低,水的爬升高度太高(即其爬升能力很强),则溶液很容易反应到正面,如果硫酸太多,液面太高,溶液也会很容易反应到正面,此外循环速度太快也会导致液面太高。1、当硅片运动速度太大时,则附着力与硅片对溶液的推力的合力太大,导致溶液很容易反应到正面。2、硅片运动速率太小,则硅片在溶液中滞留时间太长,则溶液更容易反应到正面。3、如果排风太小,则溶液不容易爬升到硅片前端正面。4、如果排风太大,溶液容易反应到正面。1、排风对液体表面有与其风向相同方向的推力。2、如果排风太小,则溶液不容易爬升到硅片前端正面。3、如果排风太大,则溶液反应到正面。4、如果排风不稳定,排风对溶液的推力时有时无,则周期性的力的有
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