JBT 8232-2024《自准直仪》规范

ICS17.180.30CCSN34JB代替JB/T8232-1999IJB/T8232—XXXX前言 V 2规范性引用文件 3术语和定义 4类型 5基本参数 6技术要求 26.2寻像器的寻像性能 36.3电气安全性能 36.4仪器外观及各部分相互作用 36.5运输贮存基本环境试验 47试验方法 错误！未定义书签。7.1试验条件 47.21级数字式自准直仪的示值最大误差 47.32级数字式自准直仪和光电自准直仪的示值最大误差 67.4光学自准直仪测微鼓轮一周内的示值最大误差 87.5光学自准直仪全部测量范围内的示值最大误差 7.6含有回程误差的测微鼓轮示值重复性 7.7数字式自准直仪示值重复性 7.8数字式和光电自准直仪工作2h内的示值漂移 7.9光电自准直仪瞄准时由于调节灵敏度所引起的电表指零变化 7.10在最大工作距离测量条件下的测量范围 7.11自准直光束的平行性对示值的影响 7.12基座圆形水准器的正确性 7.13读数系统测量方向的偏差 7.14视轴对仪器底面的平行度 7.15带座反射镜反射面的面形偏差 7.16带座反射镜反射面与镜座的垂直度 7.17五棱镜光轴偏转角90°的偏差 167.18寻像器的寻像性能 7.19电气安全性能试验 7.20仪器外观及各部分相互作用 7.21运输环境试验 8检验规则 8.1检验分类 8.2出厂检验（即交货检验） JB/T8232—XXXX8.3型式检验 9标志、包装、运输及贮存 9.1标志 9.2包装 9.3运输 9.4贮存 附录A（资料性）专用光栏板 20JB/T8232—XXXX本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。本文件代替JB/T8232-1999《自准直仪》。本文件与JB/T8232-1999相比，除编辑性修改外主要技术差异如下：——更改了标准的适用范围（见第1章）；——增加了“术语和定义”一章（见第3章）；——增加了“类型”一章。其中增加了“数字式自准直仪”、“双轴自准直仪”和“以mm/m为示值单位的自准直仪”等类型，并将自准直仪划分为1、2、3级（见第4章）；并在以后各章中，增加了新增类型仪器的基本参数、技术要求和试验方法（见第4、5、6章）；——删除了基本参数中的“平面反射镜反射面的有效孔径”（见1999年版的表1序4——将“分格值”更改为“分度值”（见表1序1，1999年版的表1序1）；——删除了“仪器目镜的视度调节范围”要求（见1999年版的表2序4）；——删除了“视轴对仪器基座底平面的平行度”要求（见1999年版的表2序9——删除了“光电瞄准和目视瞄准的符合性”要求（见1999年版的表2序12）；——删除了“光电瞄准时，指示表指针偏转的对称度”要求（见1999年版的表2序13——删除了“光电瞄准的灵敏度”要求（见1999年版的表2序15）；——删除了直角铁和正方铁形状误差的要求（见1999年版的表2序21）；——将“仪器的准确度”（见1999年版的表2序1更改为“示值最大允许误差”（见表2序1其技术指标也做了相应更改；——将“平面反射镜放在仪器最大工作距离时，仪器的工作范围”（见1999年版的表2序2更改为“在最大工作距离测量条件下的测量范围”（见表2序7）；——将“目视瞄准的标准偏差”要求（见1999年版的表2序3），更改为“含有回程误差的测微鼓轮示值重复性”（见表2序3），其技术指标也做了相应更改；——将“瞄准单刻线（或双刻线）对仪器底座底平面（或水平面）的平行度”要求（见1999年版的表2序7），更改为“读数系统测量方向的允许偏差”（见表2序10），其技术指标也做了相应更改；——将“测微装置的空回误差”要求（见1999年版的表2序10），合并到“含有回程误差的测微鼓轮示值重复性”之中（见表2序3）；——将“当用专用光栏检验时，自准直光束的平行性”要求（见1999年版的表2序11），更改为“自准直光束的平行性对示值的影响”（见表2序8）；——将“五棱镜折转角90º的正确性”要求（见1999年版的表2序20），更改为“五棱镜光轴偏转角90º的公差”（见表2序14），其技术指标也做了相应更改；——更改了附件的名称和配置（见5.2，1999年版的表3）；——增加了电气安全性能的技术要求和试验方法（见6.3和7.19）；——更新了全部技术要求项目的试验方法（见第7章，1999年版的第5章——将图1（1999年版）所示的专用光栏移到附录A。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由中国机械工业联合会提出。本文件由全国光学和光子学标准化技术委员会（SAC/TC103）归口。本文件起草单位：贵阳新天光电科技有限公司、上海理工大学、贵州省光学测量工程技术研究中心、河南省计量科学研究院、苏州慧利仪器有限责任公司、南京东利来光电实业有限责任公司、宁波永新光学股份有限公司、宁波湛京光学仪器有限公司、广州粤显光学仪器有限责任公司、南京江南永新光学有限公司、宁波舜宇仪器有限公司、宁波市教学仪器有限公司、梧州奥卡光学仪器有限公司、麦克奥迪实业集团公司、宁波华光精密仪器有限公司、重庆奥特光学仪器有限责任公司。本文件主要起草人：胡清、冯琼辉、刘炜进、张卫东、韩森、洪宜萍、毛磊、鲍金权、徐涛、李晞、JB/T8232—XXXX胡森虎、张琪、张景华、章光伟、徐利明、吴国民。本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为：——1985年首次发布为JB/T8232—1985；——1995年第一次修订，发布为JB/T8232—1999；——本次为第二次修订。VJB/T8232—XXXX自准直仪用于测量光学和机械零部件的角度、直线度和平面度，是机械制造行业以及其他装备制造行业精密检测，计量检定，保证产品质量不可缺少的测量仪器。本文件规定了自准直仪的类型、基本参数和技术要求，描述了相应的试验方法，规定了检验规则、标志、包装、运输及贮存，为自准直仪的设计、制造、检验提供了依据，其目的是促使自准直仪产品实现标准化、规范化，同时为自准直仪量值准确和产品质量提供可靠保证。JB/T8232-1999《自准直仪》发布实施已二十余年，由于技术的发展、产品市场的变化和相关标准的更新，已不能适应产业现状，有必要修订完善，以不断适应产业发展新需求。本次对JB/T8232的修订，增加了产品新类型，并重新理顺了产品分类、分级、基本参数和要求，并补充和完善试验方法。修订后，对满足市场需求、指导产品生产、提高产品技术性能和质量水平，促进行业高质量发展提供可靠的技术支撑。1JB/T8232—XXXX本文件规定了自准直仪的类型、基本参数和技术要求，描述了相应的试验方法，规定了检验规则、标志、包装、运输及贮存。本文件适用于测量小角度的自准直仪的制造。本文件不适用于激光自准直仪。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T191包装储运图示标志GB/T2828.1计数抽样试验程序第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划GB/T2831-2009光学零件的面形偏差GB/T6388运输包装收发标志GB/T9969工业产品使用说明书总则GB/T11162光学分划零件通用技术条件GB/T14436工业产品保证文件总则GB/T15464仪器仪表包装通用技术条件GB/T25480-2010仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法3术语和定义本文件没有需要界定的术语和定义。4类型4.1依据瞄准和读取示值（以下简称读数）的不同方式，自准直仪具有下列类型：a)鼓轮读数式自准直仪。该类型又分为两种型式，其中，人眼通过目镜瞄准自准像，在测微鼓轮上读数的，被称为光学自准直仪；采用光电器件，借助电表指零瞄准自准像，在测微鼓轮上读数的，被称为光电自准直仪；b)数字式自准直仪。其特征是：采用CCD或其它光电器件探测自准像位置，无需进行瞄准，直接在数显表或显示屏上读数。4.2依据读数系统的维数，自准直仪具有下列两种类型；a)单轴自准直仪。其特征是：具有单一坐标读数系统；b)双轴自准直仪。其特征是：具有方向相互垂直的两个坐标读数系统。4.3依据示值的单位，光学自准直仪可分为以（"）为单位和以mm/m为单位两种类型；后者也被称为平直度检查仪。光电自准直仪以（"）为示值单位；数字式自准直仪的示值以（"）单位，并具有切换成以mm/m为单位的功能。4.4依据技术指标的高低，自准直仪（以下简称：仪器）可分为1、2、3级。5基本参数5.1仪器的基本参数如表1所示。2JB/T8232—XXXX1—12——3—45以mm/m为示值单位的自准直仪的测量范围 或6m以上测量范围条件下,允许的最大工作距离，由5.2下列仪器附件，可由制造商部分或全部提供。带座反射镜、五棱镜、寻像器等。6技术要求6.1主要技术指标仪器的主要技术指标应符合表2的规定。1数字式自准直仪和光电自准 2 2光学自准直仪的示值最大允——3 4—5—673JB/T8232—XXXX89 Ne—ΔNf—b6.2寻像器的寻像性能仪器在最大工作距离条件下，调整仪器或反射镜时，对于合像式寻像器，应能方便地使寻像器的双像重合；对于激光寻像器，应能方便地使寻像器所发射的激光束，经反射回到发射小孔中。此时，撤除寻像器，仪器的自准像应位于视场(或显示屏)中央的2/3范围内。6.3电气安全性能6.3.1耐压耐压试验的试验电压应符合表3的规定。对仪器施加电压，保持5s，应无击穿和飞弧现象。交流、直流试验方式可任选其一，能通过二者之一即可。一般情况选择交流试验；如果为了避免容性电流，可选择直流试验。VVVV6.3.2泄漏电流受试仪器在常温常湿条件下的泄漏电流不应大于1mA。6.3.3接地电阻带有电源输入插座的受试仪器，在插座中的保护接地点与仪器所有可能被触及部位之间的接地电阻不大于0.1Ω。带有不可拆卸电源线的受试仪器，电源线插头中的保护接地脚与仪器所有可能被触及部位之间的接地电阻不大于0.2Ω。6.4仪器外观及各部分相互作用4JB/T8232—XXXX6.4.1仪器外表电镀表面不应有脱皮和斑点存在；表面涂覆层不应有磕碰伤和显著的颜色不均匀；零件表面不应有毛刺；外部零件锐边应倒棱；零件接合处应齐整。6.4.2裸露金属面不应有锈蚀、碰伤和显著的划痕，以及影响测量的其它缺陷。6.4.3光学零件的表面不应有明显的擦痕、麻点、水珠、霉点等疵病；光学零件的胶合面不应有气泡和脱胶现象。6.4.4仪器的光学系统成像应清晰。视场内的自准像相对于指标线不应有可觉察的偏斜和视差。视场内不应有影响观察的阴影、亮斑和异物。6.4.5测微鼓轮的刻度线宽度应与指标线宽度相等；当0刻度与指标线对齐时，目镜视场中的读数标尺应与指标线对齐6.4.6光学分划元件和测微鼓轮上的刻度和刻字的技术要求应符合GB/T11162的规定。6.4.7单轴自准直仪的镜筒或测微目镜应能绕其轴线旋转90°,并能可靠定位；定位后，仍保持视场内的自准像相对于指标线无可觉察的偏斜和视差。如果旋转前将自准像调整在视场中央，旋转后，自准像与视场中央的偏离量，应不大于视场半径的1/3。6.4.8带座反射镜反射面的口径应大于自准直仪物镜的通光孔径。6.4.9所有紧固零件应保证紧固可靠。6.4.10仪器上所有刻度、刻字以及铭牌标记应清晰、明显。6.4.11数字式自准直仪数显面板的功能键应灵敏、可靠，标注符号或图文应清晰且含义准确、易懂。6.4.12各活动部分的移动和转动应平稳舒适，不应有卡住和急跳现象。6.4.13所有附件装卸和调整应方便、可靠。6.5运输贮存基本环境试验仪器在运输包装条件下的环境模拟试验应按GB/T25480的规定。其中选用：高温+55℃,低温-40℃,交变湿热试验相对湿度95%，自由跌落4次，跌落高度按包装件质量选定。7试验方法7.1试验条件7.1.1仪器检验温度条件应符合表4的规定。7.1.2检验时的供电电源交流电压应满足（220±22）V。1℃23h7.21级数字式自准直仪的示值最大误差7.2.1测量器具检验所用测量器具如下：c)1级激光小角度测量仪（以下简称测量仪）；d)转台；e)多齿分度台（以下简称齿台）；f)带座反射镜。7.2.2试验程序±20"示值范围以内，检测点的间隔设置为2.5"；±20"示值范围以外，检测点的间隔设置为20"。5JB/T8232—XXXXii示值正方向87值负方向如图1所示，将齿台放在转台上，并使其示值为0，再将测量仪的反射镜组安装在转台上，校正三者转动中心同心，其偏心差应不大于5μm。如图1所示，在转台外侧安装测量仪的分光镜组，必须通过校正，使其两测量臂的光程相等，以便确定测量仪的示值0点。其方法是先将测量仪示值暂时清0，用齿台产生+5°和-5°的转角，读取测量仪的示值，若二示值之差的绝对值大于0.00002°，则应使齿台回到0位，试探性微调转台，使之略微旋转角度φ0，将测量仪重新清0后，重复以上程序。若二示值之差的绝对值仍大于0.00002°，则根据下列几种情况，做出相应调整：若测得二示值之差的符号与先前相同，绝对值减小，说明先前转台转角φ0的微调方向正确，而量不足；则应继续同向微调转台，重复上述程序；若测得二示值之差的符号与先前相同，绝对值不减反增，说明先前转台转角φ0的微调方向相反；则应使齿台回到0位，反向微调转台，重复上述程序；若测得二示值之差的符号与先前相反，说明先前转台微调角度φ0过量，则应使齿台回到0位，减小微调量，同向微调转台，重复上述程序；如此反复调整，直至测量仪读取的二示值之差绝对值小于0.00002°，此时的测量仪示值0点被确认，在以下程序中，测量仪不得再进行清0操作。6JB/T8232—XXXX如图1所示，在转台上安装带座反射镜（以下简称：反射镜使其反射面中点法线通过转台中心。安装被检仪器，使其准直光束对准反射镜的反射面，工作距离约100mm，且受检示值的测量方向位于水平方向。调节被检仪器方位，使自准像位于仪器垂直和水平方向测量范围的中点，将其示值清0（对于具有绝对坐标功能的仪器，可直接选择ABS显示模式，调节受检仪器方位，使示值为0即可，无需清0操作）。微调转台，使被检仪器示值依次为2.5"，5"，7.5"，……，17.5"，20"，读取测量仪在相应位置处的示值Ci，按公式（1）计算示值正方向各检测点的示值误差。Δki=ki−Ci×3600·················································(1)式中：Δki——第i号检测点仪器的示值误差，单位为秒（"ki——第i号检测点仪器的示值，单位为秒（"Ci——第i号检测点测量仪的示值，单位为度（。）。微调转台，使被检仪器示值依次为-2.5"，-5"，-7.5"，ⅆⅆ，-17.5"，-20"，读取测量仪在相应位置处的示值k-i，按公式（1）计算示值~负方向各检测点的示值误差。以正、负示值方向序号i=(-44)范围内的Δki中最大值和最小值的代数差作为被检仪器±10"范围内的示值最大误差。以所有Δki中的最大值和最小值的代数差作为被检仪器±20"范围内的示值最大误差。仿照以上程序和表5规定的示值检测点位置，对仪器±20"范围以外的示值误差进行检验，以全部测量范围内所有检测点示值误差中的最大值和最小值的代数差作为被检仪器±300"测量范围内的示值最大误差。为了减小测量误差，对于每一个检测点示值可以进行正测和反测，取其示值的平均值代入公式（1）进行计算。对于双轴自准直仪，每一个测量方向均应按以上程序进行检验。7.32级数字式自准直仪和光电自准直仪的示值最大误差7.3.1测量器具检验所用测量器具如下：a)指示计中心距为（500±0.05）mm的小角度检查仪；b)两只光学计（作为小角度检查仪的指示计）；c)带座反射镜；d)1mm和表6所列尺寸的三等量块。7.3.2试验程序检测点的间隔设置为20.6"。对于测量范围大于200"的仪器，试验程序应分组进行。例如：检验测量范围为(0~600)"的仪器时，可将全部测量范围的示值分为三组，分别进行检验；每组11个检测点，利用每组的最后一个检测点与下一组起始检测点位置相互重合的设置，将三组示值检验数据进行衔接。各检测点仪器示值代号及所使用的预置量块尺寸如表6所示。7JB/T8232—XXXXij=1j=2j=30k01=0k02=k101k03=k1021k11k12k132k21k22k233k31k32k334k41k42k435k51k52k536k61k62k637k71k72k738k81k82k839k91k92k93k101k102—对于测量范围小于(0～600)"的被检仪器，程序可以在范围终端的检测点终止。如图2所示，在小角度检查仪横梁一端安装带座反射镜（以下简称：反射镜），将被检仪器安置在小角度检检查仪外端，但二者必须位于同一基体上；将被检仪器适当垫高，使其准直光束对准反射镜的反射面，工作距离约100mm，且被检验的测量方向位于垂直方向。先检验第1组示值。在光学计A测量头下方预置1.0mm量块，在光学计B测量头下方预置1.5mm量块，调整光学计A和B，使其示值为0。再调整被检仪器的调平装置，使被检仪器示值位于测量范围的0点。撤去光学计B测量头下方的1.5mm量块，按表6的顺序依次换上i=1，2，……，9，10号量块；调节量块升降机构，使光学计A和B的示值为0。读取示值ki，j。按公式（2）计算第1组各检测点的示值误差。8JB/T8232—XXXX在检验以后各组示值时，被检仪器起始检测点的示值应保持在上一组最后一个示值位置上，其余程序与上述程序相同。最后，按公式（3）计算第2、3、4组各检测点的示值误差。Δki,1=ki,1-........................................................................Δki,j=ki,j-k0,j-+Δk10.............................................................式中：Δki，j——检测点的示值误差（i为检测点序号，j为组序号单位为秒（"ki，j——检测点的仪器示值，单位为秒（"）lb0——量块检定证书上给定的0号量块b的中心长度，单位为毫米（mmlbi——量块检定证书上给定的i号量块b的中心长度，单位为毫米（mmρ——1弧度所对应的秒值，ρ=206265"适用于本文件；L——小角度检查仪两指示计安装孔中心距，按6.3.1规定的测量器具为L=500mm。所有检测点中，任意4个相邻示值误差为一组，找出组内示值误差中的最大值和最小值的代数差最大一组，以该组示值误差中的最大值和最小值的代数差，作为被检仪器任意60"范围内的示值最大误差。以所有检测点示值误差中的最大值和最小值的代数差，作为被检仪器(0~600)"范围内的示值最大误为了减小测量误差，对于每一个检测点示值ki，j可以进行正测和反测，取其示值的平均值代入公式（2）、（3）进行计算。对于双轴自准直仪，每一个测量方向均应按以上程序进行检验。7.4光学自准直仪测微鼓轮一周内的示值最大误差7.4.1测量器具检验所用测量器具如下：b)两块1.0mm量块或表8所列尺寸的三等量块。7.4.2适用于以（"）为示值单位的光学自准直仪的试验程序测微鼓轮转动一周内设置的检测点数应不少于6个，具体设置的检测点数，视被检仪器测微鼓轮的分度值和一周的测量范围而定。例如：检验分度值为1"，测微鼓轮一周为60"的仪器时，可将检测点间隔设为10（格），共7个检测点，各检测点光学计A和B所预置的示值如表7所示。i0000102030456按7.3.2和图2配置测量器具和被检仪器。9JB/T8232—XXXX在光学计A、B测量头下方分别预置1.0mm量块，调整光学计A和B，使其示值为0。转动被检仪器测微鼓轮，使其示值为0，再调整被检仪器调平装置，使被检仪器瞄准自准像。然后，调节量块升降机构，使光学计A、B依次达到表7序1~6规定的预置示值，转动被检仪器测微鼓轮，瞄准自准像并读取鼓轮示值ki。按公式（4）计算各检测点的示值误差。Δki=ki-..........................................................................式中：Δki——第i号检测点的示值误差，单位为秒（"kj——第i号检测点被检仪器的示值，单位为秒（"ki——光学计A的预置示值，单位为毫米（mmBi——光学计B的预置示值，单位为毫米（mm）。ρ——1弧度所对应的秒值，ρ=206265"适用于本文件；L——小角度检查仪两指示计安装孔中心距，按7.3.1规定的测量器具为L=500mm。取测微鼓轮一周内所有检测点示值误差中的最大与最小值的代数差作示值最大误差。为了减小测量误差，对于每一个检测点示值ki可以进行正测和反测，取其示值的平均值代入公式（4）进行计算。对仪器测量范围的首、中、尾，各选测微鼓轮一周，进行检验。对于双轴自准直仪，每一个测量方向均应按以上程序进行检验。7.4.3适用于分度值为0.005mm/m的光学自准直仪的试验程序检测点间隔设定为20（格），一周共6个检测点，各检测点所使用的预置量块尺寸如表8所示。i0012345按7.3.2和图2配置测量器具和被检仪器。在光学计A测量头下方预置1.0mm量块，在光学计B测量头下方预置1.5mm量块，调整光学计A和B，使其示值为0。转动被检仪器测微鼓轮，使其示值为0，再调整被检仪器调平装置，使被检仪器瞄准自准像。撤去光学计B测量头下方的量块，按表8顺序，将表中对应的量块依次预置于光学计B测量头下方；调节量块升降机构，使光学计A和B的示值为0，然后转动被检仪器测微鼓轮，瞄准自准像并读取鼓轮示值ki。按公式（5）计算各检测点的示值误差。Δki=ki-.......................................................................式中：Δki——第i号检测点的示值误差，单位为mm/mm；kj——第i号检测点被检仪器的示值，单位为mm/m；lbi——量块检定证书上给定的i号量块b的中心长度，单位为毫米（mmlb0——量块检定证书上给定的0号量块b的中心长度，单位为毫米（mmL——小角度检查仪两指示计安装孔中心距，按6.3.1规定的测量器具为L=500mm。JB/T8232—XXXX取测微鼓轮一周内所有检测点示值误差中的最大与最小值的代数差作示值最大误差。为了减小测量误差，对于每一个检测点示值ki可以进行正测和反测，取其示值的平均值代入公式（5）进行计算。对仪器测量范围的首、中、尾，各选测微鼓轮一周，进行检验。对于双轴自准直仪，每一个测量方向均应按以上程序进行检验。7.4.4适用于分度值为0.0025mm/m的光学自准直仪的试验程序由于仪器的测微鼓轮一周的实有刻度为100格，而鼓轮所标数字为“50”，为了方便读数和计算，本项检验所涉及的格数，以所标数字为准，短刻线被视为“半格”。检测点间隔设定为10（格），一周共6个检测点，各检测点光学计A和B所预置的示值，如表7序0~5所示。按7.3.2和图2配置测量器具和被检仪器。在光学计A、B测量头下方分别预置1.0mm量块，调整光学计A和B，使其示值为0。转动被检仪器测微鼓轮，使其示值为0，再调整被检仪器调平装置，使被检仪器瞄准自准像。然后，调节量块升降机构，使光学计A、B达到表7序1~5规定的预置示值，转动被检仪器测微鼓轮，瞄准自准像并读取鼓轮示值ki。按公式（6）计算各被检点的示值误差。Δki=ki.......................................................................式中：Δki——第i号检测点的示值误差，单位为mm/m；kj——第i号检测点被检仪器的示值，单位为mm/m；Ai——光学计A的预置示值，单位为毫米（mmBi——光学计B的预置示值，单位为毫米（mmL——小角度检查仪两指示计安装孔中心距，按6.3.1规定的测量器具为L=500mm。取测微鼓轮一周内所有检测点示值误差中的最大与最小值的代数差作示值最大误差。为了减小测量误差，对于每一个检测点示值ki可以进行正测和反测，取其示值的平均值代入公式（6）进行计算。对仪器测量范围的首、中、尾，各选测微鼓轮一周，进行检验。对于双轴自准直仪，每一个测量方向均应按以上程序进行检验。7.5光学自准直仪全部测量范围内的示值最大误差7.5.1测量器具检验所用测量器具如下：a)同第6.3.1条的a)、b)、c)项；b)表9或表10或表11所列尺寸的三等量块；c)对于没有调平装置的被检仪器，被检仪器下方应垫入辅助调平装置。7.5.2适用于以（"）为示值单位的光学自准直仪的试验程序测微鼓轮每转动一周，设置一个检测点。试验程序的分组和所用量块，视被检仪器的测量范围而定。例如：检验测微鼓轮一周为60"，测量范围为(0~600)"的仪器时，可将全部测量范围的示值分为四组，分别进行检验。利用每组的最后一个检测点与下一组起始检测点位置相互重合的设置，将四组示值检验数据进行衔接。各检测点仪器示值代号及所使用的预置量块尺寸如表9所示。ij=1j=2j=3j=40k03=k32k04=k3301k11k12k13JB/T8232—XXXX2k21k22k23—3k31k32k33 对于测量范围小于（0~600）"的被检仪器，程序可以在范围终端的检测点终止。按7.3.2和图2配置测量器具和被检仪器。先检验第1组示值。在光学计A测量头下方预置1.0mm量块，在光学计B测量头下方预置1.5mm量块，调整光学计A和B，使其示值为0。调整被检仪器测微鼓轮，使仪器示值位于测量范围的0点，再调整被检仪器调平装置，使被检仪器瞄准自准像。撤去光学计B测量头下方的量块，按表9的顺序，将表中对应的量块依次预置于光学计B的测量头下方；调节量块升降机构，使光学计B的示值为表9规定的示值，光学计A的示值保持为0；然后转动被检仪器测微鼓轮，瞄准自准像并读取示值ki，j。按公式（7）计算第1组各检测点的示值误差。在检验以后各组示值时，被检仪器测微鼓轮起始检测点的示值，应保持在上一组最后一个示值位置上，其余程序与上述程序相同。最后，按公式（8）计算第2、3、4组各检测点的示值误差。Δki,1=ki,1..................................................................Δki,j=ki,jk0,j+Δk3......................................................式中：Δki，j——检测点的示值误差（i为检测点序号，j为组序号单位为秒（"ki，j——检测点的仪器示值，单位为秒（"）lb0——量块检定证书上给定的0号量块b的中心长度，单位为毫米（mmlbi——量块检定证书上给定的i号量块b的中心长度，单位为毫米（mmGi——光学计B的预置示值，单位为毫米（mm）；ρ——1弧度所对应的秒值，ρ=206265"适用于本文件；L——小角度检查仪两指示计安装孔中心距，按6.3.1规定的测量器具为L=500mm。以所有检测点示值误差中的最大值和最小值的代数差作为被检仪器全部测量范围内的示值最大误为了减小测量误差，对于每一个检测点示值ki，j可以进行正测和反测，取其示值的平均值代入公式（7）、（8）进行计算。对于双轴自准直仪，每一个测量方向均应按以上程序进行检验。7.5.3适用于分度值为0.005mm/m的光学自准直仪的试验程序对于测量范围为（0~1600)i的被检仪器，将全部测量范围的示值划分为四组，分别进行检验；每组5个检测点，测微鼓轮每转动一周，设置一个检测点。利用每组的最后一个检测点与下一组起始检测点位置相互重合的设置，将四组示值检验数据进行衔接。试验程序中，各检测点所使用的预置量块尺寸，如表10所示。i001234JB/T8232—XXXX对于测量范围小于（0~1600)i的被检仪器，程序可以在范围终端的检测点终止。按7.3.2和图2配置测量器具和被检仪器。先检验第1组示值。在光学计A测量头下方预置1.0mm量块，在光学计B测量头下方预置2.5mm量块，调整光学计A和B，使其示值为0。调整被检仪器测微鼓轮，使仪器示值位于测量范围的0点，再调整被检仪器调平装置，使被检仪器瞄准自准像。撤去光学计A和B测量头下方的量块，按表10的顺序，将表中的量块依次预置于光学计A和B的测量头下方；调节量块升降机构，使光学计A和B的示值为0，然后转动被检仪器测微鼓轮，瞄准自准像并读取示值ki，j。按公式（9）计算第1组各检测点的示值误差。在检验以后各组示值时，被检仪器测微鼓轮起始检测点的示值，应保持在上一组最后一个示值位置上，其余程序与上述程序相同。最后，按公式（10）计算每组各检测点的示值误差。Δki,1=ki,1.............................................................Δki,j=ki,jk0,j+Δk4,................................................式中：Δki，j——检测点的示值误差（i为检测点序号，j为组序号），单位为mm/m；ki，j——检测点的仪器示值，单位为mm/m；lai——量块检定证书上给定的i号量块a的中心长度，单位为毫米（mmla0——量块检定证书上给定的0号量块a的中心长度，单位为毫米（mmlbi——量块检定证书上给定的i号量块b的中心长度，单位为毫米（mmlb0——量块检定证书上给定的0号量块b的中心长度，单位为毫米（mmL——小角度检查仪两指示计安装孔中心距，按6.3.1规定的测量器具为L=500mm。以所有检测点示值误差中的最大值和最小值的代数差作为被检仪器全部测量范围内的示值最大误为了减小测量误差，对于每一个检测点示值ki，j可以进行正测和反测，取其示值的平均值代入公式（9）和（10）进行计算。对于双轴自准直仪，每一个测量方向均应按此程序进行检验。7.5.4适用于分度值为0.0025mm/m的光学自准直仪的试验程序由于仪器的测微鼓轮一周的实有刻度为100格，而鼓轮所标数字为“50”，为了方便读数和计算，本项检验所涉及的格数以所标数字为准，短刻线被视为“半格”。将全部测量范围的示值等分为两组，分别进行检验；每组7个检测点，测微鼓轮每转动一周，设置一个检测点。利用每组的最后一个检测点与下一组起始检测点位置相互重合的设置，将两组示值检验数据进行衔接。试验程序中，各检测点所使用的量块尺寸和光学计B的预置示值，如表11所示。i000120340560JB/T8232—XXXX按7.3.3和图2配置测量器具和被检仪器。先检验第1组示值。在光学计A量头下方预置1.0mm量块，在光学计B测量头下方预置2.5mm量块，调整光学计A和B，使其示值为0。转动被检仪器测微鼓轮，使其示值为0，再调整被检仪器调平装置，使被检仪器瞄准自准像。撤去光学计A和B测量头下方的量块，按表11的顺序，将表中的量块依次预置于光学计A和B测量头下方；调节量块升降机构，使光学计A的示值为0，预置光学计B的示值为表11所规定的示值，然后转动被检仪器测微鼓轮，瞄准自准像并读取示值ki，j。按公式（11）计算第1组各检测点的示值误差。在检验第2组示值时，被检仪器测微鼓轮起始检测点的示值，应保持在上一组最后一个示值位置上，其余程序与上述程序相同。最后，按公式（12）计算每组各检测点的示值误差。Δki,1=ki,1......................................................Δki,2=ki,2k0.2+Δk6,1.............................................式中：Δki，j——检测点的示值误差（i为检测点序号，j为组序号），单位为mm/m；ki，j——检测点的仪器示值，单位为mm/m；Gi——光学计B的预置示值，单位为毫米（mmlai——量块检定证书上给定的i号量块a的中心长度，单位为毫米（mmla0——量块检定证书上给定的0号量块a的中心长度，单位为毫米（mmlbi——量块检定证书上给定的i号量块b的中心长度，单位为毫米（mmlb0——量块检定证书上给定的0号量块b的中心长度，单位为毫米（mm）L——小角度检查仪两指示计安装孔中心距，按6.3.1规定的测量器具为L=500mm。以所有检测点示值误差中的最大值和最小值的代数差作为被检仪器全部测量范围内的示值最大误为了减小测量误差，对于每一个检测点示值ki,j可以进行正测和反测，取其示值的平均值代入公式（11）、（12）进行计算。对于双轴自准直仪，每一个测量方向均应按以上程序进行检验。7.6含有回程误差的测微鼓轮示值重复性7.6.1测量器具带座反射镜和1级平板。7.6.2试验程序将被检仪器和带座反射镜放在平板上，工作距离约100mm；调整仪器方位，使自准像位于视场中央。按示值递增方向转动测微鼓轮，瞄准自准像，重复5次；再按示值递减方向转动鼓轮，瞄准自准像，重复5次，正、反向10次读数（以格数为单位）的最大与最小值之差，即为含有回程误差的测微鼓轮的示值重复性。检验应在仪器示值范围的两端和中间三个位置上进行。对于双轴自准直仪，每一个测量方向均应按以上程序进行检验。7.7数字式自准直仪示值重复性按7.6.2安置测量器具和被检仪器，利用一块遮光板遮挡准直光束，再移开，观察每次重新显示的示值；反复5次，取其中示值最大值与最小值之差，作为示值重复性。7.8数字式和光电自准直仪工作2h内的示值漂移7.8.1测量器具JB/T8232—XXXX7.8.2试验程序将被检仪器和带座反射镜放在平板上，工作距离约100mm；调整仪器方位，使自准像位于视场中央。对于数字式自准仪，直接读取示值；对于光电自准仪，转动测微鼓轮，瞄准自准像，读取仪器示值。监视仪器在2h内的示值变化，以最大变化量作为检验结果。对于双轴自准直仪，每一个测量方向均应按以上程序进行检验。7.9光电自准直仪瞄准时由于调节灵敏度所引起的电表指零变化7.9.1测量器具同6.6.1。7.9.2试验程序将被检仪器和带座反射镜放在平板上，工作距离约100mm；调整仪器方位，使自准像位于视场中央。将灵敏度调整至最高，转动测微鼓轮瞄准自准像，使电表指零，读取仪器示值。然后缓慢减低灵敏度，观察电表指零变化，并找到指针偏转最大处，转动测微鼓轮，使电表指零，再次读取仪器示值，以该示值与先前读得示值之差作为检验结果。7.10在最大工作距离测量条件下的测量范围7.10.1测量器具带座反射镜。1.1.1试验程序将带座反射镜放在被检仪器最大工作距离处；调整带座反射镜方位，使自准像位于视场中央。微调带座反射镜，使其偏转±1ˊ或偏转到基本参数规定的测量范围的上下限，仪器应能正常读数。7.11自准直光束的平行性对示值的影响7.11.1测量器具7.6.1所列测量器具和专用光栏板（参见附录A）。7.11.2试验程序将被检仪器和带座反射镜放在平板上，工作距离约300mm，调整仪器方位，使之自准像位于视场中央；将专用光栏板置于二者之间，并使板上一个通光孔对准仪器光轴（参见图3a）瞄准自准像，读取仪器初始示值。移动专用光栏板，使通光孔分别位于偏离仪器光轴的上、下、左、右四个位置，其偏离量为10mm（参见图3b），读取各位置上的仪器示值与初始示值之差，其中的最大差值（对于以mm/m为示值单位的仪器，按0.005mm/m相当于1"折算），就是自准直光束的平行性对示值的影响。a)7.12基座圆形水准器的正确性7.12.1测量器具JB/T8232—XXXX带座反射镜和水平仪零位检定器。7.12.2试验程序被检仪器和带座反射镜放在水平仪零位检定器平台上；调整仪器方位，使之自准像位于视场（或显示器窗口）中央，并使反射镜左右摆动，使自准像位于视场两边缘时的示值之差小于5"。调整水平仪零位检定器，使仪器基座圆形水准器的气泡应在分划圈中央。将仪器在平台上原地调头180°,仪器基座圆形水准器的气泡应仍在分划圈中央。7.13读数系统测量方向的偏差7.13.1测量器具1级平板和角度90°±5"、工作面粗糙度Ra≤0.1μm的直角铁；7.13.2试验程序将被检仪器和直角铁放在已调整至水平的平板上，工作面距离约100mm；对于具有调平装置的仪器，应调整仪器至水平；对于不具备调平装置的仪器，应使仪器基座底面直接与平板工作面接触。左右摆动直角铁，使自准像先后位于视场（或显示器窗口）左边缘和右边缘，并分别读取示值，两示值之差（对于以μm/mm为示值单位的仪器，按1μm/200mm相当于1"折算）即为读数系统测量方向的偏差。7.14视轴对仪器底面的平行度7.14.1测量器具同7.13.1。7.14.2试验程序将被检仪器放在平板上，并使其基座底面直接与平板工作面接触；将直角铁放在相距被检仪器约100mm处，并使其工作面朝向被检仪器物镜。左右摆动直角铁，使自准像位于视场中央，读取当前示值，该示值与测量范围中点示值之差（对于以μm/mm为示值单位的仪器，按1μm/200mm相当于1"折算即为视轴对仪器底面的平行度。7.15带座反射镜反射面的面形偏差7.15.1测量器具平面干涉仪7.15.2试验程序将被检反射镜放在平面干涉仪上，按GB/T2831-2009的附录B的方法检验面形偏差。7.16带座反射镜反射面与镜座的垂直度7.16.1测量器具检验所用测量器具如下：b)示值最大误差不大于1"的自准仪；c)平行度不大于0.005mm的平行垫块。7.16.2试验程序将自准直仪和直角铁放在平板上，调整仪器方位，使经直角铁反射的自准像位于视场中央，瞄准自准像，并读取示值；撤去直角铁，换上带座反射镜，用仪器瞄准自准像，并读取示值；与先前读取的示值之差，即为带座反射镜反射面与底面的垂直度。将带座反射镜侧面朝下，垫上平行垫块，置于平板上，按以上程序对带座反射镜反射面与底面的垂直度进行检验。JB/T8232—XXXX7.17五棱镜光轴偏转角90°的偏差7.17.1测量器具检验所用测量器具如下：a)示值最大误差不大于0.5"的自准仪；b)1级平板；c)二块带座反射镜。7.17.2试验程序如图4所示，将被检五棱镜、自准直仪和二块带座反射镜放在平板上，使四者光轴等高。先使自准直仪位于Ⅰ位置，五棱镜位于a位置，调整反射镜1的方位，使经其反射的自准像位于自准仪视场中央并处于瞄准状态，读取示值α1。然后将五棱镜翻转180°,使之位于b位置；调整反射镜2的方位，使经其反射的自准像被自准仪瞄准，且自准直仪示值仍保留在α1。此时，两反射镜位置被固定，不得再作任何调整。将自准直仪移到对面的Ⅱ位置，并使五棱镜位于c位置；调整自准直仪方位，使之瞄准经反射镜1反射的自准像，自准直仪示值仍保留在α1。然后将五棱镜翻转180°,使之位于d位置，瞄准经反射镜2反射的自准像，读取示值α2，按公式（13）计算五棱镜光轴偏转角90°的偏差。Δ90=..............................................................................(13)式中：Δ90——五棱镜光轴偏转角90°的偏差，单位为秒（"）；α1——五棱镜位于a位置时，自准直仪的示值，单位为秒（"α2——五棱镜位于d位置时，自准直仪的示值，单位为秒（"）。7.18寻像器的寻像性能按6.2的要求进行检验。7.19电气安全性能试验7.19.1耐压试验7.19.1.1试验工具具有耐压检测功能的测试仪，其测试电压AC/DC范围为(0～3)