(高清版)GBT 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减

GB/T5095.2503—2021/IEC基本试验规程及测量方法第25-3部分：试验25c:上升时间衰减Part25-3:Test25c:RisetimedegTestsandmeasurements—Part25-3:Test25c:Risetimedegradation,IDT)国家标准化管理委员会国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会IGB/T5095.2503—2021/IEC60512-25-3:2001 Ⅲ 11.1范围和目的 1 1 12.1设备 12.2装置 2 23.1说明 2 34.1插入法 34.2标准装置法 3 3 3 3附录A(规范性附录)装置和设备示意图 5附录B(资料性附录)实用指南 8Ⅲ——第25-9部分：信号完整性试验试验25i:外来串扰。本部分使用翻译法等同采用IEC60512-25-3:2001《电子设备用连接器试验和测量第25-3部1GB/T5095.2503—2021/IEC60512-25-3:2001样品插入传输通道时，达到理论上理想的(零上升时间)电压阶跃的上升时间增量(见图1)。采用的高斯信号从10%～90%的上升时间衰减的计算式见式(1):Tr.d=√(T₁)²—(Tr.m)² (1)电平的上升时间(见图1)。脉冲发生器和示波器、时域反射计(TDR)或具有测量系统上升时间小于或等于测量的上升时间70%的其他合适设备。23GB/T5095.2503—2021/IEC60512-25-3:2001除另行规定外，测量系统的上升时间应小于或等于有样品测量的上升时间的70%(见图1),建议使可能会影响测量结果的物体至少5cm处。试验的实用指南参见附录B。4.1.1测量通过无样品并具有滤波或归一化作用装置传输的输出信号上升时间并测定波形。此即是4.1.2测量通过有样品并具有滤波或归一化作用装置传输的输出信号上升时间并测定波形。此即为4.2.1测量通过无样品并具有滤波或归一化作用标准装置传输的输出信号上升时间并测定波形。此4.2.2测量通过有样品并具有滤波或归一化作用标准装置传输的输出信号上升时间并测定波形。此若为高斯信号并测量从10%～90%电平的上升时间，则上升时间衰减按式(2)计算：Tr,d=√(T₁)²-(Tr,m)² (2)Tr,d——上升时间衰减；T,-——测量的上升时间；若不是高斯信号并且测量的上升时间不是从10%～90%电平，则不能采用以上式(2)。在此情况5.5不同于10%～90%的上升时间电平。5.6方法A(单端),方法B(差分激励),或两者。4说明：注：计算0%和100%电平时，上冲峰突和下冲峰突可忽略不计。图1波形5GB/T5095.2503—2021/IEC60512-25-3(规范性附录)装置和设备示意图装置和设备的示意图见图A.1～图A.3。标准装置(无样品)样品装置(有样品)图A.1装置方法示意图6GB/T5095.2503—2021/IEC60512-25-3:2001Vb)R₁——电阻1;7GB/T5095.2503—2021/IEC60512-2Vo或b)或R₁——电阻1;R₂——电阻2;Zo——特性阻抗；Vo——源电压。最低损耗匹配器计算式为：R₂=Z₀/[1-(Z₀/100)]0.Z₀>100Ω时：8GB/T5095.2503—2021/IEC60512-25-3:2001合的几何条件(寄生性的)完全相同。除图A.1和图A.2中的构件外，还可能包括采用的传输线路。这些测量采用的大多数仪器都