(高清版)GBT 18910.203-2021 液晶显示器件 第20-3部分：目检 有源矩阵彩色液晶显示模块

2021-10-11发布国家标准化管理委员会I Ⅲ 1 1 14目检的方法和判据 5 54.1.1环境条件 54.1.2目检条件 64.1.3电驱动条件 6 64.2.1检查设备和液晶显示模块的设置 64.2.2检验员和限度样品 64.2.3检查结果记录 64.3判据 64.3.1亮子像素缺陷 64.3.2暗子像素缺陷 74.3.3中间态子像素缺陷 74.3.4聚集子像素缺陷 74.3.5亮线缺陷 74.3.6暗线缺陷 74.3.7划痕和凹痕缺陷 74.3.8异物和气泡缺陷 84.3.9漏光缺陷 8参考文献 9Ⅲ 本部分使用翻译法等同采用IEC61747-20-3:2016《液晶显示器件第20-3部分：目检有1GB/T18910.203—2021/IEC6第20-3部分：目检有源矩阵彩色液晶GB/T18910的本部分给出了用人眼对透射式有源矩阵彩色液晶显示模块进行目检的质量评定程GB/T18910.102—2021液晶显示器件第10-2部分：环境、耐久性和机械试验方法环境和耐久性(IEC61747-10-2:2014,ID任何出现在有效显示区域内的可观察到的异常现象。(分类见图1)2GB/T18910.203—2021/IEC6174小小暗子像素缺陷点大图1目检的缺陷分类子像素缺陷subpixeldefect最小像素单元出现与预期状态不同时的缺陷。亮子像素缺陷brightsubpixeldefect图2RGB三原色显示下亮子像素和相邻亮子像素缺陷示例3GB/T18910.203—20BB暗子像素缺陷darksubpixeldefect当显示亮态图像时，屏幕上呈现暗态的缺陷。图3RGB三原色显示下暗子像素和相邻暗子像素缺陷示例当显示亮态图像或暗态图像时，屏幕上呈现中间水平的子像素缺陷。4d<最小距离d<最小距离GB/T18910.203—2021/IEC61747在指定区域或指定距离范围内由不少于两个子像素的多个子像素缺陷聚集成簇的缺陷类型。d≤最小距离图4子像素缺陷最小距离示例线缺陷linedefect当显示暗态或亮态图像时，出现的水平或垂直方向的亮线或暗线。暗线缺陷darklinedefect划痕和凹痕缺陷scratchanddentdefect在有效显示区域内位于偏光片或其他光学元件上方或下方的缺陷。在较暗的背景下能被看见的大小不发生变化的亮(白)线。5GB/T18910.203—20边框漏光DUT:被测试器件(deviceundert目检应在GB/T18910.102—2021第4章规定的温度和湿度下进行。6GB/T18910.203—2021/IEC61747GB/T18910.203—20 应在相关规范中规定聚集子像素缺陷的最大值。并规定子像素缺陷之间的最小距离(图4中的d表1和图6给出了划痕和凹痕的判定标准，符号a和b表示偏光片缺陷的长轴和短轴。可以被清线型(a>2b)凹痕圆形(a≤2b)最小值≤平均直径，(a+b)/2[mm]≤最大值8GB/T18910.203—2021/IEC6174N(缺陷数):缺陷最大尺寸<max[a,b]N(缺陷数):缺陷最大尺寸<max[a,b][2]IEC61747-20-1Liquidcrystaldisplaydevi[3]IEC61747-20-2Liquidcrystaldisplaydevi[4]IEC61747-30-1Liquidcrystaldisplaydevices[5]ISO9241-307Ergonomics液晶显示器件第20-3部分：目检有源矩阵彩色液晶显示模块