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文档简介
代替YD/T1484.1-2016无线终端空间射频辐射功率和接收机性能ofwirelessdevice(报批稿)I前言 II 12规范性引用文件 13术语、定义和缩略语 13.1术语和定义 13.2缩略语 24试验条件 3 34.2全电波暗室坐标与定位系统 3 4.4混响室定位与模式搅拌系统 4.5混响室系统测量通用条件 5射频辐射功率测量 5.1功率测量设备 5.2功率测量通用条件 5.3全电波暗室系统功率测量通用方法 5.4混响室系统功率测量通用方法 6接收机性能测量 6.1接收机性能测量设备 6.3全电波暗室系统接收机性能通用测量方法 6.4混响室系统接收机性能通用测量方法 附录A(规范性)终端设备分类与测试状态规定 附录B(规范性)人头模型定义与要求 附录C(规范性)人手模型定义与要求 25附录D(规范性)人手模型使用方法 32附录E(资料性)系统校准 37附录F(规范性)测试系统不确定度分析 40附录G(资料性)频谱仪分辨率带宽因子的测算 45附录H(规范性)TIRP与TIRS计算方法 ——修订主机械模式定义(见4.1)——修订最小测试距离要求(见4.3.1)——增加宽手模型(见附录C.6.5);1第1部分:通用要求件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。确定人体内无线通信设备产生的峰值空间平均比吸收率(SAR)的推总全向辐射功率totalisotropicradiatedpower无线终端在空间三维球面上的射频辐射功率积分值,反映了无线终端在所有方向上总全向辐射灵敏度totalisotropicradiatedsensitivity无线终端在空间三维球面上的接收灵敏度积分值,反映了无线终端在所有方向上2接近水平面全向辐射灵敏度nearhorizonpartialisotro无线终端在上半球面范围内的接收灵敏度积分值,反映了无线终端在此夹角范围内3.2缩略语CS编码方案ERP耳参考点EUT受试设备EIS等效全向灵敏度RRCRRLPTIRPTIRS总全向辐射灵敏度34567图5人头模型坐标系统d)仅人手模型:按附录A中对EUT的分类,B类与C类EUT需要进行仅人手模型下的测试。本文件要求在右手模型、左手模型两种情况下分别进行测试。人手模型的定义和要求见附录C,人手模型的选择及使用方法见附录D。将EUT置于相应的人手模型里并偏离垂直面45°。在测试报告中,需详细给出所使用的人手模型的测试布置情况,并需有测试布置图片。图6为仅人手模型测试场景下的坐标系统示意图,其中,L线与显示屏垂直并穿过其中点,M线平行于显示屏水平轴,M线与L线相交于显示屏的中点。定义显示屏的中点为坐标原点,+Y轴沿M线指向无线终端右侧,+X轴指向显示屏上方,并在L线下方与其成45°角。+Z轴指向显示屏上方,并在L线上方与其成45°角。图6仅人手模型坐标系统e)笔记本类模型:笔记本电脑或平板电脑不需要便携移动使用,也不推荐直接放在膝上使用,因此EUT将在自由空间下测试。其种类按附录A中规定主要分为D类被测设备(如USB数据卡)和E类被测设备(如上网本和平板电脑)。按不同的EUT种类,定位系统分别规定如下:1)数据模块内嵌式终端:此类终端主要为包含内嵌式数据模块的笔记本与平板电脑等类型的终端。此类EUT应在空闲模式下测试并且采用如下设置,EUT制造商应提供说明如何将EUT设置为此状态:◆对于笔记本电脑,显示器LCD前端与水平底座夹角为110°±5°,或是厂家锁定的接近110°的位置;对于平板电脑以及Mi-Fi类终端,其显示器与XY平面平行;8在LCD表面。如图7所示。9◆一根USB延长线连接入笔记本地线面模型,长3m,且用1/4波长的磁环套入。此延图9笔记本地线面模式示意图最小测量距离选取原则为每个频段的三种传统远场条件中最严格的值,其所表示的测量距离需要大于R₂+2Dm²/λ(从静区边缘的相位不确定度限值)、3D(幅度不确定度限值)以及R₂+2λ(从静区边缘的感3GPP频段123GPP频段173GPP频段13频段5)频段4TX)3GPP频段25频段4TX)3GPP频段41典型笔记本电脑类EUT的最大几何尺寸较大,测试距离较短的暗室无法满足最小测量距离准则LTE700MHz(3GPP频段12,17,13,14)722MHz士1MHzCellular(3GPP频段5)836.5MHz士1MHz1575.42MHz士1MHzAWS-1TX(3GPP频段4TX)1732.5MHz士1MHz1880MHz士1MHzAWS-1RX(3GPP频段4RX)2132.5MHz士1MHz2450MHz士1MHz3300-3800MHz频段(3GPP频段n78)3600MHz士1MHz4400MHz-5000MHz频段(3GPP频段n79)4700MHz士1MHz仪)的输出频率,根据接收机(或网络分析仪)的测量范围设置信号源(或网络分析仪)的输f)在6个测试位置上,2个极化方向上分别重复步骤a)至步骤e)。仪)的输出频率,根据接收机(或网络分析仪)的测量范围设置信号源(或网络分析仪)的输·接收机的噪声电平。h)在7个测试位置上,2个极化方向上分别重复步骤a)至步骤e)。 ·用(0,+150mm,-150mm)和(0,-150mm,-150mm)两点的测量结果最大值代替(0,0,-150mm)的测试结果;●用(+150mm,0,-150mm)和(-150mm,0,-150mm)两点的测量结果最大值代替(0,0,-150mm)的测试结果;f)当θ轴或者φ轴的最小步进无法满足2°的测试间隔要求时,可以使用更大的、但不超过15°的测试间隔。当测试间隔大于2°时,在150mm静区内需要按下述顺序增加纹波测试点:1)计算所使用的测试角度间隔与2°的比值;2)将此比值进位约为整数;3)用150mm除以此整数,并将结果四舍五入到其最接近的5mm的整数倍数值上;4)从静区中心开始,按照上一步骤中计算结果为步长,沿各个坐标轴移动选定各个测试点,最外侧测试点距离静区中心必须为150mm。g)当θ轴或者φ轴的最小步进无法满足2°的测试间隔要求时,可以使用更大的、但不超过15°的测试间隔。当测试间隔大于2°时,在150mm静区外需要按下述顺序增加纹波测试点:1)计算所使用的测试角度间隔与2°的比值;2)将此比值进位约为整数;3)将此整数乘以0.4;4)将上一步骤中计算结果进位约为整数;5)用100mm除以此整数,并将结果四舍五入到其最接近的5mm的整数倍数值上;6)从各个坐标轴上150mm开始,以上一步骤中计算结果为步长,沿各个坐标轴向静区外侧方向移动选定各个测试点,在X轴与Y轴上最后一个测试点距离静区中心必须为250mm,在+Z轴上最后一个测试点距离静区中心必须为210mm。4.3.3.6纹波测试结果的修正在纹波测试中,在不同测试点上随着θ轴或者φ轴的旋转,测量天线与参考天线(环天线或偶极子天线)的间距随之变化,因此需要考虑到电磁波在不同距离上的传输损耗不同,而对测试结果进行相应修正。修正过程中仅考虑测量天线与参考天线在水平面内投影的间距,不考虑二者在垂直维度上的位置变化对测试结果的影响。修正步骤如下:a)定义测量天线与参考天线旋转轴之间水平面内间距为1;b)定义参考天线旋转半径为r;c)定义参考天线与测量天线最接近的方位角为0°,而二者距离最远时的方位为180°,以此为基础定义参考天线的方位角为α;d)根据余弦定理,计算测量天线与参考天线在水平面内投影的间距为:e)按照下式对测试结果进行修正:4.3.4测试系统配置4.3.4.1自由空间场景配置由于组合轴和分布轴两种测试系统配置定义的暗室轴不同,所以它们在自由空间的测试配置上稍有差异。图14是自由空间组合轴典型测试配置。为了完成整个球面扫描,无线终端不仅要绕θ轴旋转,还需要绕φ轴旋转;图15为自由空间分布轴典型测试配置,θ轴和φ轴通过暗室中相互独立的定位器分别进行旋转。H坡大器V图14自由空间下组合轴全电波暗室系统典型配置此大器V就大器图15自由空间下分布轴全电波暗室系统典型配置4.3.4.2仅人头模型仅人头模型测试配置实质上与自由空间配置相同,只是此时旋转轴中心为人头模型中心。4.3.4.3人头和人手模型人头和人手模型测试配置实质上与自由空间配置相同,只是此时旋转轴中心为人头模型中心。4.3.4.4仅人手模型仅人手模型测试配置实质上与自由空间配置相同,只是此时旋转轴中心为无线终端屏幕中心位置。4.3.5不确定度全电波暗室测量系统在进行本标准所要求的所有测试时,其综合扩展不确定度详见附录F.1与F.2测试系统不确定度分析。4.4混响室定位与模式搅拌系统用于进行本文件所要求测试的混响室应配置有模式搅拌系统,通过模式搅拌使系统可以获得足够多的统计独立测量结果从而提高对TIRP和TIRS的测量精度。可能的模式搅拌系统包括但不限于转台搅拌、极化搅拌以及基于不同形状搅拌件的机械搅拌。如果测试类型允许对结果进行频域平均,则系统还可以使用频率搅拌方法,不过在混响室足够大且已经有良好搅拌的情况下,通常没有必要使用频率搅拌。使用混响室系统对EUT进行测量时,需要根据EUT类型,在自由空间、人头和人手模型等不同场景下进行测试。EUT种类与所对应的测试场景要求与全电波暗室系统中的相关规定一致,见本文件4.2.2以及在针对A、B、C类EUT进行头手模型场景的测试时,EUT在头手模型上的摆放方法、摆放位置以及对人手模型的选择与全电波暗室系统中的相关规定一致,见本文件4.2.2以及附录B、C、D。在针对D、E类EUT进行测试时,对笔记本类EUT的配置,以及笔记本地线面模型的相关要求与全电波暗室系统中相关规定一致,见本文件4.2.2。在进行自由空间场景下的测试时,EUT在混响室内的摆放应保证测试过程中可以获得足够多的统计独立测量结果。例如对于采用转台搅拌的混响室,EUT应尽可能放置于转台边缘。另外,EUT和混响室内部各部件之间应保持足够的距离,表3中对此给出了推荐的最小距离。表3混响室系统中EUT与混响室各部件间推荐最小距离电磁反射物(校准天线、测量天线、搅拌器、金属腔体墙面等)吸波材料在进行头手模型下的测试时,应将EUT与头手模型统一视为被测物,被测物在混响室中的摆放要求与自由空间场景下的要求相同。对于使用笔记本地线面模型的EUT,在测试过程中,用于为EUT提供电源并控制EUT工作状态的真实笔记本电脑可以放置于混响室地板上,为防止笔记本电脑对测试结果可能的影响,笔记本电脑应使用吸波材料进行包裹。在保证笔记本电脑与EUT有可靠连接、并且连接接口不会影响测试结果的前提下,笔记本电脑也可放置于混响室外部。4.5混响室系统测量通用条件4.5.1混响室尺寸与特性混响室的尺寸应足够大,以保证在最低所需测试频率上仍能提供足够多的模数。如果在测试过程中,EUT在混响室内进行移动,则混响室所需尺寸可以减小。混响室内可以放置电磁有损材料,从而在一定程度上控制其功率延迟分布特性,但是放置有损材料不应当破坏混响室模式统计特性。如果混响室中布置了有损材料,则要求其在校准和测试过程中,有损材料的布置必须完全一致。人头以及人手模型也被视为有损材料。BS_DL_Pwrx=EISpeak+△Ref-TIRs+3低信道区间最低信道(最低信道十中间信道)/2最低信道最佳灵敏度点的空间中信道区间(最低信道+中间信道)/2(中间信道十最高信道)/2中间信道最佳灵敏度点的空间高信道区间(中间信道十最高信道)/2最高信道最高信道最佳灵敏度点的空间其手持无线终端包含仅支持语音功能的无线模块。自由空间,人头和人手模型其手持无线终端包含仅支持数据功能的无线模块。自由空间,仅人手模型其手持无线终端包含支持语音和数据功能的无线自由空间,人头和人手模型,仅人手模型工作。其统一体视为被测设备。自由空间(笔记本地线面模型)支持语音或数据的内自由空间注1:测试状态对应的主机械模式参照4.1章节总则部分的规定。——蔗糖(糖)(纯度大于98%)——氯化钠(食盐)(纯度大于99%)——二甘醇丁醚(DGBE)(纯度大于99%)频率/MHz电导率o/S/m(规范性)人手模型定义与要求C.1物理尺寸参考相关人体测量学的研究成果,对标准手模型的尺寸定义如表C.1,其中人手模型中各部位所对应名称见图应名称见图C.1。人手张开时尺寸示意图见图C.2。远节指骨V指骨中节指骨近节指骨I远节指骨近节指骨指骨尺骨图C.1人手各部分名称尺寸/mm尺寸/mm中节指骨长度掌骨长度DIP圆周手腕圆周PIP圆周手长度(从手腕中心到手指III的指尖)手圆周手掌长度(中心皱纹到末梢手掌皱纹)中节指骨长度掌骨长度掌骨长度DIP圆周PIP圆周DIP圆周中节指骨长度中节指骨长度掌骨长度掌骨长度DIP圆周PIP圆周DIP圆周PIP圆周人手模型的电介质特性需满足表C.2的要求,表中未给出的其它频点的电介质特性可以通过线性插C.3人手标识宽度长度宽度长度无要求宽度厚度无要求宽度厚度无要求无要求宽度厚度对于尺寸或外观不在本标准规定内的EUT,可选择任一种适合的人手模型进行测试,该模型需满足人手模型选择人手模型选择模式使用相同的手模型)手模型人手间隔装置可以是中空的也可以是实心的。中空时要求墙壁厚度小于2mm,介电常数小于5,损耗角正切小于0.05。实心时要求介电常数小于1.3,损耗角正切小于0.003。该装置应有一个凹槽,可以与双面粘贴材料结合使用,以更好地固定EUT。图D.2测量工具1无名指与小拇指不图D.3直板机手模型使用示意图D.2.3翻盖机手模型该手机模型应与测量工具2配合使用,如图D.4所示。测量工具2有两个突起部位,可以将EUT悬空置于上面。该工具侧面有一条标记线,用于定位翻盖手机折叠部位。针对不同EUT,其打开角度不同,测量EUT底部的刻度尺分为高低不同的两个刻度尺,以减小视差。使用方法如下:a)将EUT正面朝上置于测量工具2中,其折叠部分置于两个突起之间。EUT的侧面紧贴测量工具的侧壁。EUT的下翻盖置于较宽的突起上,EUT的上翻盖置于较窄的突起上;b)如果是翻盖机,纵向移动EUT直到其旋转轴与测量工具侧壁上的标记线一致,同时要求EUT不能离开任何一个突起。如果是打开状态的滑盖机或者旋转机,纵向移动EUT直到其底部与较窄的突起相接触;确保所有的指尖都与EUT相接触;然后通过双面粘贴材料将EUT固定在间隔装置上,如图D.5所与侧面标记线与侧面标记线刻度尺上读差(人手间隔装置)图D.4测量工具2AA数与步骤3相材料结合使c)测量EUT的长度为A,若A<135mm,定位EUT的顶部与间隔装置的顶部一致。若A≥135mm,图D.6PDA手模型间隔装置紧贴间隔装置底壁侧壁紧贴侧壁紧贴b)D.2.5宽手模型触面保持贴紧,如图D.8所示D.3仅人手模型(数据模式)a)将EUT定位在测量工具1中;b)记录EUT底部的读数A;c)记录导航键(如果没有导航键,则用数字2键取代)在侧面刻度尺上的读数B。键的中心点作为参考点,如图D.8所示;f)EUT底端在间隔装置上的读数等于C;如图D.9所示。图D.9使用较窄数据手模型时对EUT的测量D.3.4宽手模型使用说明c)断开线缆1与偶极子天线的连接,断开线缆2与B点的连接,并将线缆1和线缆2连接起来,A1B图E.3全电波暗室系统路径校准示意图(线缆部分)d)计算系统在该频点和极化方向上的路径损耗为:PL=L₁-L₂-GPL——全电波暗室系统路径损耗,单位为dB;e)在所有TIRP和TIRS的测量频点上、在两个极化方向上重复上述步骤,得到所有测试频段和极E.2混响室的系统校准E.2.1校准配置和步骤线的电缆路径损耗。推荐使用网络分析仪进行系统校准,推荐一般地,混响室的校准采用如下步骤,图E.4中给出了混响室系统校准的典型连接示意图。a)针对一个完整的搅拌序列测量混响室的S参数;图E.4混响室系统校准示意图E.2.2混响室S参数的测量向天线,一般0.5个波长的距离是足够的;更具方向性的天线建议朝向混响室中心。除了校准c)使用网络分析仪扫频测量频段内各个频点上校准天线与测量天线之间的矢量S参数。d)针对搅拌序列中每一个搅拌位置和每一个测量天线重复步骤c),测量其相应的S参数。搅拌序列中搅拌位置数应足够大以降低测量不确定度,搅拌位置数一般不应低于100个,建议使用200到400个。搅拌器的移动可以是步进式的(网络分析仪测量时停下搅拌器)或是连续式的(在搅拌器行进中进行测量),但是在连续采样方式下,难以对较宽频段范围同时进行S参数测量。E.2.3混响室参考传递函数的计算M——每个测量天线上测试采样点数(即搅拌序列中搅拌位置数);E.2.4线缆校准接收端失配:(即接收设备和测量天线间失配)测量天线电缆因子:测量天线电缆对测试的影响插入损耗:测量天线端衰减器(若存在)天线:测量天线增益静区内纹波对测量结果的影响测试中环境温度影响头手模型的不确定度头手模型固定装置的不确定度随机不确定度笔记本电脑测量的不确定度发送端失配:(即信号源与校准参考天线间失配)接收端失配:(即接收设备和测量天线间失配)校准参考天线电缆因子:校准参考天线电缆对测试的影响测量天线电缆因子:测量天线电缆对测试的影响插入损耗:校准参考天线端衰减器(若存在)插入损耗:测量天线端衰减器(若存在)静区内纹波对测量结果的影响天线:校准参考天线增益天线:测量天线增益发送端失配(即基站模拟器与测量天线间失配)测量天线电缆因子:测量天线电缆对测试的影响插入损耗:测量天线端衰减器(若存在)灵敏度搜索步长对测量结果的影响测试中环境温度影响静区内纹波对测量结果的影响天线:测量天线增益头手模型的不确定度头手模型固定装置的不确定度空间网格粗略取点对测试结果的影响表F.2全电波暗室TIRS测试系统不确定度因素(续)随机不确定度笔记本电脑测量的不确定度发送端失配:(即信号源与校准参考天线间失配)接收端失配:(即接收设备和测量天线间失配)校准参考天线电缆因子:校准参考天线电缆对测试的影响测量天线电缆因子:测量天线电缆对测试的影响插入损耗:校准参考天线端衰减器(若存在)插入损耗:测量天线端衰减器(若存在)静区内纹波对测量结果的影响天线:校准参考天线增益天线:测量天线增益析,如表F.3所示。要求测试系统的总扩展不确定度除人头加人手状态外在各个测试状态下均小于2.0dB,对于人头加人手手状态下其总扩展不确定度小于2.4dB。表F.3混响室TIRP测试系统不确接收端失配:(即接收设备和测量天线间失配)测量天线电缆因子:测量天线电缆对测试的影响头手模型的不确定度随机不确定度笔记本电脑测量的不确定度表F.3混响室TIRP测试系统不确定度因素(续)接收端失配:(即接收设备和测量天线间失配)发送端失配:(即信号源与校准参考天线间失配)校准参考天线电缆因子:校准参考天线电缆对测试的影响测量天线电缆因子:测量天线电缆对测试的影响天线:校准参考天线增益天线:测量天线增益F.4混响室TIRS测试系统的不确定度分析进行TIRS测试时,参考3GPPTS34.114的技术要求,整个测量系统不确定度主要从以下方面进行分析,如表F.4所示。要求测试系统的总扩展不确定度除人头加人手状态外在各个测试状态下均小于2.25
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