GB∕ T 17626.39-2023 电磁兼容 试验和测量技术 第39部分：近距离辐射场抗扰度试验（正式版）

GB/T17626.39—2023/IEC电磁兼容试验和测量技术第39部分：近距离辐射场抗扰度试验Part39:Radiatedfieldsincloseproximityimmuni国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会I Ⅲ V 1 13术语、定义和缩略语 1 13.2缩略语 3 3 45.1概述 4 45.39kHz～150kHz频率范围内的试验等级 55.4150kHz～26MHz 65.526MHz～380MHz频率范围内 7 7 86.1磁场抗扰度 86.1.1通则 8 8 96.2射频辐射场抗扰度 7试验布置 7.1磁场抗扰度 7.1.1试验设施 7.1.2EUT的布置 7.1.3使用辐射环的试验方法 7.2射频辐射场抗扰度 7.2.1试验设施 7.2.2EUT的布置 8试验程序 8.1通则 Ⅱ8.2气候条件 8.3电磁环境 8.4EUT的布置和运行模式 8.5磁场抗扰度 8.5.3试验实施 8.6射频辐射场抗扰度 8.6.1电平设定程序 8.6.2试验实施 9试验结果评价 20 A.1概述 21A.2频率范围 21 A.4场分布 23附录B(资料性)试验频率、等级和调制 B.1概述 25 25附录C(资料性)现场试验 27C.2试验程序 C.3试验报告 27 28Ⅲ电磁兼容试验和测量技术第3部分：射频电磁场辐射抗扰度电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群电磁兼容试验和测量技术第11部分：电磁兼容试验和测量技术第12部分：振铃波抗扰度试验；电磁兼容试验和测量技术闪烁仪功能和设计规范；电磁兼容试验和测量技术0Hz～150kHz共模传导骚扰抗扰度电磁兼容试验和测量技术直流电源输入端口纹波抗扰度试验； 电磁兼容试验和测量技术横电磁波(TEM)波导中的发射和抗扰电磁兼容试验和测量技术全电波暗室中的辐射发射和抗扰度电磁兼容试验和测量技术HEMP传导骚扰保护装置的试验电磁兼容试验和测量技术三相电压不平衡抗扰度试验；—GB/Z17626.33—2023电磁兼容试验和测量技术第33部分：高功率瞬态参数测量方法；——GB/T17626.39—2023电磁兼容试验和测量技术第39部分：近距离辐射场抗扰度V V -—第32部分：高空核电磁脉冲(HEMP)模拟器概述。目的在于提供国际上现有的系统级 ——第35部分：高功率电磁(HPEM)模拟器概述。目的在于提供国际上现有的系统级HPEM窄——第36部分：设备和系统的有意电磁干扰抗扰度试验方法。目的在于为评估——第38部分：电压波动和闪烁合规测试系统的测试、验证和校准协议。目的 ——第40部分：调制或失真信号功率的数字测量方法。目的在于介绍两种适用1本文件规定了电气和电子设备暴露在近距离使用的射频(RF)发射机的辐射电磁能量下的抗扰度本文件旨在建立一个通用的基准，以评估暴露于近距离辐射源的射频电抗扰度要求。本文件并不取代IEC61000-4-3和IEC61000的其他部分规定的电气电子设备对辐射电200mm,频率低于26MHz时距离不本文件的试验方法描述了评估设备或系统在各自的频率范围内对特定现本文件涉及与RF磁场和电磁场相关的抗扰度试验，这些电磁场来自于任何靠近其他电气电子设本文件为独立的试验方法。当宣称符合本文件时，不宜采用其他试验方法来代替本文件提出的2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不IEC60050-161国际电工词汇(IEV)第161章：电磁兼容[InternationalElulary(IEV)—Chapter161:Elect2设备或系统在其电磁环境中能正常工作且不对该环境中任何事物构成不能承受的电磁骚扰的场强fieldstrength3近场nearfield极化polarisationAM:幅度调制(AmplitudeModulation)CDMA:码分多址(CodeDivisionMultiplDECT:数字增强无绳通信(DigitalFM:频率调制(FrequencyModulation)GSM:全球移动通信系统(GlobalSystemforMobileCoLTE:长期演进(LongTermEvolution)RFID:射频识别(Radio-frequencyIdentification)TEM:横电磁波(TransverseElectromagnetic)TETRA:泛欧集群无线电(Trans-EuropeanTrunkedRadio)WLAN:无线局域网(WirelessLocalAreaNEUT对于来自射频发射机骚扰的抗扰度能用几种不同的方式试验，包括那些在IEC61000-4-3、射频场(频率高于26MHz)中发射机与设备之间的间隔距离不大于200mm,磁场(频率低于26MHz)中的间隔距离不大于500mm。已考虑暴露于便携式发射装置的固定安装设备、暴露于固定发射装置4TEM波导本文件考虑的电磁骚扰仅限于连续窄带信号(如高达1kHz的脉冲调制或AM),但不包括本质上试验中施加的试验等级宜根据发射装置的预期最大输出功率以及其发射天骚扰影响的设备之间可能的或规定的间隔距离来选择。附加信息见附录B。不要求在本文件涵盖的整个频率范围内连续进行试验。相反，应根5a)低于26MHz的频段，频率步进用线性步进规定(见8.5.3的表5)。b)26MHz以上，频率步进规定为当前频率的1%,除非试验在特定无线传输频段进行。d)如果试验在特定无线传输频段进行，选择所选频段的中心频率作为频率步进的起始点。然后以当前频率1%的步进在高于中心频率的频点上进行试验。试验同样以当前频率-1%的步9kHz～150kHz频率范围内的不均匀磁场的试验等级由表1给出。112334X注：X为开放等级，其场强为任意值。该等级由产品标准给表1给出的试验等级是用于电平设置的未调制载波信号的幅值。对设备试验时，该载波信号用1kHz的正弦波进行80%的AM,以模拟真实的骚扰源(见图3和B.2)。图3中，Vp-p为峰峰值电6信号发生器输出产生的80%幅度调制(AM)试验电平和波形的定义MHz频率范围内的试验等级MHz频率范围内的不均匀磁场的试验等级由表2给出。表2不均匀磁场试验等级，150kHz～26MHz123143X附录B旨在为试验等级的选择提供指导(另见5.1的最后一段)。表2给出的试验等级是用于电平设置的未调制载波信号的幅值。对设备试验时，该载波信号进行了脉冲调制(见图4和B.2)。脉冲调制应遵循以下参数。71234X注：X为开放等级，其场强为任意值。该等级由产品标准给出。8Vp-p=2.82VVp-Vms=1.00V-—磁场传感器线圈(或69H=75.6×I(A/m)(等于9.5×10⁷pT/A,如RS101试验所述)单位为毫米注：100mm×100mm窗口示例，图中给出了最低试验位置，侧视图。单位为毫米80士580士5注：80mm×80mm窗口示例，图中给出了最低试验位置，侧视图。 落地式EUT宜放置于高度为(100±50)mm的支撑物上。不导电、低介电常数的滚轮可用作频率范围(120mm环天线)(100mm环天线)落地式EUT宜放置于高度为(100±50)mm的不导电支撑物上(见图7)。不导电滚轮可用作天线放置在距离EUT暴露面(100±5)mm的位置。对于表面不平整的EUT,调节每个窗口的试TEM喇叭天线试验应根据试验计划实施。对于每次实施骚扰的每个试验频率点，监控EUT的响应。评估与试8.2气候条件除非负责制定通用标准和产品标准的专业标准化技术委员会另有规定，试验室气候条件应在当有足够证据证明本文件所涵盖现象的影响所有设备的试验宜在尽可能接近实际安装条件的配置下进行。布线应符合 试验是通过将EUT暴露于基于表1(见5.3和5.4)中规定的等级的试验信号中来实施的。试验布置如图9所示。当设备按照8.3所确定的模式运行时，依据频率范围将辐射环放置于距离设备上测试点(见图9)(50±3)mm处的测试距离d处。调节辐射环的平面与设备面平行。根据所进行的验证(见8.5.1和试验没有规定要在整个频率范围内连续进行。具体的试验频率可由产品委员会选择，或可选择表5中给出的频率。信号源和辐射环。在频率范围内从低到高进行扫描，频率步进如表5所规定。在每个频率步进频点的每个试验频率上可能需要额外的驻留时间，以使EUT可在适当的工作模式下运行。驻留时间应记录频率范围将正常使用时会受到磁场照射的设备表面暴露在外。在可行的情况下，宜对台a)设备外部固定机械屏障的表面，该屏障用以防止磁场源被置于距设备表面小于0.25m的位c)在固定安装或按照说明书使用后，不再能被便携式射频发射机近距离接触到的设备的点和表d)由均匀铁氧磁性材料(厚度>0.25mm)构成的一整块表面，其中每块材料在其两个相关尺寸上都超过环直径的150%;e)仅在服务或维护过程中才会暴露在近距离使用的便携式发射装置产生的电磁场中的EUT的a)将场强探头放入电波暗室内位于沿TEM喇叭天线中心轴线距离其前沿(100±5)mm的位置上(见图11)。b)将信号发生器的频率设置为试验范围的最低频率(如380c)调节前向功率以产生一个目标试验电平(如100V/m)。记录前向功率和场强的读值。d)在当前频率的基础上最大增加1%的频率。e)重复步骤c)和d)直到序列内的下一个频率将超过试验范围内的最高频率。最后，在该最高频率处(如6GHz)重复步骤c)。f)在最高频率处，打开试验信号的调制，并验证试验信号的调制是否正确(见5.3的图3和5.6的图4)。使用300mm×300mm场均匀性窗口尺寸的TEM喇叭天线的试验示例如图10所示。在本例单位为毫米I十图10使用300mm×300mm窗口尺寸的均匀区域的试验布置图示例使用第5章定义的调制信号在选定的频率范围内进行扫描。在频率范围内从低到高进行扫描，频率步进如5.2中的规定。驻留时间取决于EUT的反应时间，并应足够长，使EUT能够充分响应试验信号。最小驻留时间为1s。每个试验频率应至少施加两个完整调制周期的骚扰试验信号。每个试验频率上可能需要额外的驻留时间，以允许EUT在适当的工作模式下运行。驻留时间应记录在试验报告中。在正常运行模式下，对可能会受到来自于在近距离使用的便携式发射装置的电磁场照射的设备的所有表面都应进行试验。对于台式和便携式设备，若可行，宜对所有表面进行试验。对于落地式设除非通用标准、产品标准或产品类标准另有说明，否则仅对EUT中可视为电磁场输入端口的点和表面进行电磁照射。下列区域不要求试验：a)带有外部固定机械屏障的EUT表面，防止电磁场源被置于距EUT设备表面小于0.25m的位置上；b)防止骚扰源靠近而构造的EUT表面，距EUT设备内部有源元器件(传感器、电缆、PCB等)小于0.25m(如塑料外壳后面有空间或仅覆盖无源机械结构);c)在固定安装或按照说明书使用后，不再能被便携式射频发射机近距离接触到的设备的点和表面(如设备或区域的底部和/或靠墙的部分);d)用均匀金属材料(厚度>0.25mm)构成的一整块表面，其尺寸超过TEM喇叭天线均匀区域的150%;EUT的所有表面应划分成多个窗口。每个窗口的物理尺寸根据附录A确定。每个窗口应使用TEM喇叭天线在水平和垂直方向(见图12)上照射。TEM喇叭天线与EUT表装置接近的最关键位置。这种特殊情况应记录在试验报告中。对于附加电缆靠近受试EUT表面的情TEM喇叭天线有网格的EUT表面图12TEM喇叭天线极化方向示例9试验结果评价试验结果应依据EUT的功能丧失或性能降低现象来分类，相关的性能等级由EUT制造商或试验制造商的技术规范可规定一些对EUT产生的影响但被认为是不重要的因而是可接受的效应。b)本文件第8章要求的试验计划中规定的内容；i)判定试验合格/不合格的理由(根据通用标准、产品标准或产品类标准中规定的性能判据或制造商和采购方达成的协议);n)试验应用的频率范围；r)环天线和TEM喇叭天线相对于EUT的位置；s)所采用的性能判据。f)TEM喇叭天线的可用均匀场区域定义为所有相邻的探头位置在步骤b)～d)记录的最大场强的0dB～4dB的区域。图A.3给出了TEM喇叭天线的场均匀性图的示例。TEM喇叭TEM喇叭功率信号功率图A.1场均匀性验证布置的示例单位为毫米(单轴)图A.2场均匀性测量布置注：对于这种天线，在100mm×100mm的区域内场强变化小于0.5dB。图A.3口径为205mm×205mm的TEM喇叭天线在1.5GHz的场均匀性(仿真)示例TEM喇叭天线的总体设计原理如图A.4所示。同轴网络(如需要)同轴网络(如需要)图A.4TEM喇叭天线的总体设计原理示例(资料性)试验等级的选择是根据EUT和电缆在正常安装环境下可能被照射的电磁环境而定的。在选择使用的试验等级时，宜考虑不通过的后果。如果试验不通过的危害很大，可能需要选择更严酷的试验在9kHz～26MHz频率范围-—磁悬浮轨道系统：在9kHz～26MHz频率范围内运行的业务信息见IECTR61000-2-5:2011。这些骚扰源是IEC61000-4-3:2006的附录G、ISO11451-3和ISO11452-9:2012的附录A标明调制Wm工业、科学和医疗(ISM)AM,FM,脉冲脉冲调制通用移动无线电业务(GMRS)460,民用无线电业务(FRS)4602表B.1特定射频无线通信设备的试验等级指南(续)调制Wm脉冲调制集成数字增强型网络(iDEN)820,LTE频段5脉冲调制2LTE频段21脉冲调制2LTE频段1.3,4,25;通用移动通信系统(UMTS)脉冲调制2蓝牙，WLAN,LTE频段7脉冲调制2脉冲调制作为FM调制的替代方案，可使用在18Hz的50%脉冲调制。虽然它不代表实际的公式(B.1)中固有的假设并不适用于包括近场或高增益天线的所有条件。确定近场和远场场强的更多详细信息见IECTR61000-2-5:2011的附录B。(资料性)C.3试验报告[2]GB/T14733.10—2008电信术语天线(IEC60050-712:1992,IDT)[3]ISO11451-3Roadvehibandradiatedelectromagneticenergy—Part3:On-boardtrans[4]ISO11452-8:2015Roadvehicles—[5]ISO11452-9:2012Roadvehiclefromnarrowbandradiatedelectromagneticenergy—Part9:Portablet[7]IECTR61000-2-5:2011ElectromagneticDescriptionandclassificationofelec[8]IEC61000-4-3:2006Electromagneticcompatibility(EMCurementtechniques—Radiated,radio-frequency,elect[9]IEC61000-4-3:2006/AMD1:20Testingandmeasurementtechniques—Radiated,radio-frequency,electromagneticfie[10]IEC61000-4-3/AMD2:2010Electromagandmeasurementtechniques—Radiated,radio-frequency,electromagneticfieldimmunitytest[11]IEC61000-4-2