(高清版)GB∕T 23901.2-2019 无损检测 射线照相检测图像质量 第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定

ICS19.100GB/T23901.2—2019/ISO19232-2:2013代替GB/T23901.2—2009无损检测射线照相检测图像质量第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定Part2:Determinationoftheimagequalityvalueusingstep/hole-typeimagequalityindicators国家市场监督管理总局中国国家标准化管理委员会IGB/T23901.2—2019/ISO19232-2:2013 Ⅲ 12规范性引用文件 1 14阶梯孔型像质计规范 15像质计的使用 46像质值的确定 5ⅢGB/T23901.2—2019/ISO19232-2:2013GB/T23901《无损检测射线照相检测图像质量》分为5个部分：——第1部分：丝型像质计像质值的测定；——第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定；——第3部分：像质分类；——第4部分：像质值和像质表的实验评价；——第5部分：双丝型像质计图像不清晰度的测定。本部分为GB/T23901的第2部分。本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本部分代替GB/T23901.2—2009《无损检测射线照相底片像质第2部分：阶梯孔型像质计——修改了规范性引用文件(见第2章，2009年版的第2章);——修改了术语和定义(见第3章，2009年版的第3章);本部分使用翻译法等同采用ISO19232-2:2013《无损检测射线照相检测图像质量第2部分：阶与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下：——GB/T19802—2005无损检测工业射线照相观片灯最低要求(ISO5580:1985,IDT)——GB/T23901.4—2019无损检测射线照相检测图像质量第4部分：像质值和像质表的实验评价(ISO19232-4:2013,IDT) -GB/T27050.1—2006合格评定供方的符合性声明第1部分：通用要求(ISO/IEC17050-1:2004,IDT)本部分由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)提出并归口。本部分所代替标准的历次版本发布情况为：——GB/T23901.2—2009。1GB/T23901.2—2019/ISO19232-2:2013无损检测射线照相检测图像质量第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定ISO5580无损检测工业射线照相观片灯最低要求(Non-destructivetesting—Industrialradi-ographicilluminators—Minimumrequirements)ISO/IEC17050-1合格评定供应商的合格评定第1部分：总则(Conformityassessment—Supplier'sdeclarationofconformity—Part1:Generalrequirements)ISO19232-4无损检测射线照相检测图像质量第4部分：像质值和像质表的实验评价(Non-destructivetesting—Imagequalityofradiographs—Part4:Experimentalevaluationofimagequalityvaluesandimagequalitytables)3.1像质3.23.3像质计系列由18块不同厚度及直径的阶梯和孔组成，具有相应的公差和对应的孔编号，见表1。2GB/T23901.2—2019/ISO19232-2:2013这些阶梯和孔又被分成范围重叠的四组，每组由6种连续编号的孔组成，即H1～H6、H5～H10、H9~h——对于像质计H1、H5和H9,h=10mm;对于像质计H13,h=15mm;l——对于像质计H1,L=5mm;对于像质计H5和H9,l=7mm;对于像质计H13,L=15mm。像质计标记区域。厚度小于0.8mm的阶梯应含有两个相同直径的孔。厚度大于或等于0.8mm的阶梯应含有一个孔，孔中心距阶梯的边缘，或者距阶梯上第二个孔的边缘，其最带有“ISO19232-2”或“EN462-2”的像质计与带有“GB/T23901.2”的像质计等同使用。像质计范围孔和阶梯孔编号标称孔径和阶梯厚度极限偏差×0X××3GB/T23901.2—2019/ISO19232-2:2013表1(续)单位为毫米像质计范围孔和阶梯孔编号标称孔径和阶梯厚度极限偏差××十0.0150××××0×××××0×××十0.0300十0.0360当合同双方达成一致时，这些编号可作为特别应用。4.2像质计材料的像质计种类和材料。像质计标记孔编号像质计材料适用被检材料H1～H6铜铜、锌、锡及其合金H5～H10H9～H14H13CUH13～H18H1～H6铁(低合金)铁素体材料H5～H10H9～H14H13～H184GB/T23901.2—2019/ISO19232-2:2013表2(续)像质计标记孔编号像质计材料适用被检材料H1～H6钛钛及其合金H5～H10H9～H14H13～H18H1～H6铝铝及其合金H5～H10H9～H14H13ALH13～H18像质计标记区域(见图1)应包含以下信息：a)放在最小孔附近的孔编号；带有“ISO”或“EN”的像质计与带有“GB”的像质计等同使用。标记材料不应在射线照相检测图像产生可能影响图像评定的眩光，其衰减不宜超过最大厚度阶梯每个像质计都应附有一份符合ISO/IEC17050-1或由具有资格的实验室颁发的并符合本部分技术5像质计的使用应根据被检材料和厚度及需要达到的像质值选用像质计。当缺少同材质像质计时，可采用原子序数低的材质定制像质计代替。其他未列出的情况按ISO19232-4选用。5.2像质计的放置放置铅字“F”以示区别。像质计应放置在工件厚度相对均匀的区域。有特殊要求时应按所采用标准的规定进行。GB/T23901.2—2019/ISO19232-2:20136像质值的确定使用胶片射线照相检测，在确定像质值时，观片条件应符合ISO5580的要求。在图像上能识别的最小孔的编号即为像质值。当同一阶梯上含有两个孔时，则两个孔均应在透照相似的被检工件和区域时，如果采用相同的曝光和处理技术措施能保证并且所得的像质值