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文档简介

可靠性测试,,,,,

序号,测试模块,测试项,测试条件,测试标准,测试数量

1,环境适应性,高温试验,"1.高温贮存：+85℃

贮存时间：24H

2.工作温度：+65℃

工作时间：12H","1、GB/T2423.2-2008GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温

2、GB/T2423.22-2012环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化",

2,,低温试验,"1.低温贮存：-55℃

贮存时间：24H

2.工作温度：-40℃

工作时间：12H","1、GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验A低温

2、GB/T2423.22-2012环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化

",

3,,湿热试验,,"1、GB/T2423.3-2006环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验

2、GB/T2423.4-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Db：交变湿热(12h＋12h循环)",

4,,盐雾试验,,GB/T2423.17-2008GB/T2423.17-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ka：盐雾,

5,,振动试验,,GB/T2423.10-2008GB/T2423.10-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fc:振动(正弦),

6,,冲击试验,,GB/T2423.5-1995电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ea和导则:冲击,

7,EMC测试,浪涌抗扰性测试,"

",GB/T17626.5-2008GB/T17626.5-2008电磁兼容试验和测量技术浪涌(冲击)抗扰度试验,

8,,静电抗扰性测试,,GB/T17626.2-2006GB/T17626.2-2006电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验,

9,,射频辐射抗扰性,,GB/T17626.3-2006GB/T17626.3-2006电磁兼容试

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